[發明專利]用于沉積涂層的方法和涂層切削工具無效
| 申請號: | 201380028292.3 | 申請日: | 2013-05-28 |
| 公開(公告)號: | CN104379796A | 公開(公告)日: | 2015-02-25 |
| 發明(設計)人: | 喬恩·安德森;馬茨·約翰松;雅各布·舍倫 | 申請(專利權)人: | 山高刀具公司 |
| 主分類號: | C23C14/02 | 分類號: | C23C14/02;C23C14/06;C23C14/32;C23C14/35;C23C30/00;C23C14/34;C23C28/04;C23C28/00 |
| 代理公司: | 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219 | 代理人: | 張爽;郭國清 |
| 地址: | 瑞典法*** | 國省代碼: | 瑞典;SE |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 沉積 涂層 方法 切削 工具 | ||
1.一種用于將硬質耐磨涂層沉積在硬質合金的工具刀體(1)上的方法,所述硬質合金例如是燒結碳化物、金屬陶瓷、陶瓷、立方氮化硼基材料或高速鋼的硬質合金,其中所述涂層包含層(2),和所述方法包括
-使用包含元素Me的元素復合材料和/或合金化源材料,通過高度電離物理氣相沉積來沉積所述層(2),其中Me為Ti、V、Cr、Y、Zr、Nb、Mo、Hf、Ta、W、B、Al和Si中的一種或多種,
-使用包含元素C、N、O和S中的一種或多種的工藝氣體,
-在總層沉積時間D總的至少一個部分Dhi期間,其中i=1、2、3……,施加第一基底偏置電位Ub1,其中-900V<Ub1<-300V,其中Dhi>0.05D總,由此在所述至少一個部分Dhi期間形成一個第一子層(3),和
-在總沉積時間D總的至少一個部分Dli期間,其中i=1、2、3……,施加第二基底偏置電位Ub2,其中-150V<Ub2<0V,其中Dli>0.05D總,所述部分Dli處于部分Dhi之前、之后和/或之間,和由此在所述至少一個部分Dli期間形成一個第二子層(4)。
2.根據權利要求1所述的方法,其中所述基底偏置電位在部分Dhi與部分Dli之間或在部分Dli與部分Dhi之間的斜坡時間小于0.02D總,優選小于0.01D總。
3.根據前述權利要求中任一項所述的方法,其中所述第一基底偏置電位Ub1在-350V與-700V之間。
4.根據前述權利要求中任一項所述的方法,其中所述方法包括
-使用具有一個或多個陰極的陰極電弧蒸發,
-施加工藝壓力p,其中0.3Pa<p<8Pa,
-施加工藝溫度T,其中200℃<T<800℃,和
-對于每一陰極施加在50A與300A之間的蒸發電流。
5.根據權利要求1至3中任一項所述的方法,其中所述方法包括
-使用高度電離磁控濺射,
-施加工藝壓力p,其中0.1Pa<p<5Pa,
-施加工藝溫度T,其中200℃<T<800℃,和
-向濺射靶材施加在0.5W/cm2與15W/cm2之間的平均功率密度。
6.根據前述權利要求中任一項所述的方法,其中所述層沉積包含至少兩個部分Dhi。
7.根據前述權利要求中任一項所述的方法,其中所述層沉積包含至少一個序列Dli+Dhi,其中i=1、2、3……,每一部分Dhi處于每一序列Dli+Dhi的末端處。
8.根據前述權利要求中任一項所述的方法,其中所述層沉積包含單一部分Dh1和單一部分Dl1,所述部分Dh1處于所述層沉積時間的末端處。
9.根據前述權利要求中任一項所述的方法,其中所述方法包括以如下方式來沉積所述層,即,使用具有根據化學式Ti1-X1-Y1AlX1MeY1的組成的源材料,其中0.2<X1<0.7,優選0.4<X1<0.7,0≤Y1<0.3,優選0≤Y1<0.15,最優選Y1=0,和含有元素N、C和O中的一種或多種的工藝氣體,優選所述工藝氣體為N2。
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