[發明專利]用于對部件的性能進行測試的組件

在審

• 申請號: 201380040709.8
• 申請日: 2015-08-02
• 公開（公告）號: CN104508504A
• 公開（公告）日: 2015-07-29
• 發明（設計）人: P.羅伊;T.伊梅
• 申請（專利權）人: 伊斯梅卡半導體控股公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 原紹輝;譚祐祥

1.一種用于對部件的性能進行測試的組件，所述組件包括：

可轉動轉臺，其包括多個部件裝卸頭，所述部件裝卸頭中的每一個可以保持部件；

可旋轉頭組件，所述可旋轉頭組件包括可旋轉頭，其中所述可旋轉頭包括一個或多個嵌套，所述嵌套中的每一個具有電接觸件，并且所述一個或多個嵌套中的每一個適合于接納部件從而使得所述部件能電連接到所述嵌套的電接觸件；

其中所述嵌套還配置成使得當所述可旋轉頭旋轉時，其能保持部件使得所述部件保持電連接到所述電接觸件；

其中所述可旋轉頭布置成鄰近于所述轉臺使得部件可以從可轉動轉臺上的部件裝卸頭直接傳遞到所述可旋轉頭上的嵌套；

處理器，其布置成與所述可旋轉頭上的一個或多個嵌套的電接觸件成電連通從而使得所述處理器能向嵌套中所保持的部件發送命令信號、并且從所述部件接收響應信號，所述命令信號造成所述部件以預定義方式操作；在所述部件由所述可旋轉頭旋轉時，當所述部件以預定義方式操作時，響應信號由所述部件生成；以及

其中所述處理器配置成從其接收的響應信號確定所述部件的性能。

2.根據權利要求1所述的組件，其特征在于，所述可旋轉頭組件布置成使得所述可旋轉頭定位于所述可轉動轉臺下方，使得部件能從所述可轉動轉臺上的部件裝卸頭直接傳遞到所述可旋轉頭上的嵌套內。

3.根據權利要求1和2所述的組件，其特征在于，所述可旋轉頭配置成僅具有單個旋轉軸線。

4.根據前述權利要求中任一項所述的組件，其特征在于，所述處理器還配置成從所確定的部件性能得到如果所述部件在一個或多個線性方向上移動的情況下，所述部件的性能。

5.根據前述權利要求中任一項所述的組件，其特征在于，所述可旋轉頭組件還包括控制器，所述控制器可通過操作以控制所述可旋轉頭的旋轉速度。

6.根據前述權利要求中任一項所述的組件，其特征在于，所述可旋轉頭包括兩個或更多個嵌套。

7.根據前述權利要求中任一項所述的組件，其特征在于，在所述可旋轉頭組件中的一個或多個嵌套各自包括固定部分和可移動部分，其中所述固定部分和可移動部分配置成協同工作以便限定容置件，所述容置件能接納部件的至少一部分，其中所述可移動部分能在第一位置與第二位置之間移動，其中在所述第一位置，所述容置件敞開使得所述部件的至少部分能移動到所述容置件內并且電連接到設置于所述嵌套中的電接觸件，并且在所述第二位置，所述容置件閉合使得定位于所述容置件中的所述部件的至少部分能牢固固定于所述容置件內，其中所述嵌套還包括偏壓裝置，所述偏壓裝置布置成使所述可移動部分朝向其第二位置偏壓從而使得當所述可旋轉頭旋轉時，部件能維持電連接到設置于所述嵌套中的所述電接觸件。

8.根據權利要求7所述的組件，其特征在于，所述可旋轉頭組件還包括促動器，所述促動器可操作以實現所述嵌套的所述容置件的打開和閉合。

9.根據前述權利要求中任一項所述的組件，其特征在于，所述用于對部件的性能進行測試的組件還包括磁性測試工位，所述磁性測試工位包括：

電磁體，所述電磁體能由電流操作以提供磁場；

托架，其包括嵌套，所述嵌套具有電接觸件并且所述嵌套適合于保持部件與所述嵌套的電接觸件成電連接，并且其中所述托架能夠移動以將所述嵌套中所接納的部件載運到使所述部件沉浸在由所述電磁體所生成的磁場中的區域；

處理器，其布置成與所述托架上的所述嵌套的所述電接觸件成電連通使得所述處理器能向保持在所述嵌套中的部件發送命令信號、并且從所述部件接收響應信號，所述命令信號造成所述部件以預定義方式操作；在所述部件沉浸于所述磁場中時，當所述部件以預定義方式操作時，響應信號由所述部件生成；以及

其中所述處理器配置成從其接收的響應信號確定所述部件的性能。

10.根據權利要求9所述的組件，其特征在于，所述托架配置成使得其能鄰近于所述可轉動轉臺定位使得部件能從所述可轉動轉臺上的部件裝卸頭直接傳遞到托架上的嵌套。

11.根據權利要求9或19所述的組件，其特征在于，所述磁性測試工位還包括用于調整磁場強度的裝置，其中用于調整磁場強度的裝置包括用于調整在所述電磁體的電線圈中傳導的電流量值的裝置。