[發(fā)明專利]薄膜晶體管和顯示裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201380023934.0 | 申請日: | 2013-05-08 |
| 公開(公告)號: | CN104272463B | 公開(公告)日: | 2017-08-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 森田晉也;三木綾;田尾博昭;釘宮敏洋 | 申請(專利權(quán))人: | 株式會社神戶制鋼所 |
| 主分類號: | H01L29/786 | 分類號: | H01L29/786 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司11021 | 代理人: | 張玉玲 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 薄膜晶體管 顯示裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及用于液晶顯示器或有機EL顯示器等顯示裝置的薄膜晶體管(TFT)和具備該TFT的顯示裝置。
背景技術(shù)
非晶(非晶質(zhì))氧化物半導(dǎo)體,與通用的非晶硅(a-Si)相比,具有高載流子遷移率(也稱為場效應(yīng)遷移率。以下,有時僅稱為“遷移率”。),光學帶隙大,能夠以低溫成膜。因此,期待其面向要求大型、高分辨率、高速驅(qū)動的新一代顯示器或耐熱性低的樹脂基板等的應(yīng)用。
作為上述氧化物半導(dǎo)體,可列舉由銦、鎵、鋅和氧構(gòu)成的非晶氧化物半導(dǎo)體(In-Ga-Zn-O,以下有時稱為“IGZO”。)。例如在非專利文獻1和2中,公開的是將In∶Ga∶Zn=1.1∶1.1∶0.9(原子%比)的氧化物半導(dǎo)體薄膜用于薄膜晶體管(TFT)的半導(dǎo)體層(活性層)。另外,在專利文獻1中公開有一種由In、Ga、Zn和O構(gòu)成的非晶氧化物半導(dǎo)體(IGZO)。
另一方面,在專利文獻2中,使用的是由銦、鋅、錫和氧構(gòu)成的非晶氧化物半導(dǎo)體(In-Zn-Sn-O,以下有時稱為“IZTO”。)。
為了應(yīng)對近年來的顯示裝置的大畫面化、高精細化和高速驅(qū)動化,就要求具有優(yōu)異的特性的材料。具體來說,就是在使用氧化物半導(dǎo)體作為薄膜晶體管的半導(dǎo)體層時,不僅要求載流子遷移率高,而且還要求TFT的開關(guān)特性(晶體管特性、TFT特性)優(yōu)異。即,要求(1)通態(tài)電流(對柵電極和漏電極施加正電壓時的最大漏電流)高;(2)斷態(tài)電流(分別對柵電極施加負電壓,對漏電極施加正電壓時的漏電流)低;(3)S值(Subthreshold Swing,亞閾值擺幅,使漏電流提高1位數(shù)量級所需要的柵電壓)低;(4)閾值(向漏電極施加正電壓,向柵電壓施加正負任意一種電壓時,漏電流開始流通的電壓,也稱為閾值電壓)在時間上不發(fā)生變化而保持穩(wěn)定(意味著在基板面內(nèi)均勻);并且,(5)遷移率高;等。
此外,要求使用上述氧化物半導(dǎo)體層的薄膜晶體管對于電壓施加或光照射等應(yīng)力的耐受性(應(yīng)力耐受性)優(yōu)異。例如指出的有:在對于柵電極持續(xù)施加電壓時、或持續(xù)照射光吸收開始的藍色波段時,在薄膜晶體管的保護膜與半導(dǎo)體層界面,電荷被捕獲,發(fā)生閾值電壓偏移這樣的開關(guān)特性變化。另外,在液晶面板驅(qū)動之時、或?qū)烹姌O施加負偏壓而使像素點亮時等情況下,從液晶元件泄漏的光會照射到薄膜晶體管上,而該光對于薄膜晶體管施加應(yīng)力而成為使特性劣化的原因。在實際使用薄膜晶體管時,若由于電壓施加造成的應(yīng)力導(dǎo)致開關(guān)特性發(fā)生變化,則會招致液晶顯示器或有機EL顯示器等顯示裝置自身的可靠性降低。因此期望應(yīng)力耐受性的提高(應(yīng)力施加前后的變化量少)。特別是,有顯示器越大型化、高速驅(qū)動化,遷移率就越高,就越要求應(yīng)力耐受性提高的傾向。
已知:上述的電壓施加或光照射等應(yīng)力導(dǎo)致的TFT特性的劣化的原因在于,在應(yīng)力施加過程中,會在氧化物半導(dǎo)體本身形成缺陷,或在氧化物半導(dǎo)體層表面與保護該氧化物半導(dǎo)體層等的保護膜的界面形成缺陷等。或者,已知:雖然在蝕刻源-漏電極時,出于防止因氧化物半導(dǎo)體層受到損傷而使TFT特性降低的目的,會在氧化物半導(dǎo)體層之上形成蝕刻阻擋層,但在這種情況下,也會在氧化物半導(dǎo)體層表面與蝕刻阻擋層的界面形成缺陷,使TFT特性降低。作為上述保護膜和蝕刻阻擋層,一般經(jīng)常使用SiO2、Al2O3、HfO2這樣的氧化物系膜。但是,在氧化物半導(dǎo)體層的表面(與保護膜或蝕刻阻擋層的界面)若有水分子和氧分子吸附,則氧化物半導(dǎo)體層中的載流子發(fā)生增減,因此發(fā)生閾值電壓的偏移,招致可靠性的降低。
為了能夠應(yīng)對像近年來這樣的顯示器的大型化、高速驅(qū)動化,進一步要求TFT特性和應(yīng)力耐受性優(yōu)異的材料。
現(xiàn)有技術(shù)文獻
專利文獻
專利文獻1:日本專利第4568828號公報
專利文獻2:日本特開2008-243928號公報
非專利文獻
非專利文獻1:固體物理,Vol44,P621(2009)
非專利文獻2:Nature,Vol432,P488(2004)
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明所要解決的課題
本發(fā)明是鑒于上述情況而完成的。本發(fā)明的目的在于,提供一種具備氧化物半導(dǎo)體層的薄膜晶體管的開關(guān)特性和應(yīng)力耐受性良好,特別是應(yīng)力施加前后的閾值電壓變化量小、穩(wěn)定性優(yōu)異并具有高遷移率的薄膜晶體管,以及具備該薄膜晶體管的顯示裝置。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的





