[發(fā)明專利]分光測定裝置、分光測定方法及試樣容器

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201380072255.2
• 申請日: 2013-09-17
• 公開（公告）號: CN104969061B
• 公開（公告）日: 2017-12-22
• 發(fā)明（設計）人: 鈴木健吾;井口和也;江浦茂;池村賢一郎
• 申請（專利權）人: 浜松光子學株式會社
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64;G01J3/443;G01N21/01;G01N21/03
• 代理公司: 北京尚誠知識產(chǎn)權代理有限公司11322
• 代理人: 楊琦

技術領域

本發(fā)明涉及分光測定裝置、分光測定方法、及試樣容器。

背景技術

一直以來，已知有對作為測定對象的試樣照射激發(fā)光而檢測被測定光的分光測定裝置。作為該種技術，例如專利文獻1中記載有量子效率測定裝置。該專利文獻1所記載的量子效率測定裝置中，由積分球對單一波長的放射的熒光體中的反射成分及被激發(fā)的熒光發(fā)光的全放射成分進行積分，測定其分光能量分布，并且由積分球對單一波長的放射的分光反射率標準中的全反射成分進行積分，測定其分光分布。然后，基于該測定值，計算熒光體所吸收的光量子量及熒光發(fā)光的光量子量，根據(jù)其比可以謀求計算出熒光體的量子產(chǎn)率。

另外，例如專利文獻2中，記載有在求取量子產(chǎn)率時，在積分球內未直接擊中激發(fā)光的位置固定試樣，根據(jù)將激發(fā)光間接地入射至試樣所得到的強度、與將激發(fā)光直接入射至試樣所得到的強度，求得試樣的吸收率的絕對熒光量子效率測定裝置。另外，非專利文獻1～3中，記載有以將激發(fā)光入射于試樣的一部分作為前提來計算量子產(chǎn)率。

現(xiàn)有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開2003-215041號公報

專利文獻2：日本特開2011-196735號公報

非專利文獻

非專利文獻1：“Measurement of absolutephotoluminescence quantum efficiencies in conjugated polymers Chemical PhysicsLetters Volume 241”、Issues 1-2、14 July 1995、Pages 89-96、N.C.Greenham、I.D.W.Samuel、G.R.Hayes、R.T.Phillips、Y.A.R.R.Kessener、S.C.Moratti,A.B.Holmes,R.H.Friend

非專利文獻2：“An improved experimental determination of external photoluminescence quantum efficiency Advanced Materials”、Vol.9、Issue 3、March 1997、Pages 230-232、John C.de Mello、H.Felix Wittmann、Richard H.Friend

非專利文獻3：“使用積分球的絕對熒光量子效率測定法的理論研究”、第71次應用物理學會學術演講會(2010年9月12日)、14p-NK-6、市野善朗(2010.9.12)14p-NK-6

發(fā)明內容

發(fā)明所要解決的問題

然而，一般而言，若試樣被激發(fā)，則在全方位放射被測定光(熒光)。另外，對多數(shù)試樣而言，被測定光也作為吸收波長區(qū)域，因而會引起由自身吸收自身所發(fā)出的被測定光的自吸收。關于該點，量子產(chǎn)率以試樣所吸收的激發(fā)光的光子數(shù)相對于被測定光的光子數(shù)的比表示，因而若由自吸收而吸收被測定光，則有估計所計算出的量子產(chǎn)率相對于真值小的擔憂。

因此，本發(fā)明的一個側面的課題在于提供可高精度地求得量子產(chǎn)率的分光測定裝置、分光測定方法及試樣容器。

解決問題的技術手段

為了解決上述課題，本發(fā)明的一個側面所涉及的分光測定裝置，其特征在于，其是對作為測定對象的試樣照射激發(fā)光而檢測被測定光的分光測定裝置，包含：光源，其產(chǎn)生激發(fā)光；積分器，其具有入射激發(fā)光的入射開口部、及射出被測定光的射出開口部；收納部，其配置于積分器內，且收納試樣；入射光學系統(tǒng)，其使激發(fā)光入射至試樣；光檢測器，其檢測自射出開口部射出的被測定光；及解析單元，其基于由光檢測器檢測出的檢測值而計算試樣的量子產(chǎn)率；激發(fā)光以包含(內包)試樣的方式被照射于該試樣。

本發(fā)明的一個側面所涉及的分光測定裝置中，可減少自吸收量，且可高精度地求得量子產(chǎn)率。這是由于下述理由。即，在激發(fā)光被照射至試樣的一部分的情況下，試樣中被照射區(qū)域與未被照射的區(qū)域的邊界面積大的部分，自吸收量多，相對于此，本發(fā)明的一個側面所涉及的分光測定裝置中，由于激發(fā)光以包含(內包)試樣的方式被照射，因而試樣中被照射區(qū)域與未被照射的區(qū)域的邊界面積變窄，自吸收量變小。

另外，作為適宜地實現(xiàn)上述作用效果的構成，具體而言，可以列舉入射光學系統(tǒng)以激發(fā)光包含(內包)試樣的方式調整激發(fā)光的構成。另外，可以列舉收納部以激發(fā)光包含(內包)試樣的方式收納試樣的構成。