[發明專利]散射光測量裝置

有效

• 申請號: 201380047195.9
• 申請日: 2013-09-09
• 公開（公告）號: CN104619233A
• 公開（公告）日: 2015-05-13
• 發明（設計）人: 伊藤遼佑
• 申請（專利權）人: 奧林巴斯株式會社
• 主分類號: A61B1/00
• 分類號: A61B1/00;G01N21/17;G01N21/27
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

1.一種散射光測量裝置，具備：光學測量裝置，其將光輸出和被輸入光，并且進行所輸入的光的測量；以及散射光測量探頭，其向被檢查物照射來自該光學測量裝置的光，并且接收來自該被檢查物的光并向上述光學測量裝置輸出，該散射光測量裝置的特征在于，

上述光學測量裝置具有：

光源，其射出至少包含測量對象波長的光的光；

光檢測器，其檢測由上述散射光測量探頭接收到的光；

分支部，其將來自上述光源的光引導至上述散射光測量探頭，并且將來自上述散射光測量探頭的光引導至上述光檢測器；以及

控制部，其基于由上述光檢測器檢測出的光來評價上述被檢查物的表層的散射特性，

上述散射光測量探頭具有光纖，該光纖在一端與上述光學測量裝置進行連接，傳播來自上述光源的光并向上述被檢查物進行照射，并且在另一端與上述被檢查物接觸，接收照射到該被檢查物的光在上述被檢查物的內部進行傳播并返回來的光，將該光作為光信號而引導至上述光檢測器，

上述光纖傳播光，具有大致棒狀的芯部，該芯部具有根據上述被檢查物的檢測深度來確定的直徑。

2.根據權利要求1所述的散射光測量裝置，其特征在于，

上述光學測量裝置還具有檢測由上述散射光測量探頭接收到的光的第二光檢測器，

上述散射光測量探頭具有：

多個上述光纖；以及

校正光纖，其接收由上述光纖照射的光在上述被檢查物的內部進行傳播并返回來的光，并引導至上述第二光檢測器，

上述控制部根據由上述光檢測器和上述第二光檢測器檢測出的光的信號強度來評價上述被檢查物的散射特性。

3.根據權利要求2所述的散射光測量裝置，其特征在于，

設置有兩個以上的上述光纖并且設置有兩個以上的上述校正光纖，

上述光檢測器按每個上述光纖檢測上述信號強度，

上述第二光檢測器按每個上述校正光纖檢測上述信號強度，

上述控制部根據比所設定的閾值大的信號強度來評價上述被檢查物的散射特性。

4.根據權利要求2所述的散射光測量裝置，其特征在于，

設置有兩個以上的上述光纖并且設置有兩個以上的上述校正光纖，

上述光檢測器按每個上述光纖檢測上述信號強度，

上述第二光檢測器按每個上述校正光纖檢測上述信號強度，

上述控制部對各信號強度附加位置信息，

上述光學測量裝置還具有基于上述信號強度來實施圖像處理的圖像處理部。