[發明專利]光學裝置、光學測試臺及光學測試方法

有效

• 申請號: 201380005404.3
• 申請日: 2013-01-07
• 公開（公告）號: CN104136902B
• 公開（公告）日: 2018-01-23
• 發明（設計）人: E·皮特;V·派逖特;P·勒科克
• 申請（專利權）人: 卡斯蒂安測試與服務公司
• 主分類號: G01M11/04
• 分類號: G01M11/04;G01J1/02;G02B15/16;G02B26/08;H04N17/00
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所11038
• 代理人: 郭思宇

技術領域

本發明涉及一種光學裝置、光學測試臺及光學測試方法。

背景技術

為了測試光學或光電監測系統，以下稱為待測試的單元，已知使用包括光學裝置的光學測試臺，光學裝置用于提供可變聚散度的測試光波，即可提供被會聚、發散或準直的光波。

已知的光學裝置包括提供被稱為源光波的光波的光源、接收源光波并遮蔽一部分以提供稱為測試圖光波的光波的屏幕、以及聚光光學透鏡(或等同的)，用于接收測試圖光波和在光源和屏幕側呈現焦點。

更具體地，可用凹面鏡代替透鏡。

在已知的光學裝置中，光源和屏幕相對于透鏡一起移動，以將屏幕放置在透鏡或凹面鏡的焦點之后、之上或在之前，以使光學裝置分別提供發散、準直或會聚的測試光波。

測試光波用于由待測試的單元接收，待測試的單元因此觀察由屏幕形成的測試圖，比如該測試圖沿測試光波的會聚而所處的距離包括在小于五公里的值和無限遠(大于五公里的距離)之間。

待測試的單元用于聚焦在測試圖上和將該測試圖的圖像供應給信息處理裝置。信息處理裝置然后可對圖像實施不同的測試，更具體地，估計由待測試的單元實施的聚焦品質。

前面已知的光學裝置呈現的問題為，較難將測試圖準確地重新放置在透鏡或凹面鏡的焦點上。該重新放置需要對測試圖的位置進行多種操作和檢驗。另外，能夠將測試圖相對透鏡或凹面鏡放置的機械系統是復雜和昂貴的。

然而，這種重新放置是必要的。例如，為了確定待測試的單元的機械參考軸，已知要實施通過使用反射準直測試波的鏡的自動準直。然而，如果屏幕相對透鏡 或凹面鏡的焦點不準確，視頻或光學可視系統不再能夠監測到反射波。

而且，希望安置有一種光學系統，用于容易地提供可變聚散度的測試圖的光波。

發明內容

為達此目的，提供一種光學系統包括：

-稱為準直光波的平面光波的生成裝置，和

-準直光波偏置裝置，用于提供稱為測試光波的光波，所述偏置裝置呈現有可調節的焦距。

以可選的方式，偏置裝置的焦距是可調節的，更具體地可調至無窮大。

以可選的方式，焦距在從無窮大延伸到預定值的區間中是可調節的。

以可選的方式，預定值是負的。

以可選的方式，預定值是正的。

以可選的方式，所述偏置裝置包括：

-第一光學透鏡，用于接收準直光波且將其偏置，以提供稱為中間光波的光波；

-第二光學透鏡，用于接收所述中間光波且將其偏置，以提供測試光波；

-支撐所述兩個光學透鏡的間隔裝置，用于使得能夠調節兩個光學透鏡之間的間隔，該間隔取決于偏置裝置的焦距；和其中所述兩個光學透鏡呈現有相對立的焦距。

以可選的方式，所述第一光學透鏡是發散的和所述第二光學透鏡是會聚的。

以可選的方式，所述兩個光學透鏡的焦距的絕對值之比不等于1。

以可選的方式，所述兩個光學透鏡的材料相同。

以可選的方式，所述第一透鏡焦距的絕對值與所述第二透鏡焦距的絕對值之比包含于0.992和0.995之間。

以可選的方式，準直光波生成裝置包括：-發射源光波的光源；-部分透明且呈現一定圖案的屏幕，所述屏幕被安置穿過源光波，以遮掩一部分源光波和使得另一部分源光波通過；-準直儀，被配置用于接收并準直所述測試圖光波，用于提供準直光波。

另外，提供光學測試臺，包括：-根據本發明的光學系統；-稱為待測試的單元的光學或光電監測系統，用于接收測試光波和提供來自于測試光波的圖像；-信息處理裝置，用于對圖像實施一種或多種處理。

-另外，提供稱為待測試的單元的光學或光電監測系統的測試方法，包括：-調節偏置裝置的焦距，-提供被稱為準直光波的平面光波給偏置裝置，-由偏置裝置對準直光波進行偏置，以提供被稱為測試光波的光波；-提供測試光波給待測試的單元，通過每次將偏置裝置的焦距調節到不同值，這些步驟被實施多次。

以可選的方式，對準直光波進行偏置包括：-提供準直光波給第一光學透鏡以將其偏置，用于提供稱為中間光波的光波；-提供中間光波給第二光學透鏡以將其偏置，用于提供測試光波；和其中調節所述偏置裝置的焦距包括：-調節在所述兩個光學透鏡之間的間隔，該間隔取決于偏置裝置的焦距。

附圖說明

在參考附圖的詳細描述中將呈現本發明的實施方式，其中：

-圖1為根據本發明的光學測試臺的簡化視圖，

-圖2為圖1的光學測試臺的偏置裝置的剖面圖，