[發(fā)明專利]具有多個(gè)并排設(shè)置的有源區(qū)域的光電子半導(dǎo)體芯片有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201380049143.5 | 申請(qǐng)日: | 2013-09-19 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104823287B | 公開(公告)日: | 2017-10-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 盧茨·赫佩爾;亞歷山大·F·普福伊費(fèi)爾 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 歐司朗光電半導(dǎo)體有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L33/00 | 分類號(hào): | H01L33/00;H01L33/08;H01L33/40;H01L27/15;H01L33/44 |
| 代理公司: | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11227 | 代理人: | 丁永凡,李德山 |
| 地址: | 德國(guó)雷*** | 國(guó)省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 并排 設(shè)置 有源 區(qū)域 光電子 半導(dǎo)體 芯片 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種具有多個(gè)有源區(qū)域的光電子半導(dǎo)體芯片,所述有源區(qū)域并排設(shè)置并且尤其能夠串聯(lián)連接。
本專利申請(qǐng)要求德國(guó)專利申請(qǐng)10 2012 108 879.9的優(yōu)先權(quán),所述德國(guó)專利申請(qǐng)的公開內(nèi)容就此通過參引并入本文。
背景技術(shù)
本申請(qǐng)尤其涉及一種所謂的薄膜發(fā)光二極管芯片,其中半導(dǎo)體層序列的原始的生長(zhǎng)襯底已被剝離,并且代替于此,半導(dǎo)體層序列在與原始的生長(zhǎng)襯底相對(duì)置的一側(cè)上與載體襯底連接,所述載體襯底與生長(zhǎng)襯底不同。在這類薄膜發(fā)光二極管芯片中有利的是,半導(dǎo)體層序列的朝向載體襯底的一側(cè)設(shè)有鏡層,以便將沿著朝向載體襯底的方向發(fā)射的輻射沿著朝向輻射出射面的方向偏轉(zhuǎn)從而提高輻射產(chǎn)量。
對(duì)于可見光的光譜范圍而言,尤其是銀適合作為用于鏡層的材料,因?yàn)槠涮卣髟谟诟叩姆瓷洌瞧渲秀y另一方面相對(duì)于腐蝕是敏感的。
在文獻(xiàn)WO 2011/157523 A1中描述了一種薄膜發(fā)光二極管芯片,其中半導(dǎo)體層序列具有多個(gè)并排設(shè)置的有源區(qū)域。多個(gè)并排設(shè)置的有源區(qū)域尤其串聯(lián)連接。多個(gè)有源區(qū)域通過半導(dǎo)體層序列中的溝道彼此分開。當(dāng)半導(dǎo)體層序列的多個(gè)有源區(qū)域通過有源區(qū)域之間的溝道彼此分開時(shí),這會(huì)導(dǎo)致:設(shè)置在載體襯底和半導(dǎo)體層序列之間的鏡層的側(cè)沿在溝道中露出。為了在這種情況下避免因與環(huán)境空氣和/或濕氣接觸而引起的鏡層的腐蝕,鏡層的露出的區(qū)域有利地設(shè)有封裝層。
可行的是,在共同的載體襯底上制造具有相應(yīng)多個(gè)有源區(qū)域的多個(gè)這種光電子半導(dǎo)體器件,其中載體襯底沿著有源區(qū)域之間的溝道分離。已經(jīng)發(fā)現(xiàn):之前已施加用于保護(hù)鏡層的介電封裝層在載體襯底沿著半導(dǎo)體層序列的有源區(qū)域之間的溝道分離的情況下會(huì)受到損傷。這會(huì)導(dǎo)致:在分割過程之后鏡層的朝向相應(yīng)的半導(dǎo)體芯片的外側(cè)的側(cè)沿不是最佳地受到保護(hù)以防止腐蝕。
發(fā)明內(nèi)容
由此待實(shí)現(xiàn)的目的在于:提出一種具有多個(gè)有源區(qū)域的改進(jìn)的光電子半導(dǎo)體芯片,其中鏡層的朝向半導(dǎo)體芯片的外側(cè)的側(cè)沿具有改進(jìn)的保護(hù)以防止腐蝕,其中半導(dǎo)體芯片的效率盡可行少地受到影響。
該目的通過根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例所述的光電子半導(dǎo)體芯片來實(shí)現(xiàn)。本發(fā)明的有利的設(shè)計(jì)方案和改進(jìn)方案是如下描述的主題。
根據(jù)至少一個(gè)設(shè)計(jì)方案,光電子半導(dǎo)體芯片包括半導(dǎo)體層序列,所述半導(dǎo)體層序列包含適合于發(fā)射輻射的有源區(qū)。光電子半導(dǎo)體芯片例如能夠是發(fā)光二極管芯片。
此外,光電子半導(dǎo)體芯片包括載體襯底。光電子半導(dǎo)體芯片優(yōu)選是所謂的薄膜發(fā)光二極管芯片,其中原始的生長(zhǎng)襯底從半導(dǎo)體層序列剝離并且半導(dǎo)體層序列在與原始的生長(zhǎng)襯底相對(duì)置的一側(cè)上與載體襯底連接。
在載體襯底和半導(dǎo)體層序列之間有利地設(shè)置有鏡層,所述鏡層優(yōu)選具有銀或者由其構(gòu)成。銀的特征在于在可見光的光譜范圍中的高的反射。鏡層此外有利地構(gòu)成到半導(dǎo)體層序列的電接觸。對(duì)此銀的高的導(dǎo)電性是有利的。
根據(jù)一個(gè)設(shè)計(jì)方案,半導(dǎo)體層序列在光電子半導(dǎo)體芯片中被劃分成為多個(gè)并排設(shè)置的有源區(qū)域,所述有源區(qū)域優(yōu)選串聯(lián)連接。多個(gè)有源區(qū)域例如通過電接觸層串聯(lián)連接,所述電接觸層優(yōu)選至少局部地設(shè)置在載體襯底和鏡層之間。
在光電子半導(dǎo)體芯片中,多個(gè)并排設(shè)置的有源區(qū)域有利地分別通過半導(dǎo)體層序列中的溝道彼此分開。溝道相應(yīng)地分開在多個(gè)有源區(qū)域之間的鏡層和半導(dǎo)體層序列。因此,鏡層的一個(gè)區(qū)域與半導(dǎo)體芯片的每個(gè)有源區(qū)域相關(guān)聯(lián)。
通過光電子半導(dǎo)體芯片借助于一個(gè)或多個(gè)溝道被劃分為多個(gè)有源區(qū)域的方式,鏡層具有朝向溝道的側(cè)面和朝向半導(dǎo)體芯片的外側(cè)的側(cè)面。
在光電子半導(dǎo)體芯片中,鏡層的朝向半導(dǎo)體芯片的外側(cè)的側(cè)面具有金屬封裝層。金屬封裝層具有一個(gè)或多個(gè)由金屬或者金屬合金構(gòu)成的層。鏡層的朝向半導(dǎo)體芯片外側(cè)的側(cè)面的金屬封裝層具有如下優(yōu)點(diǎn):所述金屬封裝層具有與介電封裝層相比高的機(jī)械抗性。當(dāng)多個(gè)光電子半導(dǎo)體芯片在一個(gè)共同的載體襯底上制造從而所述多個(gè)光電子半導(dǎo)體芯片通過分割工藝、例如鋸割或者激光束切割分為各個(gè)光電子半導(dǎo)體芯片時(shí),上述內(nèi)容是尤其有利的。在這種分割工藝中,例如通過鋸割或者激光束切割在載體襯底中產(chǎn)生分離溝道,在分割之后所述分離溝道形成半導(dǎo)體芯片的外側(cè)。
已發(fā)現(xiàn):當(dāng)將介電封裝層用于鏡層時(shí),在產(chǎn)生分離溝道時(shí)會(huì)出現(xiàn)施加到鏡層的側(cè)面上的封裝層的損傷。在這樣的情況下鏡層會(huì)不再充分地被保護(hù)免受外部影響例、如濕氣和/或氧的侵入。這會(huì)導(dǎo)致鏡層退化,所述退化在于此所描述的光電子半導(dǎo)體芯片中有利地通過使用用于鏡層的朝向半導(dǎo)體芯片的外側(cè)的側(cè)面的金屬封裝層來避免。
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