[發(fā)明專利]分光測定裝置及分光測定方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201380072223.2
• 申請日: 2013-09-17
• 公開（公告）號: CN104981687B
• 公開（公告）日: 2017-08-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 江浦茂;鈴木健吾;池村賢一郎;井口和也
• 申請（專利權(quán)）人: 浜松光子學(xué)株式會(huì)社
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64;G01J3/443
• 代理公司: 北京尚誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11322
• 代理人: 楊琦

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及分光測定裝置及分光測定方法。

背景技術(shù)

一直以來，已知有對作為測定對象的試樣照射激發(fā)光而檢測被測定光的分光測定裝置。作為該種技術(shù)，例如專利文獻(xiàn)1中記載有在求取量子產(chǎn)率時(shí)，在積分球內(nèi)未直接擊中激發(fā)光的位置固定試樣，根據(jù)將激發(fā)光間接地入射至試樣所得到的強(qiáng)度、與將激發(fā)光直接入射至試樣所得到的強(qiáng)度，求得試樣的光吸收率的絕對熒光量子效率測定裝置。

另外，例如專利文獻(xiàn)2中，記載有測定在透過試樣后的激發(fā)光在積分空間內(nèi)反射那樣的狀態(tài)下被試樣吸收的激發(fā)光，并且在透過試樣后的激發(fā)光未在積分空間內(nèi)反射那樣的狀態(tài)下測定自試樣產(chǎn)生的光的量子效率測定裝置。該量子效率測定裝置中，通過進(jìn)行這樣的2階段的測量處理，從而謀求降低由再激發(fā)(二次激發(fā))引起的測定誤差。另外，非專利文獻(xiàn)1～3中，記載有將以被包含(內(nèi)包)于試樣的方式入射激發(fā)光作為前提來計(jì)算量子產(chǎn)率。

現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)1：日本特開平9-292281號公報(bào)

專利文獻(xiàn)2：日本特開2003-215041號公報(bào)

非專利文獻(xiàn)

非專利文獻(xiàn)1：“Measurement of absolutephotoluminescence quantum efficiencies in conjugated polymers Chemical PhysicsLetters Volume 241”、Issues 1-2、14July 1995、Pages 89-96、N.C.Greenham、I.D.W.Samuel、G.R.Hayes、R.T.Phillips、Y.A.R.R.Kessener、S.C.Moratti,A.B.Holmes,R.H.Friend

非專利文獻(xiàn)2：“An improved experimental determination of external photoluminescence quantum efficiency Advanced Materials”、Vol.9、Issue 3、March 1997、Pages 230-232、John C.de Mello、H.Felix Wittmann、Richard H.Friend

非專利文獻(xiàn)3：“使用積分球的絕對熒光量子效率測定法的理論研究”、第71次應(yīng)用物理學(xué)會(huì)學(xué)術(shù)演講會(huì)(2010年9月12日)、14p-NK-6、市野善朗(2010.9.12)14p-NK-6

發(fā)明內(nèi)容

發(fā)明所要解決的問題

然而，一般而言，對于上述的分光測定裝置而言，如上所述，在激發(fā)光被包含(內(nèi)包)于試樣且向試樣的入射位置上的激發(fā)光的照射面積(以下也單單稱為“激發(fā)光的照射面積”)小于試樣的被照射面積的理論下進(jìn)行構(gòu)筑。因此，例如在測定少量的試樣等的情況下，若激發(fā)光的照射面積大于試樣的被照射面積，則估計(jì)所計(jì)算出的光吸收率與真值不同，從而有難以高精度地測定光吸收率的擔(dān)憂。

因此，本發(fā)明的一個(gè)側(cè)面的課題在于提供可高精度地求得光吸收率的分光測定裝置及分光測定方法。

解決問題的技術(shù)手段

為了解決上述課題，本發(fā)明的一個(gè)側(cè)面所涉及的分光測定裝置，其特征在于，其是對作為測定對象的試樣照射激發(fā)光而檢測被測定光的分光測定裝置，具備：光源，其產(chǎn)生激發(fā)光；積分器，其具有入射激發(fā)光的入射開口部、及射出在內(nèi)部反射后的光的射出開口部；收納部，其配置于積分器內(nèi)，且收納試樣；入射光學(xué)系統(tǒng)，其使激發(fā)光入射至試樣；光檢測器，其檢測自射出開口部射出的光；及解析單元，其基于由光檢測器檢測出的檢測值而計(jì)算試樣的光吸收率；向試樣的入射位置上的激發(fā)光的照射面積大于試樣的被照射面積，解析單元相對于所計(jì)算出的光吸收率，進(jìn)行與激發(fā)光的照射面積及試樣的被照射面積有關(guān)的面積比修正。

在該分光測定裝置中，激發(fā)光的照射面積能夠大于試樣的被照射面積。于是，在該情況下，能夠相對于所計(jì)算出的光吸收率，進(jìn)行與激發(fā)光的照射面積及試樣的被照射面積有關(guān)的面積比修正。由此，即使在例如測定少量的試樣的情況下，也可高精度地求得光吸收率。

另外，激發(fā)光也可以包含(內(nèi)包)試樣的方式被照射于該試樣。此時(shí)，面積比修正可通過將激發(fā)光的照射面積除以試樣的被照射面積后的值乘以光吸收率來進(jìn)行。另外，解析單元可基于下式(1)的面積比修正的關(guān)系式，計(jì)算光吸收率。

[數(shù)1]

其中，