[發(fā)明專利]具有測(cè)試托盤的測(cè)試系統(tǒng)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201380016712.6
• 申請(qǐng)日: 2013-01-04
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN104205786A
• 公開(kāi)（公告）日: 2014-12-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: P·G·帕納蓋斯
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 蘋果公司
• 主分類號(hào): H04M1/24
• 分類號(hào): H04M1/24
• 代理公司: 中國(guó)國(guó)際貿(mào)易促進(jìn)委員會(huì)專利商標(biāo)事務(wù)所 11038
• 代理人: 馮玉清

1.一種用于在測(cè)試期間容納待測(cè)裝置的測(cè)試裝置，包括：

待測(cè)裝置接收結(jié)構(gòu)，其被配置為接收待測(cè)裝置；

所述待測(cè)裝置接收結(jié)構(gòu)的至少一個(gè)活動(dòng)部分，其被配置為將所 述待測(cè)裝置保持在所述待測(cè)裝置接收結(jié)構(gòu)內(nèi)；以及

致動(dòng)構(gòu)件，其被配置為移動(dòng)所述活動(dòng)部分以將所述待測(cè)裝置從 所述待測(cè)裝置接收結(jié)構(gòu)釋放。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其中所述至少一個(gè)活動(dòng)部分包括 活動(dòng)拐角部分，并且其中所述活動(dòng)拐角部分朝著所述待測(cè)裝置接收 結(jié)構(gòu)的中心部分偏置。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)試裝置，其中所述活動(dòng)拐角部分包括至少 一個(gè)彈簧加載構(gòu)件。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其中所述待測(cè)裝置接收結(jié)構(gòu)包括 基座部分和至少一個(gè)側(cè)壁，其中所述基座部分和所述至少一個(gè)側(cè)壁 限定凹陷部分，并且其中所述活動(dòng)部分被配置為將所述待測(cè)裝置保 持在所述凹陷部分內(nèi)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，還包括被配置為在測(cè)試期間將所 述待測(cè)裝置電耦合至測(cè)試工位的多個(gè)觸點(diǎn)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試裝置，還包括具有第一端和第二端的纜 線，其中所述第一端電耦合至所述多個(gè)觸點(diǎn)，并且其中所述第二端 被配置為與所述待測(cè)裝置中的輸入輸出端口配合。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)試裝置，其中所述待測(cè)裝置接收結(jié)構(gòu)包括 至少一個(gè)凹槽，并且其中所述纜線嵌入在所述至少一個(gè)凹槽中。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)試裝置，其中所述纜線包括信號(hào)線，所述 信號(hào)線選自以下各項(xiàng)構(gòu)成的組：正電源線、接地電源線、數(shù)據(jù)線、 通用串行總線信號(hào)線、通用異步接收器/發(fā)送器線和控制線。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其中所述待測(cè)裝置接收結(jié)構(gòu)可圍 繞旋轉(zhuǎn)軸線旋轉(zhuǎn)，并且其中所述待測(cè)裝置接收結(jié)構(gòu)包括至少一個(gè)重 量平衡特征，所述至少一個(gè)重量平衡特征被配置為當(dāng)所述待測(cè)裝置 被接收在所述待測(cè)裝置接收結(jié)構(gòu)內(nèi)時(shí)將所述待測(cè)裝置接收結(jié)構(gòu)的重 量相對(duì)于所述旋轉(zhuǎn)軸進(jìn)行平衡。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測(cè)試裝置，其中所述至少一個(gè)重量平衡特征 包括位于所述待測(cè)裝置接收結(jié)構(gòu)中的多個(gè)孔。

11.一種用于對(duì)待測(cè)裝置進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試系統(tǒng)，包括：

測(cè)試托盤，其被配置為接收所述待測(cè)裝置，其中所述測(cè)試托盤 包括被配置為當(dāng)所述待測(cè)裝置被所述測(cè)試托盤接收時(shí)電耦合至所述 待測(cè)裝置的多個(gè)測(cè)試托盤觸點(diǎn)；以及

測(cè)試固定裝置，其被配置為接收所述測(cè)試托盤，其中所述測(cè)試 固定裝置包括被配置為當(dāng)所述測(cè)試托盤被所述測(cè)試固定裝置接收時(shí) 與所述多個(gè)測(cè)試托盤觸點(diǎn)配合的多個(gè)測(cè)試固定裝置觸點(diǎn)。

12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的測(cè)試系統(tǒng)，其中所述測(cè)試托盤包括具有第一 端和第二端的纜線，其中所述第一端電耦合至所述多個(gè)測(cè)試托盤觸 點(diǎn)，其中所述第二端被配置為與所述待測(cè)裝置中的連接器配合，并 且其中所述纜線被配置為在所述待測(cè)裝置與所述多個(gè)測(cè)試托盤觸點(diǎn) 之間傳送信號(hào)。

13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的測(cè)試系統(tǒng)，其中所述多個(gè)測(cè)試托盤觸點(diǎn)包括 多個(gè)接觸墊，并且其中所述多個(gè)測(cè)試固定裝置觸點(diǎn)包括多個(gè)導(dǎo)電引 腳。

14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的測(cè)試系統(tǒng)，其中所述多個(gè)導(dǎo)電引腳包括多個(gè) 彈簧加載引腳，其中所述多個(gè)彈簧加載引腳中的每個(gè)彈簧加載引腳 具有相對(duì)于所述測(cè)試固定裝置的表面的相關(guān)高度，并且其中所述多 個(gè)彈簧加載引腳中的至少兩個(gè)彈簧加載引腳的高度是不同的。

15.根據(jù)權(quán)利要求11所述的測(cè)試系統(tǒng)，其中所述測(cè)試固定裝置包括多個(gè) 測(cè)試固定裝置接合特征，其中所述測(cè)試托盤包括多個(gè)測(cè)試托盤接合 特征，并且其中所述測(cè)試固定裝置接合特征被配置為當(dāng)所述測(cè)試托 盤被所述測(cè)試固定裝置接收時(shí)與所述測(cè)試托盤接合特征接合。

16.根據(jù)權(quán)利要求16所述的測(cè)試系統(tǒng)，其中所述多個(gè)測(cè)試固定裝置接合 特征中的至少一個(gè)測(cè)試固定裝置接合特征包括彈簧加載構(gòu)件。