[發(fā)明專利]具有測(cè)試托盤的測(cè)試系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201380016712.6 | 申請(qǐng)日: | 2013-01-04 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104205786A | 公開(公告)日: | 2014-12-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | P·G·帕納蓋斯 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘋果公司 |
| 主分類號(hào): | H04M1/24 | 分類號(hào): | H04M1/24 |
| 代理公司: | 中國(guó)國(guó)際貿(mào)易促進(jìn)委員會(huì)專利商標(biāo)事務(wù)所 11038 | 代理人: | 馮玉清 |
| 地址: | 美國(guó)加*** | 國(guó)省代碼: | 美國(guó);US |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 測(cè)試 托盤 系統(tǒng) | ||
本申請(qǐng)要求2012年5月15日提交的美國(guó)專利申請(qǐng)No.13/472,399以及 2012年2月6日提交的美國(guó)臨時(shí)專利申請(qǐng)No.61/595,572的優(yōu)先權(quán),這些專 利申請(qǐng)據(jù)此以引用的方式全文并入本文。
背景技術(shù)
本發(fā)明整體涉及測(cè)試系統(tǒng),且更具體地講,涉及將測(cè)試托盤用作測(cè)試 設(shè)備與待測(cè)裝置之間的界面的測(cè)試系統(tǒng)。
通常在組裝之后對(duì)電子裝置進(jìn)行測(cè)試以確保裝置性能符合設(shè)計(jì)規(guī)格。 例如,可在一系列測(cè)試工位處對(duì)裝置進(jìn)行測(cè)試以確保裝置中的部件及軟件 正令人滿意地工作。在每個(gè)測(cè)試工位處,操作人員可使用纜線將裝置耦合 至測(cè)試設(shè)備。在所有測(cè)試工位處的測(cè)試均成功之后,可將裝置運(yùn)送至最終 用戶。
附接及拆卸測(cè)試?yán)|線連接器的過程可縮減測(cè)試?yán)|線連接器的壽命,并 且對(duì)于測(cè)試系統(tǒng)操作人員而言,可能是麻煩且繁重的。如果不小心,則測(cè) 試可能不太準(zhǔn)確并消耗比所需時(shí)間更多的時(shí)間。另外,測(cè)試系統(tǒng)操作人員 與待測(cè)裝置之間的過度接觸可能增大待測(cè)裝置外觀損壞的風(fēng)險(xiǎn)。
因此將期望能夠提供執(zhí)行制造操作(諸如對(duì)電子裝置進(jìn)行測(cè)試操作) 的改進(jìn)方式。
發(fā)明內(nèi)容
可提供一種測(cè)試系統(tǒng),其中待測(cè)裝置被安裝在測(cè)試托盤中并且在多個(gè) 測(cè)試工位處進(jìn)行測(cè)試。要在給定測(cè)試工位處對(duì)待測(cè)裝置進(jìn)行測(cè)試,可將測(cè) 試托盤安裝在測(cè)試工位處的測(cè)試固定裝置中。每個(gè)測(cè)試工位處的測(cè)試設(shè)備 可經(jīng)由測(cè)試托盤與待測(cè)裝置通信。
每個(gè)測(cè)試托盤可具有相對(duì)于托盤的中心部分移動(dòng)的活動(dòng)拐角部分。可 使用一個(gè)或多個(gè)彈簧加載構(gòu)件來將活動(dòng)拐角部分朝著托盤的中心部分偏 置。當(dāng)需要將待測(cè)裝置安裝在測(cè)試托盤中時(shí),可使測(cè)試托盤上的桿件致動(dòng) 以將拐角部分移動(dòng)遠(yuǎn)離托盤的中心部分。在將待測(cè)裝置放置到測(cè)試托盤的 中心部分上之后,可釋放桿件以允許拐角部分返回至其平衡位置,從而將 待測(cè)裝置固定至測(cè)試托盤。
測(cè)試托盤可具有測(cè)試托盤觸點(diǎn),所述測(cè)試托盤觸點(diǎn)可用于將測(cè)試托盤 中的待測(cè)裝置電耦合至測(cè)試工位處的測(cè)試固定裝置。測(cè)試固定裝置可具有 與測(cè)試托盤上的觸點(diǎn)配合的對(duì)應(yīng)的測(cè)試固定裝置觸點(diǎn)。
測(cè)試托盤可具有一條或多條纜線。纜線可嵌入在測(cè)試托盤中的凹槽 中。測(cè)試托盤纜線可具有被配置為與待測(cè)裝置中的輸入輸出端口配合的第 一端以及電耦合至測(cè)試托盤觸點(diǎn)的第二端。當(dāng)測(cè)試托盤安裝在測(cè)試固定裝 置中時(shí),纜線可用于在測(cè)試固定裝置與待測(cè)裝置之間傳送信號(hào)。
測(cè)試托盤可具有用于相對(duì)于測(cè)試托盤的旋轉(zhuǎn)軸線平衡測(cè)試托盤的重量 的重量平衡特征,諸如孔。當(dāng)待測(cè)裝置被安裝在托盤中時(shí),重量平衡特征 可用于將托盤的質(zhì)量中心與待測(cè)裝置的質(zhì)量中心對(duì)齊。
測(cè)試固定裝置可具有當(dāng)測(cè)試托盤安裝于測(cè)試固定裝置中時(shí)與對(duì)應(yīng)接合 特征接合的接合特征,諸如一個(gè)或多個(gè)彈簧加載構(gòu)件。
測(cè)試固定裝置可具有被配置為檢測(cè)在測(cè)試固定裝置上是否存在測(cè)試托 盤的一個(gè)或多個(gè)檢測(cè)器。
測(cè)試固定裝置可具有可用于對(duì)待測(cè)裝置中的一個(gè)或多個(gè)電氣部件進(jìn)行 測(cè)試的測(cè)試設(shè)備。測(cè)試托盤可具有一個(gè)或多個(gè)開口以允許測(cè)試設(shè)備與正接 受測(cè)試的電氣部件通信。
在將待測(cè)裝置安裝進(jìn)測(cè)試托盤中之后,可將測(cè)試托盤纜線連接至待測(cè) 裝置。然后可通過將測(cè)試托盤觸點(diǎn)與測(cè)試固定裝置觸點(diǎn)配合來將測(cè)試托盤 安裝在測(cè)試工位處的測(cè)試固定裝置中。在將測(cè)試托盤安裝在測(cè)試固定裝置 中之后,可在測(cè)試固定裝置處對(duì)待測(cè)裝置進(jìn)行測(cè)試。可在另外的測(cè)試工位 處對(duì)待測(cè)裝置進(jìn)行測(cè)試,而不需要將待測(cè)裝置從測(cè)試托盤中移除或?qū)y(cè)試 托盤纜線從待測(cè)裝置拆卸的步驟。可通過將測(cè)試托盤安裝進(jìn)與每個(gè)另外的 測(cè)試工位相關(guān)聯(lián)的測(cè)試固定裝置中,來在另外的測(cè)試工位處對(duì)待測(cè)裝置進(jìn) 行測(cè)試。
根據(jù)附圖以及以下對(duì)優(yōu)選實(shí)施例的詳細(xì)描述,本發(fā)明的其他特征、本 發(fā)明的本質(zhì)以及各種優(yōu)點(diǎn)將更加顯而易見。
附圖說明
圖1為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的可使用測(cè)試托盤來制造的示例性電子裝置 的示意圖,該示例性電子裝置諸如平板電腦。
圖2為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的示例性電子裝置的透視圖,該示例性電子 裝置諸如可使用測(cè)試托盤來制造的類型的手持裝置。
圖3為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的制造設(shè)備的圖示,該制造設(shè)備為可用于制 造電子裝置的類型。
圖4為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的示出可如何將待測(cè)裝置安裝在被配置為接 收在測(cè)試工位測(cè)試固定裝置內(nèi)的測(cè)試托盤中的圖示。
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