[發明專利]采用針對對象分類的角度分辨散射和光譜分辨測量的系統、設備和方法在審
| 申請號: | 201380056793.2 | 申請日: | 2013-10-28 |
| 公開(公告)號: | CN104797970A | 公開(公告)日: | 2015-07-22 |
| 發明(設計)人: | 本杰明·K·威爾遜;邁克爾·C·赫格 | 申請(專利權)人: | 脫其泰有限責任公司 |
| 主分類號: | G02B21/10 | 分類號: | G02B21/10 |
| 代理公司: | 上海勝康律師事務所 31263 | 代理人: | 樊英如;李獻忠 |
| 地址: | 美國華*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 采用 針對 對象 分類 角度 分辨 散射 光譜 測量 系統 設備 方法 | ||
相關申請交叉參考
本申請涉及和/或要求來自下列申請(“優先權申請”)的最早可用有效申請日的權益,如果有,則列于下面(例如,就優先權申請的任何以及所有的母案申請、祖案申請、曾祖案申請等而言,要求非臨時專利申請的最早可用優先權日或者根據美國法典第35編第119(e)要求臨時專利申請的權益)。此外,本申請涉及“相關申請”,如果有,則列于下面。
優先權申請
美國專利申請No.13/662,724,名稱為SYSTEMS,DEVICES,AND?METHODS?EMPLOYING?ANGULAR-RESOLVED?SCATTERING?AND?SPECTRALLY?RESOLVED?MEASUREMENTS?FOR?CLASSIFICATION?OF?OBJECTS,發明人為本杰明·K·威爾遜和邁克爾·C·海格,申請日為2012年10月29日。
美國專利申請No.13/662,770,名稱為SYSTEMS,DEVICES,AND?METHODS?EMPLOYING?ANGULAR-RESOLVED?SCATTERING?AND?SPECTRALLY?RESOLVED?MEASUREMENTS?FOR?CLASSIFICATION?OF?OBJECTS,發明人為本杰明·K·威爾遜和邁克爾·C·海格,申請日為2012年10月29日。
相關申請
無
美國專利局(USPTO)已發布有效力的通知:USPTO的計算機程序要求專利申請人引用序列號并指明申請是否是母案申請的繼續申請、部分繼續申請、或分案申請。斯蒂芬·G·庫寧,《先前提交的申請的權益》,USPTO官方公報,2003年3月18日。USPTO還針對申請數據表提供了表格,其使著錄數據能夠自動加載但要求識別每一個申請是母案申請的繼續申請、部分繼續申請還是分案申請。本申請人實體(以下簡稱“申請人”)已在上文提供了對一或多個申請的具體參考,按照法律規定要求該一或多個申請的優先權。申請人理解,法律在其具體的引用語言方面是清楚的,不需要序列號也不需要諸如“繼續申請”或“部分繼續申請”之類的任何特征來要求美國專利申請的優先權。盡管有上述規定,但申請人理解,USPTO的計算機程序有一定的數據輸入要求,因此,申請人提供了在本申請與上文及本申請所提交的任何ADS中所述的其母案申請之間的關系的指定,但明確指出,這樣的指定不以任何方式解釋為對本申請除了其母申請的內容外是否還包含任何新內容的任何類型的評論和/或認可。
如果上面提供的申請列表與通過ADS提供的列表不一致,則申請人的意圖是要求在ADS的優先權申請部分中出現的各個申請和在本申請的優先權申請部分中出現的各個申請的優先權。
優先權申請和相關申請的所有主題以及優先權申請和相關申請的任何及所有的母案申請、祖案申請、曾祖案申請等的所有主題,包括任何優先權要求,在這些主題不與本文沖突的程度內,都通過參考并入本文。
發明內容
一方面,本公開除其他方面外針對高光譜成像系統。在實施方式中,高光譜成像系統包括暗場模塊,所述暗場模塊包括光學組件和暗場照明器。在實施方式中,暗場模塊被操作性地耦合到一或多個傳感器和暗場照明器,且被配置為獲取與來自被暗場詢問刺激詢問的對象的散射的電磁能量相關聯的一或多個暗場顯微圖。在實施方式中,所述成像系統包括被配置為提供多角度照明且被配置為針對視場中的多個像素獲取波長和角度信息的暗場照明器。在實施方式中,暗場照明器可操作來以相對于光學組件的光軸的一或多個入射角將暗場詢問刺激傳遞到至少一個焦點區域上。
在實施方式中,所述高光譜成像系統包括高光譜成像模塊,高光譜成像模塊被操作性地耦合到所述暗場模塊且具有被配置為基于對象的所述一或多個暗場顯微圖生成角度分辨和光譜分辨散射信息的電路。在實施方式中,所述高光譜成像系統包括對象分類模塊,對象分類模塊具有可操作來將角度分辨和光譜分辨散射信息與參考角度分辨和光譜分辨高光譜信息進行比較,并基于該比較生成與成像于一或多個暗場顯微圖中的對象相關聯的分類信息的電路。
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