[發明專利]熒光觀察方法和熒光觀察設備

有效

• 申請號: 201380016595.3
• 申請日: 2013-03-25
• 公開（公告）號: CN104204779B
• 公開（公告）日: 2017-05-10
• 發明（設計）人: 藤田克昌;永井健治;齊藤健太;山中真仁;瀧本真一
• 申請（專利權）人: 奧林巴斯株式會社
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64;G02B21/00;G01N33/58
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司11127
• 代理人: 呂俊剛,劉久亮

1.一種用于檢測從兩種或更多種熒光分子發射的多種熒光的熒光檢測方法，其特征在于，該熒光觀察方法包括以下步驟：

通過可見區中的具有等于或小于525nm的激發波長的激發光對兩種或更多種熒光分子的每種進行多光子激發，以利用所述兩種或更多種熒光分子的每種的深紫外區中的吸收波長帶將所述兩種或更多種熒光分子的每種多光子激發為第2激發態以上來產生熒光；以及

同時檢測在激發光的激發波長的短波長側、或短波長側和長波長側二者上產生的多種熒光。

2.根據權利要求1所述的熒光檢測方法，其特征在于，用于熒光檢測對象的所述兩種或更多種熒光分子的每種具有深紫外區和可見區中的吸收波長帶。

3.根據權利要求1所述的熒光檢測方法，其特征在于，所述激發光是超短脈沖激光束。

4.根據權利要求1所述的熒光檢測方法，其特征在于，利用短通濾波器僅檢測在所述激發波長的短波長側產生的熒光。

5.根據權利要求1所述的熒光檢測方法，其特征在于，檢測在所述激發波長的短波長側產生的具有400nm或更長的波長的熒光。

6.根據權利要求1所述的熒光檢測方法，其特征在于，以光譜選擇的方式檢測通過所述多光子激發產生的多種熒光。

7.根據權利要求1所述的熒光檢測方法，其特征在于，通過共焦檢測來檢測通過所述多光子激發產生的多種熒光。

8.根據權利要求1至7的任一項所述的熒光檢測方法，其特征在于，同時檢測通過所述多光子激發產生的源于一個光子的熒光和源于兩個光子的熒光。

9.一種熒光觀察設備，其特征在于該熒光觀察設備包括：

光源，其以高密度發射具有預定波長的光；

二次諧波產生元件，其使用來自所述光源的光產生可見區中的具有525nm或更短的波長的二次諧波；以及

顯微鏡，其被構造成利用由所述二次諧波產生元件產生的光對多種熒光分子進行多光子激發，將所述多種熒光分子多光子激發為第2激發態以上來產生熒光，使得能夠同時觀察到在所述激發光的波長的短波長側、或短波長側和長波長側二者上產生的多種熒光。

10.根據權利要求9所述的熒光觀察設備，其特征在于，該熒光觀察設備包括激發光產生單元，該激發光產生單元一體地設置有所述光源單元和所述二次諧波產生元件，以利用所述激發光產生單元產生的光對所述多種熒光分子進行多光子激發。

11.根據權利要求9或10所述的熒光觀察設備，其特征在于，所述二次諧波產生元件被構造成可插入源自所述光源的光路上并可從所述光路上移除。