[發明專利]紗線監測方法有效
| 申請號: | 201380013494.0 | 申請日: | 2013-03-15 |
| 公開(公告)號: | CN104203788B | 公開(公告)日: | 2017-02-22 |
| 發明(設計)人: | M·布爾歇特;V·杰勒 | 申請(專利權)人: | 里特機械公司 |
| 主分類號: | B65H63/06 | 分類號: | B65H63/06;G01N33/36 |
| 代理公司: | 廣州嘉權專利商標事務所有限公司44205 | 代理人: | 馮劍明 |
| 地址: | 瑞士溫*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 紗線 監測 方法 | ||
1.一種用于在紡織機械中監測紗線質量的方法,其中紗線穿過紡織機械的監控單元,通過所述監控單元測定至少一個與紗線物理參數相關的測量值M,并且其中參照至少一個參考值R計算出測量值M或從測量值得出的值,其特征在于,根據一個或者多個紗線專有的、在計算測量值M之前規定的紗線特征來選擇參考值R,其中所述紗線物理參數包括紗線粗度;作為基準測量過程的一部分確定參考值R,在每一基準測量過程中,獲取預先規定的參考紗線特征以及與所述紗線物理參數相關的參考紗線的測量值M,其中以測量值M或者從所述測量值得出的值為基礎,確定一個或者多個參考值R,所述紗線特征和參考值R以相互關聯形式存儲在數據庫中;根據紗線質量調整數據庫中的參考值R。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,基于所述紗線特征從含有多個參考值R的數據庫中提取所述參考值R。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,其中通過光學系統采集與紗線粗度相關的測量值M,所述光學系統分析紗線在光照下產生投影的幾何形狀。
4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,在選擇參考值R時,所述紗線特征包括紗線起毛程度、紗線材料、紗線均勻度、紗線纖維細度、紗線剛度、紗線捻度和/或紗線應力。
5.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,選擇單個值作為參考值R,其中將參考值R用作測量值M的額定值,并對測量值M或者從所述測量值得出的值進行計算,以確定它們與參考值R之間的絕對偏差。
6.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,參考值R作為單個值存在,對測量值M或者從所述測量值得出的值進行計算,以確定是否位于參考值R以下的最小值Mi和參考值R之上的最大值Ma之間。
7.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,參考值R包括第一參考值和第二參考值,其中第一參考值定義允許的最小值Mi,第二參考值定義允許的最大值Ma,在質量監測過程中,將檢查測量值M或者從所述測量值得出的值是否位于最小值Mi和最大值Ma之間。
8.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,測量值M的測定和分析是連續的。
9.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,以絕對值形式確定測量值M。
10.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,當超過參考值R的最大值Ma或者低于參考值R的最小值Mi時,手動地定期檢查紗線質量,并根據質量檢查結果重新規定參考值R或者保持參考值不變。
11.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,監測紗線質量之前,從數據庫中取出與紗線特征相關的參考值R并將其用于紗線質量監測。
12.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,數據庫存儲在紡織機械控制系統或者監控單元中。
13.紡織機械,含有至少一個用于監控紗線的至少一個物理參數的監控單元以及至少一個與監控單元有效連接的控制系統,其特征在于,所述控制系統被配置為根據上述權利要求中任一項所述的方法監控紗線質量。
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