[發明專利]用于自動地光學檢查車輛的至少一個車輪的胎面花紋的方法和系統

有效

• 申請號: 201380025595.X
• 申請日: 2013-04-03
• 公開（公告）號: CN104662390B
• 公開（公告）日: 2018-02-23
• 發明（設計）人: M·路德;K·揚科夫斯卡
• 申請（專利權）人: 羅伯特·博世有限公司
• 主分類號: G01B11/22
• 分類號: G01B11/22;G01M17/02
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司72001
• 代理人: 梁冰,宣力偉

1.用于自動地光學檢查車輛（10）的至少一個車輪（20；21）的胎面花紋的方法，包括以下步驟：

- 用至少一個照射裝置（90；91）的射線（110；111）照射所述胎面花紋的至少一個區段；

- 用至少一個射線探測裝置（120；121）探測被胎面花紋反射的射線（130；131）；

- 用數據處理裝置（140）處理所述被反射的射線（130；131）；并且

- 在考慮對冬季道路條件的適用性的情況下輸出關于所述胎面花紋的二維和/或三維結構的評估結果，

其特征在于，通過照射所述胎面花紋的至少一個區段產生胎面溝紋的陰影；并且由所述陰影的寬度確定花紋深度。

2.按照權利要求1所述的方法，其中所述至少一個照射裝置（90；91）的射線發射出不相干的電磁射線。

3.按照權利要求1或2所述的方法，其中所述至少一個照射裝置（90；91）從相互不同的方向照射所述胎面花紋。

4.按照權利要求1或2所述的方法，其中所述胎面花紋被不同的照射裝置（90；91）分別用不同的射線同時照射，并且其中所述不同的射線分別被不同的射線探測裝置（120；121）探測。

5.按照權利要求1或2所述的方法，其中對被反射的射線的處理步驟包括圖像分析評估，借助于所述圖像分析評估來確定胎面花紋的結構和/或花紋深度。

6.按照權利要求1或2所述的方法，其中所述照射裝置（90；91）和/或所述射線探測裝置（120；121）布置在車道路面（50）的內部或上方或下方。

7.按照權利要求1或2所述的方法，其中在所述車輛的一個輪軸的至少兩個車輪上同時進行對相應的胎面花紋的檢查。

8.按照權利要求1或2所述的方法，其中當所述車輛（10）在所述照射裝置（90；91）或者所述射線探測裝置（120；121）上方移動時進行所述檢查。

9.按照權利要求2所述的方法，其中所述不相干的電磁射線在可見范圍內。

10.按照權利要求5所述的方法，其中所述圖像分析評估為灰度值分析。

11.按照權利要求7所述的方法，其中在多個輪軸上同時進行對相應的胎面花紋的檢查。

12.用于自動地光學檢查車輛（10）的至少一個車輪（20；21）的胎面花紋的系統，包括：

- 至少一個用于發出射線（110；111）的照射裝置（90；91）；

- 至少一個用于探測被胎面花紋反射的射線（139；131）的射線探測裝置（120；121）；

- 用于處理被反射的射線（130；131）的數據處理裝置（140）；以及

- 在考慮對冬季道路條件的適用性的情況下用于輸出關于胎面花紋的二維和/或三維結構的評估結果的輸出裝置（150），

其特征在于，通過所述數據處理裝置（140）能夠由所述被胎面花紋反射的射線的陰影的寬度確定花紋深度。