[發明專利]圖像測量方法、系統、設備

有效

• 申請號: 201380068174.5
• 申請日: 2013-12-03
• 公開（公告）號: CN104884937B
• 公開（公告）日: 2019-01-08
• 發明（設計）人: 佐藤朱里
• 申請（專利權）人: 日本電氣株式會社
• 主分類號: G01N21/27
• 分類號: G01N21/27
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 王茂華;馬明月

1.一種圖像測量方法，包括：

拍攝被布置在要被測量的植物附近的反射體，并且輸出所述反射體的已拍攝的圖像；

在所述已拍攝的圖像內檢測所述反射體被拍攝的區域；

獲取所述區域的顏色信息；

基于所述顏色信息來計算所述區域的絕對光譜輻照度分布，所述絕對光譜輻照度分布是所述區域中的光譜輻照度的絕對值的分布；

基于所述絕對光譜輻照度分布來計算光合光子通量密度；以及

基于所述光合光子通量密度來計算葉面積指數。

2.根據權利要求1所述的圖像測量方法，其中所述反射體包括全散射反射表面，所述全散射反射表面的顏色是已知的。

3.根據權利要求1所述的圖像測量方法，還包括：

彼此相關聯地存儲所述光合光子通量密度和所述葉面積指數；以及

提取與計算的所述光合光子通量密度相關聯的所述葉面積指數。

4.根據權利要求1所述的圖像測量方法，還包括：

基于所述顏色信息來計算包括所述區域中的輝度值的三色刺激值；

基于所述輝度值來計算絕對輻照度，所述絕對輻照度是所述區域中的光的輻照度的絕對值；

基于所述三色刺激值來計算所述區域中的色度；

基于所述色度來計算相對光譜輻照度分布，所述相對光譜輻照度分布是所述區域中的光譜輻照度的相對分布；以及

基于所述絕對輻照度和所述相對光譜輻照度分布來計算所述絕對光譜輻照度分布。

5.一種圖像測量系統，包括：

反射體，所述反射體被布置在要被測量的植物附近；

拍攝單元，所述拍攝單元拍攝所述反射體，并且輸出所述反射體的已拍攝的圖像；

圖像分析單元，所述圖像分析單元在所述已拍攝的圖像內檢測所述反射體被拍攝的區域，并且獲取所述區域的顏色信息；

絕對光譜輻照度分布計算單元，所述絕對光譜輻照度分布計算單元基于所述顏色信息來計算絕對光譜輻照度分布，所述絕對光譜輻照度分布是所述區域中的光譜輻照度的絕對值的分布；

光合光子通量密度計算單元，所述光合光子通量密度計算單元基于所述絕對光譜輻照度分布來計算光合光子通量密度；以及

葉面積指數計算單元，所述葉面積指數計算單元基于所述光合光子通量密度來計算葉面積指數。

6.根據權利要求5所述的圖像測量系統，其中所述反射體包括全散射反射表面，所述全散射反射表面的顏色是已知的。

7.根據權利要求5所述的圖像測量系統，還包括：

存儲單元，所述存儲單元彼此相關聯地存儲所述光合光子通量密度和所述葉面積指數，其中

所述葉面積指數計算單元從存儲所述葉面積指數的所述存儲單元提取與計算的所述光合光子通量密度相關聯的所述葉面積指數。

8.根據權利要求5至7中任一項所述的圖像測量系統，其中所述絕對光譜輻照度分布計算單元操作以：

基于所述顏色信息來計算包括所述區域中的輝度值的三色刺激值；

基于所述輝度值來計算絕對輻照度，所述絕對輻照度是所述區域中的光的輻照度的絕對值；

基于所述三色刺激值來計算所述區域中的色度；

基于所述色度來計算相對光譜輻照度分布，所述相對光譜輻照度分布是所述區域中的光譜輻照度的相對分布；以及

基于所述絕對輻照度和所述相對光譜輻照度分布來計算絕對光譜輻照度分布。

9.一種圖像測量設備，所述圖像測量設備在圖像測量系統中使用，所述圖像測量系統被提供有反射體和拍攝單元，所述反射體被布置在要被測量的植物附近，所述拍攝單元拍攝所述反射體并且輸出所述反射體的已拍攝的圖像，所述圖像測量設備包括：

圖像分析單元，所述圖像分析單元在所述已拍攝的圖像內檢測所述反射體被拍攝的區域，并且獲取所述區域的顏色信息；

絕對光譜輻照度分布計算單元，所述絕對光譜輻照度分布計算單元基于所述顏色信息來計算絕對光譜輻照度分布，所述絕對光譜輻照度分布是所述區域中的光譜輻照度的絕對值的分布；

光合光子通量密度計算單元，所述光合光子通量密度計算單元基于所述絕對光譜輻照度分布來計算光合光子通量密度；以及

葉面積指數計算單元，所述葉面積指數計算單元基于所述光合光子通量密度來計算葉面積指數。