[發明專利]分光測定裝置、分光測定方法及試樣容器

有效

• 申請號: 201380072255.2
• 申請日: 2013-09-17
• 公開（公告）號: CN104969061B
• 公開（公告）日: 2017-12-22
• 發明（設計）人: 鈴木健吾;井口和也;江浦茂;池村賢一郎
• 申請（專利權）人: 浜松光子學株式會社
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64;G01J3/443;G01N21/01;G01N21/03
• 代理公司: 北京尚誠知識產權代理有限公司11322
• 代理人: 楊琦

1.一種分光測定裝置，其特征在于，

是對作為測定對象的試樣照射激發光而檢測被測定光的分光測定裝置，

包含：

光源，其產生所述激發光；

積分器，其具有入射所述激發光的入射開口部、及射出所述被測定光的射出開口部；

收納部，其配置于所述積分器內，且收納所述試樣；

入射光學系統，其使所述激發光入射至所述試樣；

光檢測器，其檢測自所述射出開口部射出的所述被測定光；及

解析單元，其基于由所述光檢測器檢測出的檢測值，計算所述試樣的量子產率，

所述激發光以使所述激發光的照射面積大于所述試樣的被照射面積且包含所述試樣的方式照射于該試樣。

2.如權利要求1所述的分光測定裝置，其特征在于，

所述入射光學系統以所述激發光包含所述試樣的方式調整所述激發光。

3.如權利要求1或2所述的分光測定裝置，其特征在于，

所述收納部以所述激發光包含所述試樣的方式收納所述試樣。

4.如權利要求1至3中任一項所述的分光測定裝置，其特征在于，

所述積分器具有安裝有用于將所述收納部配置于所述積分器內的試樣支撐體的試樣導入開口部，

所述試樣支撐體以所述收納部的開口面相對于所述激發光的照射光軸的正交面傾斜的方式安裝于所述試樣導入開口部。

5.如權利要求4所述的分光測定裝置，其特征在于，

所述收納部的所述開口面的傾斜方向與所述收納部的開口面的長軸方向彼此為相同方向。

6.如權利要求4或5所述的分光測定裝置，其特征在于，

所述入射光學系統包含光學構件，該光學構件具有具備長軸的形狀的開口，

所述光學構件的開口的長軸方向與所述收納部的開口面的傾斜方向具有角度。

7.如權利要求4至6中任一項所述的分光測定裝置，其特征在于，

所述試樣支撐體具有用于載置包含所述收納部的試樣容器的載置面，

所述試樣支撐體以所述載置面相對于所述激發光的照射光軸的正交面傾斜的方式安裝于所述試樣導入開口部。

8.如權利要求7所述的分光測定裝置，其特征在于，

所述試樣支撐體包含具有所述載置面的傾斜構件。

9.如權利要求4或5所述的分光測定裝置，其特征在于，

所述入射光學系統具有調整照射光軸相對于所述收納部的開口面的角度的光學構件。

10.一種分光測定方法，其特征在于，

是對作為測定對象的試樣照射激發光而檢測被測定光的分光測定方法，

包含：

在積分器內配置所述試樣的工序；

以使所述激發光的照射面積大于所述試樣的被照射面積且所述激發光包含所述試樣的方式向所述積分器內照射所述激發光并入射至所述試樣的工序；

檢測自所述積分器射出的所述被測定光的工序；及

基于所檢測出的所述被測定光，計算所述試樣的量子產率的工序。

11.一種試樣容器，其特征在于，

是用于量子產率測定且由透明材料形成的試樣容器，該量子產率測定利用了積分器，

包含：

矩形板狀的板部；

設置于所述板部上的凸部；及

設置于所述凸部，且收納作為測定對象的試樣的收納部，

所述收納部以使照射至所述試樣的激發光的照射面積大于所述試樣的被照射面積且所述激發光包含所述試樣的方式收納所述試樣。

12.如權利要求11所述的試樣容器，其特征在于，

所述凸部的剖面為圓形狀。

13.如權利要求11所述的試樣容器，其特征在于，

所述收納部的開口為具有長軸的形狀。

14.如權利要求11至13中任一項所述的試樣容器，其特征在于，

是通過將具有貫通孔的圓柱構件固定于板狀構件的面上而形成的所述試樣容器，

所述板部由所述板狀構件構成，所述凸部由所述圓柱構件構成，所述收納部由所述貫通孔構成。