[發明專利]對在FPGA塊內分組創建加速的測試儀

在審

• 申請號: 201380074042.3
• 申請日: 2013-12-18
• 公開（公告）號: CN105008943A
• 公開（公告）日: 2015-10-28
• 發明（設計）人: 約翰·費迪尼
• 申請（專利權）人: 愛德萬測試公司
• 主分類號: G01R31/317
• 分類號: G01R31/317
• 代理公司: 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258
• 代理人: 李曉冬

相關申請的交叉引用

相關申請

本申請涉及第13/773，555號美國專利申請，其申請日為2013年2月21日，名稱為“A?TESTER?WITH?ACCELERATION?ON?MEMORY?AND?ACCELERATION?FOR?AUTOMATIC?PATTERN?GENERATION?WITHIN?A?FPGA?BLOCK(FPGA塊中具有對存儲器加速和對自動模式生成加速的測試儀)”，發明人為John?Frediani，代理人案號為ATST-JP0091。該申請的全部內容通過引用的方式并入本文，并且用于所有目的。

本申請涉及第13/773，569號美國專利申請，其申請日為2013年2月21日，名稱為“A?TEST?ARCHITECTURE?HAVING?MULTIPLE?FPGA?BASED?HARDWARE?ACCELERATOR?BLOCKS?FOR?TESTING?MULTIPLE?DUTS?INDEPENDENTLY(具有用于獨立測試多個被測器件的多個基于FPGA的硬件加速器塊的測試體系結構)”，發明人為Gerald?Chan，Andrew?Niemic，Eric?Kushnick和Mei-Mei?Sui，代理人案號為ATST-JP0090。該申請的全部內容通過引用的方式并入本文，并且用于所有目的。

本申請涉及第13/773，597號美國專利申請，其申請日為2013年2月21日，名稱為“GUI?IMPLEMENTATIONS?ON?CENTRAL?CONTROLLER?COMPUTER?SYSTEM?FOR?SUPPORTING?PROTOCOL?INDEPENDENT?DEVICE?TESTING(用于支持協議獨立器件測試的中央控制器計算機系統上的GUI實現方式)”，發明人為Gerald?Chan，代理人案號為ATST-JP0085。該申請的全部內容通過引用的方式并入本文，并且用于所有目的。

本申請涉及第13/773，628號美國專利申請，其申請日為2013年2月21日，名稱為“CLOUD?BASED?INFRASTRUCTURE?FOR?SUPPORTING?PROTOCOL?RECONFIGURATIONS?IN?PROTOCOL?INDEPENDENT?SYSTEMS(協議獨立器件測試系統中用于支持協議重配置的基于云的設施)”，發明人為Gerald?Chan和Erik?Volkerink，代理人案號為ATST-JP0087。該申請的全部內容通過引用的方式并入本文，并且用于所有目的。

本申請涉及第13/773，580號美國專利申請，其申請日為2013年2月21日，名稱為“TESTER?WITH?MIXED?PROTOCOL?ENGINE?IN?FPGA?BLOCK(FPGA塊中具有混合協議引擎的測試儀)”，發明人為John?Frediani和Andrew?Niemic，代理人案號為ATST-JP0089。該申請的全部內容通過引用的方式并入本文，并且用于所有目的。

技術領域

本公開一般來講涉及電子器件測試系統領域，更具體地涉及用于測試被測器件(DUT)的電子器件測試設備領域。

發明背景

自動測試設備(ATE)可以是對半導體片或管芯或諸如固態驅動等器件進行測試的任何測試組件。ATE組件可以用于執行自動測試，自動測試快速進行測量并產生然后可被分析的測試結果。ATE組件可以是從耦接至儀表的計算機系統到復雜自動測試組件的任何東西，復雜自動測試組件可以包括定制的專用計算機控制系統以及能夠自動測試電子零件和/或進行半導體片測試(例如，片上系統(SOC)測試或集成電路測試)的很多不同的測試儀器。ATE系統既減少了測試器件所花費的時間以保證器件按照設計的那樣發揮功能，又充當診斷工具以在器件到達消費者之前判定給定器件內部故障部件的存在。