[發明專利]真空劣化監視裝置

有效

• 申請號: 201380064675.6
• 申請日: 2013-11-27
• 公開（公告）號: CN104854676A
• 公開（公告）日: 2015-08-19
• 發明（設計）人: 井上直明;安部淳一;田邊智子;矢野知孝;吉田曉
• 申請（專利權）人: 三菱電機株式會社
• 主分類號: H01H33/668
• 分類號: H01H33/668;H01H9/54;H01H33/662;H02B13/02;H02B13/065
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 金光華

1.一種真空劣化監視裝置，監視金屬制罐形真空隔斷器的真空閥的真空劣化，該金屬制罐形真空隔斷器在金屬制罐的內部具備所述真空閥，并通過套管而將所述真空閥的連接線向所述金屬制罐外導出，所述真空劣化監視裝置的特征在于，

所述套管具備具有低通功能的內部屏蔽物，所述真空劣化監視裝置具備：

第一天線，設置在所述金屬制罐的內部；

第二天線，設置在所述金屬制罐的外部；

第一探測部，測定由所述第一天線檢測到的所述真空閥的部分放電所引起的電磁波的強度；

第二探測部，測定由所述第二天線檢測到的所述金屬制罐外的噪聲所引起的電磁波的強度；以及

判定部，通過比較由所述第一探測部探測到的電磁波的強度和由所述第二探測部探測到的電磁波的強度來判定所述真空閥的真空劣化，

所述第一探測部以及第二探測部具備頻率濾波器，所述頻率濾波器使所述真空閥的真空劣化時發生的放電所引起的電磁波中的、由所述內部屏蔽物衰減的頻帶通過。

2.根據權利要求1所述的真空劣化監視裝置，其特征在于，

所述判定部在由所述第一探測部探測到的電磁波的強度小于由所述第二探測部探測到的電磁波的強度的情況下判定為外部噪聲，在由所述第一探測部探測到的電磁波的強度大于由所述第二探測部探測到的電磁波的強度的情況下判定為所述真空閥的部分放電所致的真空劣化。

3.根據權利要求1所述的真空劣化監視裝置，其特征在于，

將所述金屬制罐形真空隔斷器并列設置了三相的量。

4.根據權利要求3所述的真空劣化監視裝置，其特征在于，

所述第一探測部對所述第一天線針對每個相接收到的電磁波一并地進行強度測定。

5.根據權利要求1所述的真空劣化監視裝置，其特征在于，

所述第一天線以及第二天線是適合于接收所述真空閥的真空劣化時發生的放電所引起的電磁波中的、通過所述套管的低通濾波器功能衰減的頻帶的特性的天線。

6.根據權利要求1所述的真空劣化監視裝置，其特征在于，

所述第一探測部以及第二探測部具備檢測接收電磁波的峰值的檢波電路。

7.根據權利要求1所述的真空劣化監視裝置，其特征在于，

所述判定部具備：

比較器電路，比較由所述第一探測部探測到的電磁波的強度和由所述第二探測部探測到的電磁波的強度；

脈沖輸出部和脈沖計數器，將該比較器電路的輸出作為脈沖并進行計數；以及

判定電路，在該脈沖計數器的輸出超過了閾值時判定為所述真空閥的真空劣化。

8.根據權利要求3所述的真空劣化監視裝置，其特征在于，

所述第二天線設置于所述金屬制罐的上部，并且在來自與所述套管連接的輸電線的噪聲所致的電磁波的接收靈敏度大致相等的位置。