[發(fā)明專利]圖像測量方法、系統(tǒng)、設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201380068174.5 | 申請日: | 2013-12-03 |
| 公開(公告)號: | CN104884937B | 公開(公告)日: | 2019-01-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 佐藤朱里 | 申請(專利權(quán))人: | 日本電氣株式會社 |
| 主分類號: | G01N21/27 | 分類號: | G01N21/27 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務(wù)所 11256 | 代理人: | 王茂華;馬明月 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 圖像 測量方法 系統(tǒng) 設(shè)備 程序 | ||
一種圖像測量系統(tǒng)包括:反射本體,被布置在要被測量的植物附近;拍攝單元,用于對反射本體進(jìn)行拍攝并且輸出已拍攝的圖像;圖像分析單元,用于在已拍攝的圖像中檢測反射本體的區(qū)域并且獲取該區(qū)域的顏色信息;絕對光譜輻照度分布計(jì)算單元,用于基于顏色信息計(jì)算絕對光譜輻照度分布,其是該區(qū)域中光譜輻照度的絕對值的分布;光子通量密度計(jì)算單元,用于基于絕對光譜輻照度分布計(jì)算光子通量密度;以及葉面積指數(shù)計(jì)算單元,用于基于光子通量密度計(jì)算葉面積指數(shù)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及測量葉面積指數(shù)的圖像測量方法、圖像測量系統(tǒng)、圖像測量設(shè)備和圖像測量程序。
背景技術(shù)
葉面積指數(shù)(下文中稱為LAI)表示耕地或森林中在某方向上 (例如,在豎直方向上)植物群落等中每單位面積覆蓋的葉片的面積之和。LAI被用作一種在溫室栽培等中掌握植物生長或栽培條件的指數(shù)。
作為一種用于測量LAI的方法,例如,提出了一種使用照度傳感器的間接測量方法。在此方法中,例如在植物群落內(nèi)在上部區(qū)域和下部區(qū)域中測量照度以基于所測量的其照度來估計(jì)LAI。
此外,作為一種相關(guān)技術(shù),PTL1描述了一種方法,在該方法中,對布置在植物群落中的反射體進(jìn)行拍攝,然后基于反射體的顏色信息計(jì)算照度以估計(jì)LAI。
此外,PTL2描述了LAI間接測量方法。在PTL2中所描述的方法中,間接測量系統(tǒng)使用廣角透鏡和電子元件相對于近紅外光和紅光中的每一個對預(yù)定區(qū)域的圖像進(jìn)行拍攝。然后,間接測量系統(tǒng)獲得每個區(qū)段區(qū)域中相對于近紅外光和紅光中的每一個的輝度值,其中區(qū)段區(qū)域是通過對預(yù)定區(qū)域進(jìn)行劃分而得到的。然后,間接測量系統(tǒng)獲得每個詳細(xì)區(qū)域中近紅外光和紅光之間的輝度值的比率,基于輝度值的比率估計(jì)相對太陽輻射量,以及基于相對太陽輻射量獲得葉面積指數(shù)。
[引用列表]
專利文獻(xiàn)
[PTL1]國際專利公開No.2012/073519
[PTL2]日本專利公開No.2007-171033
[非專利文獻(xiàn)]
[NPL1]H.W.Jensen,“Photon Mapping”,Ohmsha公司,頁29、 32
[NPL2]D.Judd,D.L.MacAdam和G.Wyszecki,“Spectral Distribution ofTypical Daylight as a Function of Correlated Color Temperature”,Journal ofthe Optical Society of America,1964年8月,卷54第8期,頁1031-1040
[NPL3]E.Kaneko、M.Toda、H.Aoki和M.Tsukada,“Daylight Spectrum Modelunder Weather Conditions from Clear Sky to Cloudy”, 2012年,Proc.of IEEE 21stInternational Conference on Pattern Recognition
[NPL4]Monsi和Saeki,“On the Factor Light in Plant Communities and itsImportance for Matter Production,”Annals of Botany 95,2005,pp.549-567,原始公開為:1953年3月,Japanese Journal of Botany 14,pp.22-52
發(fā)明內(nèi)容
技術(shù)問題
在PTL1的方法中,照度被用作用于計(jì)算LAI的光的強(qiáng)度。然而,由于照度與LAI的相關(guān)性低,所以所計(jì)算的LAI的精確性低。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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