[發明專利]谷粒外觀測定裝置

有效

• 申請號: 201380034156.5
• 申請日: 2013-05-16
• 公開（公告）號: CN104428657B
• 公開（公告）日: 2016-11-09
• 發明（設計）人: 松島秀昭;石突裕樹;竹內宏明
• 申請（專利權）人: 株式會社佐竹
• 主分類號: G01N21/85
• 分類號: G01N21/85
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 曾賢偉;文志

技術領域

本發明涉及一種谷粒外觀測定裝置，其具備使用為了進行測定而拍攝的多個的谷粒的圖像信息，生成、保存及/或表示在谷粒鑒定皿上放入了谷粒的狀態的集合圖像(模擬圖像)。

背景技術

以往，使用掃描儀等拍攝裝置來拍攝谷粒，并使用拍攝獲得的圖像信息來進行該谷粒的判別。在專利文獻1中記載了從拍攝谷粒得到的圖像信息中一粒一粒地抽取谷粒，以粒為單位來判別抽取的上述谷粒，并在以粒為單位進行排列的狀態下顯示判別的結果。依據此顯示方法，能夠如圖12所述那樣顯示判別后的各谷粒。

即使在目前，仍通過目視來檢查谷粒。使用專利文獻2中記載的被稱為盒(carton)的谷粒鑒定皿來進行目視檢查。利用谷粒鑒定皿進行的目視檢查的價值在于，根據放在谷粒鑒定皿上的狀態的谷粒，一眼即能進行大致的判別。

即使在使用專利文獻1記載的光學的方法來進行檢查的情況下，也希望能夠通過把在上述檢查中使用的樣本谷粒放入到谷粒鑒定皿上的狀態的圖像進行保存以及顯示。

但是，將通過掃描儀等拍攝裝置拍攝后的樣本谷粒放入到谷粒鑒定皿上，使用與上述拍攝裝置不同的其他拍攝單元(數字相機等)拍攝放入后的谷粒鑒定皿不僅耗費工時，還必須相關聯地保存以及顯示互相的圖像信息。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開2004-361333號公報

專利文獻2：日本特許第4716389號公報

發明內容

發明要解決的課題

本發明鑒于上述情況，其目的在于使用由掃描儀等拍攝裝置拍攝的圖像信息來進行谷粒的檢查，并且使用該圖像信息來生成表示將谷粒放入到谷粒觀察皿上的狀態的集合圖像(模擬圖像)，由此在進行光學檢查的同時根據該集合圖像能夠模擬地進行使用谷粒觀察皿的目視的檢查。

解決課題的方法

本發明為了解決上述問題提及以下一種技術手段，一種谷粒外觀測定裝置，其具備：拍攝單元，拍攝多個谷粒；分析單元，以粒為單位分析該拍攝單元拍攝到的谷粒的圖像信息；加工單元，對所述圖像信息進行加工來形成所述谷粒的集合圖像；以及保存及/或顯示所述集合圖像的單元，所述加工單元從所述圖像信息中以粒為單位抽取谷粒的圖像，將抽取的以粒為單位的各谷粒的圖像配置成相互密接狀態(或密集狀態)，從而形成所述谷粒的圖像的集合圖像。

提及以下一種技術手段，在所述加工單元設置面積設定值輸入部，從該面積設定值輸入部輸入用于設定在所述密接狀態下谷粒的圖像彼此重疊的部分的面積的大小的設定值，并對所述面積的大小設置上限。

提及一種技術手段，通過在所述加工單元的面積設定值輸入部輸入所述設定值的最小值，能夠形成谷粒的圖像彼此不重疊地接觸的狀態的集合圖像。

提及一種技術手段，在所述集合圖像中設置外框，使該外框的形狀成為與谷粒鑒定皿的谷粒載置面相同的形狀。

提及一種技術手段，在通過所述加工單元形成的集合圖像中，以特定的顏色表示在各谷粒的圖像之間產生的間隙的部分來進行保存及/或表示。

發明的效果

本發明的谷粒外觀測定裝置可通過光學的方法檢查谷粒的外觀，并且能夠通過表示將該檢查的谷粒放入到目視檢查中使用的谷粒鑒定皿的狀態的集合圖像(模擬圖像)進行保存或顯示。由此，能夠在獲得光學檢查的結果的同時，使用上述集合圖像模擬地進行利用谷粒鑒定皿的目視的檢查。

在本發明的谷粒外觀測定裝置的加工方法中，因為設定上限以使谷粒的圖像彼此重疊的部分的面積的大小不會成為一定量以上，所以能夠表現與放入到谷粒鑒定皿的狀態的谷粒相同的谷粒彼此的重疊。

在上述集合圖像中，能夠容易地生成谷粒的圖像彼此不重疊地接觸的狀態的集合圖像，只要是該集合圖像則不存在谷粒的圖像彼此的重疊，所以能夠顯示各谷粒的全部的圖像。

因為使上述集合圖像的外框成為與谷粒鑒定皿的谷粒載置面相同的形狀，所以易于進行利用該集合圖像的模擬的目視檢查。

因為通過在谷粒鑒定皿中使用的藍色、白色或黑色等特定的顏色來表示上述集合圖像中的各谷粒間的間隙，所以易于進行利用該集合圖像的模擬的目視檢查。

附圖說明

圖1是本發明的谷粒外觀測定裝置的立體圖。

圖2是表示本發明的集合圖像制作順序的流程圖。

圖3是表示本發明的集合圖像制作方法。

圖4是表示本發明的集合圖像制作方法。

圖5是表示本發明的集合圖像制作方法。