[發明專利]中空金屬納米粒子

有效

• 申請號: 201380003917.0
• 申請日: 2013-05-10
• 公開（公告）號: CN103945960A
• 公開（公告）日: 2014-07-23
• 發明（設計）人: 金相勳;黃教賢;趙俊衍;金洸賢
• 申請（專利權）人: LG化學株式會社
• 主分類號: B22F1/00
• 分類號: B22F1/00;B22F9/24;B82B3/00
• 代理公司: 北京鴻元知識產權代理有限公司 11327
• 代理人: 李靜;黃麗娟

技術領域

本發明要求2012年5月11日向韓國知識產權局提交的韓國專利申請No.10-2012-0050483的優先權和利益，并要求2013年1月30日向韓國知識產權局提交的韓國專利申請No.10-2013-0010526的優先權和利益，這兩個專利申請的全部內容以引用方式并入本文。

本發明涉及中空金屬納米粒子。

背景技術

由于電子轉移所需的能量根據物質尺寸而變化的量子限制效應和大的比表面積，納米粒子表現出與大塊狀態的物質完全不同的光學、電學和磁性特性。因此，由于這些特性，人們的關注集中在催化劑、電磁學、光學、醫藥等領域中。納米粒子可能為介于大塊與分子之間的中間狀態，因而考慮兩個方向的手段，即“自上而下”的手段與“自下而上”的手段，合成納米粒子是可能的。

合成金屬納米粒子的方法的例子包括在溶液中用還原劑還原金屬離子的方法，使用γ射線的方法，電化學方法等。然而，相關領域的方法的問題在于，難于合成具有均勻尺寸與形狀的納米粒子，或者有機溶劑的使用導致環境污染和高成本等。由于這些原因，難于經濟性地大規模生產納米粒子。因此，需要開發具有均勻尺寸的高質量納米粒子。

發明內容

技術問題

本申請致力于提供具有均勻尺寸的高質量中空金屬納米粒子。

技術方案

本申請的一個示例性實施方案提供中空金屬納米粒子，包括：中空芯部分和殼部分，所述殼部分包含第一金屬和第二金屬，其中，在粒子的元素分析數據中，存在至少兩個表示第一金屬和第二金屬中的至少一個的原子百分比的主峰。

本申請的一個示例性實施方案提供中空金屬納米粒子，包括：中空芯部分和殼部分，所述殼部分包含第一金屬和第二金屬，其中，在粒子的元素分析數據中存在至少兩個表示第一金屬和第二金屬中的至少一個的原子百分比的主峰，并且在粒徑的整個范圍內存在多個表示第一金屬或第二金屬的原子百分比的峰。

本申請的一個示例性實施方案提供中空金屬納米粒子，包括：中空芯部分和殼部分，所述殼部分包含第一金屬和第二金屬，其中，存在至少兩個表示第一金屬的原子百分比的主峰，存在至少兩個表示第二金屬的原子百分比的主峰。

本申請的一個示例性實施方案提供中空金屬納米粒子，包括：中空芯；至少一個包含第一金屬的第一殼；以及至少一個包含第二金屬的第二殼。

本申請的一個示例性實施方案提供中空金屬納米粒子，包括：中空芯；至少一個包含第一金屬和第二金屬的殼。

有益效果

本申請的優勢在于，提供了具有若干納米的均勻尺寸的中空金屬納米粒子，并且可以應用于多種領域。

附圖說明

圖1示出根據實施例1制得的中空金屬納米粒子中包含表面活性劑的中空金屬納米粒子的模型。

圖2示出根據實施例1制得的中空金屬納米粒子中去除了表面活性劑的中空金屬納米粒子的模型。

圖3示出根據實施例2制得的中空金屬納米粒子中包含表面活性劑的中空金屬納米粒子的模型。

圖4示出根據實施例2制得的中空金屬納米粒子中去除了表面活性劑的中空金屬納米粒子的模型。

圖5示出根據實施例1制得的中空金屬納米粒子的透射電鏡(TEM)圖像。

圖6示出在根據實施例1制得的中空金屬納米粒子HR-TEM圖像中，標示為區域4的中空芯的點以及標示為區域3的殼的點。

圖7示出圖6中圖像的區域3與區域4元素分析的EDS結果。

圖8示出由圖6中圖像的EDS譜線輪廓分析得到的沿著箭頭線的元素的原子百分比的結果。

圖9示出根據對比實施例1制得的中空金屬納米粒子的透射電鏡(TEM)圖像。

圖10示出根據實施例2制得的中空金屬納米粒子的透射電鏡(TEM)圖像。

圖11與12示出根據實施例3制得的中空金屬納米粒子的透射電鏡(TEM)圖像。

圖13示出由圖12的中空金屬納米粒子的EDS譜線輪廓分析得到的沿著箭頭線的元素的原子百分比的結果。

具體實施方式

參照以下詳述的示例性實施方案與附圖，本發明的優點與特征以及實現它們的方法將變得很明顯。然而，本發明并不限于下述的示例性實施方案，而可以以彼此不同的多種形式實施。

所述示例性實施方案僅用于使本申請的公開完整，并完整告知本申請所屬領域的技術人員本發明的范圍，本申請僅由權利要求書的范圍限定。為清楚說明起見，圖中標注的組成要素的尺寸和相對尺寸可為放大的。