[發(fā)明專利]散射光測量裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201380047195.9 | 申請日: | 2013-09-09 |
| 公開(公告)號: | CN104619233A | 公開(公告)日: | 2015-05-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 伊藤遼佑 | 申請(專利權(quán))人: | 奧林巴斯株式會社 |
| 主分類號: | A61B1/00 | 分類號: | A61B1/00;G01N21/17;G01N21/27 |
| 代理公司: | 北京林達(dá)劉知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 劉新宇 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 散射 測量 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種測量與測量對象的內(nèi)部構(gòu)造有關(guān)的信息來作為光的散射和吸收量的散射光測量裝置。
背景技術(shù)
以往,已知從生物體組織等比較弱的散射介質(zhì)散射返回到后方的散射返回光根據(jù)其照明光的空間相干度(空間相干性)而被檢測為干涉增強(qiáng)光(參照非專利文獻(xiàn)1)。利用了該現(xiàn)象的分光信息測量技術(shù)被稱為LEBS(Low-Enhanc?ed?Backscattering?Spectroscopy:低相干增強(qiáng)反向散射光譜),還認(rèn)真地研究了相對于散射介質(zhì)內(nèi)的散射平均自由程(散射系數(shù)的倒數(shù))ls*的干涉圖案的特性(參照非專利文獻(xiàn)2)。該散射平均自由程ls*與散射介質(zhì)的內(nèi)部構(gòu)造變化具有相關(guān)性,該散射平均自由程ls*用于檢測如能在早期的癌中觀察到那樣的微小的組織構(gòu)造變化。另外,還已知能夠利用散射返回光的干涉圖案來辨別大腸癌(參照非專利文獻(xiàn)3)。
在上述LEBS中,已知一種應(yīng)用于通過被插入到內(nèi)窺鏡的細(xì)徑探頭在體內(nèi)進(jìn)行非侵入測量的技術(shù)(參照專利文獻(xiàn)1)。在該技術(shù)中,為了獲取干涉圖案,在形成干涉圖案的面內(nèi)的多個不同位置(相當(dāng)于不同散射角度的位置)處配置檢測光纖,并且利用對應(yīng)的檢測器來檢測信號。
另外,LEBS的特征在于對散射體表層進(jìn)行限定性的后方散射光的檢測,以空間相干長度來控制散射體表層的檢測深度。圖13是表示作為以往的細(xì)徑探頭的散射光測量探頭的主要部分的示意圖。圖13所示的散射光測量探頭200具備:照明光纖201,其向測量對象物(散射體表層300)射出照明光;多個檢測光纖202a~202c,在測量對象物上反射和/或散射的照明光的返回光以不同的角度入射到這些檢測光纖202a~202c;以及光學(xué)元件210,其設(shè)置在照明光纖201和檢測光纖202a~202c的前端。
光學(xué)元件210呈圓柱狀,利用具有規(guī)定的折射率的透過性的玻璃來構(gòu)成。在測量時,光學(xué)元件210的前端接觸散射體表層300,由此將從照明光纖201和檢測光纖202a~202c到測量對象物的距離固定。
此時,散射體300的檢測深度D100由空間相干長度Lsc限定。當(dāng)將光學(xué)元件210的圓柱中心軸方向的距離設(shè)為R、將光學(xué)元件210的折射率設(shè)為n、將照明光纖201的直徑設(shè)為ρ、將從照明光纖201(光源)射出的光的波長設(shè)為λ時,空間相干長度Lsc滿足以下式(1)的關(guān)系。
Lsc=λR/πρn···(1)
在散射光測量探頭200中,以使空間相干長度Lsc成為與散射平均自由程ls*相比足夠小的值的方式設(shè)定R、ρ。
專利文獻(xiàn)1:美國專利申請公開第2009/0009759號說明書
非專利文獻(xiàn)1:Young?L.Kim,et.al,“Low-coherence?enhanced?backs?cattering:review?of?principles?and?applications?for?colon?cancer?screening”J?ournal?of?Biomedical?Optics,11(4),0411252006年
非專利文獻(xiàn)2:V,Turzhitsky,et.al,“Characterization?of?Light?transpo?rt?in?Scattering?Media?at?Subdiffusion?Length?Scales?with?Low-Coherence?Enhanced?Backscattering”IEEE?journal?of?selected?topics?in?quantum?electro?nics,Vol.16,No.3,619(2010)
非專利文獻(xiàn)3:Hemant?K.Roy,et.al,“Association?between?Rectal?Opt?ical?Signatures?and?Colonic?Neoplasia:Potential?Applications?for?Screening”Cancer?Research,69(10),4476(2009)
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的問題
另外,在LEBS中,如式(1)所示,空間相干長度Lsc需要控制距離R和直徑ρ這兩個參數(shù)。然而,在對散射體表層進(jìn)行深度限定性的散射光的檢測時,在如LEBS那樣不需要散射角度信息的情況下,需求更加簡單的裝置結(jié)構(gòu)。即,對于LEBS存在以下問題:在簡單的散射體表層的散射光檢測中裝置結(jié)構(gòu)是復(fù)雜的。
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