[發明專利]真空劣化監視裝置

有效

• 申請號: 201380064675.6
• 申請日: 2013-11-27
• 公開（公告）號: CN104854676A
• 公開（公告）日: 2015-08-19
• 發明（設計）人: 井上直明;安部淳一;田邊智子;矢野知孝;吉田曉
• 申請（專利權）人: 三菱電機株式會社
• 主分類號: H01H33/668
• 分類號: H01H33/668;H01H9/54;H01H33/662;H02B13/02;H02B13/065
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 金光華

技術領域

本發明涉及真空隔斷器的真空劣化監視裝置。

背景技術

氣體隔斷器能夠利用SF6氣體的優良的絕緣性能以及隔斷性能來實現隔斷，但SF6氣體的全球變暖系數高，所以期望環境負荷低的隔斷器。另一方面，真空隔斷器能夠通過高真空中的優良的絕緣性能以及隔斷性能來實現大電流的隔斷。另外，由于不使用上述SF6氣體而成為環境低負荷，所以真空隔斷器的高電壓應用得到了發展。

此處，在氣體隔斷器的情況下，通過壓力計來監視氣體氣壓，在由于氣體泄漏而低于絕緣/隔斷所需的氣體氣壓的情況下，輸出異常信號，并且鎖定氣體隔斷器的操作。另一方面，在真空隔斷器的情況下也是，如果由于真空容器的龜裂等而發生真空劣化，則無法維持絕緣/隔斷性能，所以要求監視真空度的方法。

作為非接觸地監視真空隔斷器的真空度的方法之一，有如下方法：通過天線來探測在發生了真空劣化時在真空容器內發生的部分放電的電磁波。用天線來檢測部分放電的電磁波的方法自身在使用了SF6氣體的氣體絕緣開閉裝置中也是普遍的，在氣體絕緣開閉裝置中探測500MHz～1500MHz帶程度的放電的高頻分量。另一方面，已知低真空中的部分放電的頻率比上述低。在專利文獻1中，通過探測真空劣化時的低真空中的放電電磁波的20～100MHz的信號分量來判斷真空劣化。

專利文獻1：日本特開2002-184275號公報

專利文獻2：日本特開平9-121409號公報

專利文獻3：國際公開2001/065653號公報

專利文獻4：日本特開2002-71743號公報

發明內容

如上所述，在專利文獻1中，檢測了放電電磁波的20～100MHz的信號分量，但該頻帶是FM廣播、電視等廣播波的頻帶，所以存在如下可能性：受到廣播波所致的外來噪聲的影響而真空劣化監視裝置發生誤動作。另外，真空隔斷器經由輸電線而與例如變壓器等其他設備連接，所以還有受到來自其他設備的傳導噪聲的影響的情況。

另一方面，專利文獻2是氣體絕緣開閉裝置的部分放電監視的例子，通過在罐外安裝了的天線1來檢測從氣體絕緣開閉裝置的絕緣隔板泄漏出來的罐內放電的電磁波。另外，也通過在遠離罐外的絕緣隔板的位置安裝了的天線2來檢測電磁波，并取通過天線1和天線2檢測到的信號的差分，從而去除廣播波等的外來噪聲的分量，僅評價罐內放電的信號。但是，在通過罐外的天線探測罐內的放電時，存在檢測靈敏度惡化這樣的缺點。

本發明想要得到一種可靠性高的真空劣化監視裝置，能夠在內置真空閥的金屬制罐形真空隔斷器中檢測真空閥的真空劣化。

本發明的真空劣化監視裝置監視金屬制罐形真空隔斷器的真空閥的真空劣化，該金屬制罐形真空隔斷器在金屬制罐的內部具備所述真空閥，并通過套管將真空閥的連接線向金屬制罐外導出，其中，所述套管具備具有低通功能的內部屏蔽物，所述真空劣化監視裝置具備：第一天線；設置在所述金屬制罐的內部；第二天線，設置在金屬制罐的外部；第一探測部，測定由第一天線檢測到的真空閥的部分放電所引起的電磁波的強度；第二探測部，測定由第二天線檢測到的金屬制罐外的噪聲所引起的電磁波的強度；以及判定部，通過比較由第一探測部探測到的電磁波的強度和由第二探測部探測到的電磁波的強度來判定真空閥的真空劣化，所述第一探測部以及第二探測部具備頻率濾波器，所述頻率濾波器使所述真空閥的真空劣化時發生的放電所引起的電磁波中的、由所述內部屏蔽物衰減的頻帶通過。

根據本發明，在金屬制罐內設置了的真空閥的部分放電的探測不會受金屬制罐外的噪聲妨礙，所以能夠提高真空閥的真空劣化監視的可靠性。

附圖說明

圖1是包括本發明的實施方式1的真空劣化監視裝置的真空隔斷器的示意側剖面圖。

圖2是在本發明的實施方式1的真空隔斷器中設置了的套管(bushing)的示意側剖面圖。

圖3是包括本發明的實施方式1的真空劣化監視裝置的真空隔斷器的示意俯視圖。

圖4是示出本發明的實施方式1的真空劣化監視裝置的真空劣化檢測部的框圖。

圖5是示出本發明的實施方式2的真空劣化監視裝置的真空劣化檢測部的框圖。

圖6是示出真空閥內的部分放電所引起的電磁波的200～300MHz帶中的測定結果的圖。

(符號說明)