[發明專利]氮化鋁基板及III族氮化物層疊體在審
| 申請號: | 201380041307.X | 申請日: | 2013-09-04 |
| 公開(公告)號: | CN104583470A | 公開(公告)日: | 2015-04-29 |
| 發明(設計)人: | 弘中啟一郎;木下亨 | 申請(專利權)人: | 株式會社德山 |
| 主分類號: | C30B29/38 | 分類號: | C30B29/38;C30B25/20;H01L21/205;H01L33/32;H01S5/343 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 呂琳;劉明海 |
| 地址: | 日本山口*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 氮化 鋁基板 iii 氮化物 層疊 | ||
技術領域
本發明涉及一種新型的氮化鋁基板。具體而言,涉及一種具有氮化鋁單晶層的新型的氮化鋁基板,所述氮化鋁單晶層具有特定的傾斜的面作為主面。
背景技術
氮化鋁是禁帶寬度大到約6.2eV、且為直接躍遷型的半導體。由此,氮化鋁與屬于III族氮化物的氮化鎵(GaN)、和氮化銦(InN)的混晶、特別是Al在III族元素中所占的比例為50原子%以上的混晶(以下有時也稱作Al系III族氮化物單晶。)有望被用作紫外光發光元件材料。
為了形成紫外發光元件等半導體元件,需要在與n電極電接合的n形半導體層和與p電極電接合的p形半導體層之間形成包含包層(clad-layer)、活性層等的層疊結構。此外,從發光效率的方面考慮,在任意一層中都為高的晶體品質十分重要,即,晶體的位錯或點缺陷少、以及晶體組成分布均勻、雜質濃度低十分重要。
為了形成具有高的晶體品質的層疊結構,不僅需要晶體排列的單一性,而且晶體生長面的平坦性必須高。如果將生長面保持高平坦性地進行晶體生長,在生長面內就沒有組成的波動,可以得到低雜質濃度的膜。其結果是,可以制作高效率的發光元件。由于作為發光層的量子阱層通常具有數nm單位的微細的結構,因此量子阱層表面的平坦性尤其重要。通過使表面平坦,就有望改善面內的組成分布及雜質濃度。
關于生長面的平坦性,報告過幾個在使III族氮化物單晶在其表面生長的晶體生長用基板中研究其表面(主面)的偏斜角(off?angle)的例子。例如,已知有作為晶體生長用基板使用藍寶石基板、在具有特定的偏斜角的藍寶石基板上使氮化鎵(GaN)生長的方法(例如參照非專利文獻1)。另外,還已知有作為晶體生長用基板規定了碳化硅(SiC)基板的偏斜角的例子(例如參照專利文獻1)。
根據非專利文獻1,如果在以相對于c面((0001)面)傾斜了0.5°~2°的面作為主面的藍寶石基板上生長氮化鋁緩沖層、以及GaN層,則偏斜角越小,生長面的平坦性就越是提高。這是因為,通過將基板表面相對于c面在恰當的范圍內傾斜,就會在表面整齊地排列分子臺階(以下簡稱為臺階),在基板上生長III族氮化物單晶時,提供給基板表面的原子種容易被納入臺階中,可以得到平坦性高的優質的晶體。
但是,由于藍寶石基板是與III族氮化物組成不同的異種基板,因此作為III族氮化物的晶體生長用基板而言是不利的。這是因為,由于由藍寶石基板與III族氮化物的晶格常數的失配導致的晶體缺陷、裂紋的產生,從而無法得到高品質的晶體層。另外,使III族氮化物在高溫下生長,然而熱膨脹系數與III族氮化物不同的藍寶石會產生熱膨脹差,從這一點考慮也是不利的?;谙嗤睦碛桑琒iC基板也是不利的。特別是,該趨勢在使紫外發光元件形成所必需的III族元素中Al所占的比例為50原子%以上的混晶的Al系III族氮化物單晶生長的情況下會變得明顯。
為此,還報告過將III族氮化物基板作為晶體生長用基板、并限定了其偏斜角的例子(例如參照專利文獻2)。具體而言,記載了在與c面平行(相對于c面具有小于0.05°的范圍的偏斜角)、或相對于c面具有0.05°以上15°以下的范圍內的偏斜角的III族氮化物基板上外延生長半導體層的方法。報告顯示,通過實質性地與c面平行,可以形成結晶性良好的半導體層,獲得特性良好的器件。另一方面,報告顯示,通過設為0.05°以上15°以下,可以形成缺陷少的半導體層。
在該專利文獻2中,針對相對于c面具有0°以上15°以下的范圍內的偏斜角的III族氮化物基板進行了記載,然而在實施例中,卻沒有明示該III族氮化物基板的偏斜角。此外,在實施例中,給出了在利用化學機械研磨(CMP)將表面粗糙度(Ra)設為0.09~0.41nm的氮化鋁單晶基板上層疊了由Al的比例為20原子%以下的混晶構成的半導體層的例子。由于該實施例中得到的器件(在氮化鋁單晶基板上層疊了半導體層的半導體元件)具有高的光輸出(是特性良好的半導體器件),因此考慮使用與c面平行(相對于c面具有小于0.05°的范圍的偏斜角)的氮化鋁單晶基板。
在專利文獻3中,記載了相對于c面具有0.03~1.0°的偏斜角(θ)、偏斜方向相對于m軸方向的偏移角為0.5~16°、在基板表面不包含的區域的氮化物半導體自立基板,具體而言公開了GaN基板。
現有技術文獻
非專利文獻
非專利文獻1:X.Q.Shen?and?H.Okumura,Journal?of?Crystal?Growth,300(2007)75-78
專利文獻1:日本特開平11-233391號公報
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于株式會社德山,未經株式會社德山許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201380041307.X/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種熒光探針及其在檢測二價鐵中的應用
- 下一篇:一種活血通絡藥酒





