[發(fā)明專利]用于對(duì)部件的性能進(jìn)行測(cè)試的組件在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201380040709.8 | 申請(qǐng)日: | 2015-08-02 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104508504A | 公開(公告)日: | 2015-07-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | P.羅伊;T.伊梅 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 伊斯梅卡半導(dǎo)體控股公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 中國(guó)專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 原紹輝;譚祐祥 |
| 地址: | 瑞士拉*** | 國(guó)省代碼: | 瑞士;CH |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 部件 性能 進(jìn)行 測(cè)試 組件 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明有關(guān)于一種用于對(duì)部件的性能的進(jìn)行測(cè)試組件,并且特定而言,涉及用于在部件移動(dòng)和/或被加速或減速時(shí)對(duì)部件的性能進(jìn)行測(cè)試的組件。
背景技術(shù)
需要電部件在許多不同環(huán)境中操作。在某些情況下,需要電部件在移動(dòng)的同時(shí)操作;移動(dòng)的部件的性能可能不同于當(dāng)部件靜止時(shí)的其性能。因此,希望的是在若測(cè)試部件運(yùn)動(dòng)時(shí)其的性能可能被測(cè)試的情況下,確定該部件是否適合于特定應(yīng)用。
當(dāng)在部件運(yùn)動(dòng)的同時(shí)測(cè)試部件的電性能時(shí),重要的是在部件移動(dòng)時(shí)維持與部件電連通。這需要部件在其移動(dòng)時(shí)維持與電接觸件的電連接。用于保持部件與電接觸件相接觸的現(xiàn)有裝置并不足以當(dāng)部件以高速移動(dòng)時(shí)保持部件與電接觸件相接觸。
通常,多個(gè)測(cè)試/處理工位將限定用于部件處理或部件測(cè)試的組裝線。這些測(cè)試/處理工位通常位于可轉(zhuǎn)動(dòng)轉(zhuǎn)臺(tái)(turret)的外圍處。可轉(zhuǎn)動(dòng)轉(zhuǎn)臺(tái)包括部件裝卸頭,部件裝卸頭可以承載部件并且轉(zhuǎn)臺(tái)間歇地旋轉(zhuǎn)以在相繼的測(cè)試/處理工位之間運(yùn)輸部件。當(dāng)這些部件在每個(gè)工位處受處理/測(cè)試時(shí),轉(zhuǎn)臺(tái)必須停止;由最慢的處理/測(cè)試工位決定組件的總處理時(shí)間。希望使每個(gè)工位的測(cè)試/處理時(shí)間最小化從而使組件的總處理時(shí)間最小化。
形成設(shè)備部分的部件可以沉浸于寄生磁場(chǎng)中,寄生磁場(chǎng)由該設(shè)備中的其它部件生成。可能由于磁場(chǎng)的存在而影響到部件的性能。因此,對(duì)于許多應(yīng)用而言,希望的是,是否能確定在磁場(chǎng)存在的情況下的部件性能。
本發(fā)明的目的在于減輕或避免上文所提到的缺點(diǎn)或困難中的至少某些。
發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明,提供一種用于對(duì)部件的性能進(jìn)行測(cè)試的組件,該組件包括:
可轉(zhuǎn)動(dòng)轉(zhuǎn)臺(tái),其包括多個(gè)部件裝卸頭,部件裝卸頭中的每一個(gè)可以保持部件;
可旋轉(zhuǎn)頭組件,該可旋轉(zhuǎn)頭組件包括可旋轉(zhuǎn)頭,其中可旋轉(zhuǎn)頭包括一個(gè)或多個(gè)嵌套(nest),嵌套中的每一個(gè)具有電接觸件,并且嵌套中的每一個(gè)適合于接納部件使得部件可以電連接到該嵌套的電接觸件;
其中嵌套還被配置成使得當(dāng)可旋轉(zhuǎn)頭旋轉(zhuǎn)時(shí),其能保持著部件使得部件保持電連接到電接觸件;
其中可旋轉(zhuǎn)頭被布置成鄰近于轉(zhuǎn)臺(tái)從而使得部件可以從可轉(zhuǎn)動(dòng)轉(zhuǎn)臺(tái)上的部件裝卸頭直接傳遞到可旋轉(zhuǎn)頭上的嵌套;
處理器,其被布置成與可旋轉(zhuǎn)頭上的一個(gè)或多個(gè)嵌套的(多個(gè))電接觸件成電連通使得處理器能向嵌套中所保持的部件發(fā)送命令信號(hào),命令信號(hào)造成部件以預(yù)定義方式操作,并且從部件接收響應(yīng)信號(hào),當(dāng)部件以預(yù)定義方式操作時(shí)、同時(shí)當(dāng)部件由可旋轉(zhuǎn)頭旋轉(zhuǎn)時(shí),所述響應(yīng)信號(hào)由部件生成;以及
其中處理器被配置成從其接收的響應(yīng)信號(hào)確定部件的性能。
優(yōu)選地,可旋轉(zhuǎn)頭組件被布置成使得可旋轉(zhuǎn)頭在可轉(zhuǎn)動(dòng)轉(zhuǎn)臺(tái)下定位從而使得部件能從可轉(zhuǎn)動(dòng)轉(zhuǎn)臺(tái)上的部件裝卸頭直接傳遞到可旋轉(zhuǎn)頭上的嵌套內(nèi)。在這樣的配置中,部件可從可轉(zhuǎn)動(dòng)轉(zhuǎn)臺(tái)上的部件裝卸頭直接落入到可旋轉(zhuǎn)頭上的嵌套內(nèi)。
可旋轉(zhuǎn)頭可以被布置成使得其能旋轉(zhuǎn)從而使得在可旋轉(zhuǎn)頭上的嵌套與可轉(zhuǎn)動(dòng)轉(zhuǎn)臺(tái)上的部件裝卸頭對(duì)準(zhǔn)。
確定的性能可以是部件的電性能。優(yōu)選地,該部件是電部件。
可旋轉(zhuǎn)頭可包括兩個(gè)或更多個(gè)嵌套。例如,可旋轉(zhuǎn)頭可以包括四個(gè)嵌套。兩個(gè)或更多個(gè)嵌套可以在可旋轉(zhuǎn)頭上對(duì)稱地定位。
可旋轉(zhuǎn)頭可以被配置成僅具有單個(gè)旋轉(zhuǎn)軸線。
處理器還可被配置成從確定的部件性能得到如果部件在一個(gè)或多個(gè)線性方向上移動(dòng),部件的性能。例如,處理器可以從確定的性能得到如果部件沿著水平法向或豎直法向移動(dòng),部件將會(huì)如何表現(xiàn)。
可旋轉(zhuǎn)頭組件還可包括用于旋轉(zhuǎn)該可旋轉(zhuǎn)頭的促動(dòng)器。促動(dòng)器可以是伺服馬達(dá)。
可旋轉(zhuǎn)頭組件還可包括控制器,控制器可操作以控制可旋轉(zhuǎn)頭的旋轉(zhuǎn)速度。例如,控制器可以被布置成與促動(dòng)器通信,促動(dòng)器促動(dòng)可旋轉(zhuǎn)頭的旋轉(zhuǎn)使得能控制可旋轉(zhuǎn)頭的旋轉(zhuǎn)速度。這將使得可旋轉(zhuǎn)頭能被加速和/或減速。因此,也可以確定當(dāng)部件加速和/或減速時(shí)部件的性能。當(dāng)然,控制器也可以操作促動(dòng)器使得其以恒定速度旋轉(zhuǎn)該可旋轉(zhuǎn)頭。
可旋轉(zhuǎn)頭組件可以限定多個(gè)測(cè)試工位之一,測(cè)試工位布置于可轉(zhuǎn)動(dòng)轉(zhuǎn)臺(tái)的外圍處。可轉(zhuǎn)動(dòng)轉(zhuǎn)臺(tái)可以被配置成間歇地旋轉(zhuǎn)以在多個(gè)測(cè)試工位之間運(yùn)輸部件。
可旋轉(zhuǎn)頭的旋轉(zhuǎn)優(yōu)選地與轉(zhuǎn)臺(tái)的旋轉(zhuǎn)同步,使得在轉(zhuǎn)臺(tái)停止的時(shí)段期間確定部件的性能。
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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