[實用新型]OLED模組的老化壽命測試系統

有效

• 申請號: 201320891009.7
• 申請日: 2013-12-31
• 公開（公告）號: CN203721160U
• 公開（公告）日: 2014-07-16
• 發明（設計）人: 蘇萌;胡洪江;蘇良河;楊林;劉群興;蔣春旭;徐華偉;黃林軼;王潁凱;王深;劉嘉祁
• 申請（專利權）人: 工業和信息化部電子第五研究所
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G01M11/02
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 王茹;曾旻輝

技術領域

本發明涉及OLED模組測試技術領域，特別是涉及一種OLED模組的老化壽命測試系統。

背景技術

對于出廠的OLED模組（即OLED顯示模組），需要進行各個方面的性能測試，為了檢測OLED模組的老化壽命，一般需要對OLED模組在高低溫環境下的進行溫變老化壽命測試。

現有的溫變老化壽命測試技術中，主要是依賴于人工方式的測試，在設定的溫變環境下，通過將OLED模組放入溫變裝置內，進行高低溫老化壽命測試，然后再將OLED模組從溫變裝置中取出，通電后利用光學分析儀器檢測OLED模組的相關顏色參數。

上述檢測技術無法滿足在大范圍溫變環境下對OLED模組的光學參數的測試，導致老化壽命檢測結果的準確性低，難以真實反映OLED模組的老化壽命情況，而且測試過程需要依賴于人工方式，無法自動化進行，檢測過程的效率低。

發明內容

基于此，有必要針對老化壽命的檢測結果準確性低、檢測過程的效率低的問題，提供一種OLED模組的老化壽命測試系統的結構示意圖，提高了測試的效率和準確性。

一種OLED模組的老化壽命測試系統，包括：工控機、可編程控制器、程控電源、光譜儀、光學探頭、溫變箱和OLED模組承載裝置；

所述OLED模組承載裝置設于溫變箱內，用于承載待測的OLED模組；

所述工控機分別與程控電源、可編程控制器、光譜儀和溫變箱連接；

所述光學探頭設于溫變箱上方并連接光譜儀；

所述程控電源用于對待測的OLED模組進行供電；

所述工控機用于實時控制程控電源并讀取程控電源的輸出數據，通過可編程控制器控制所述程控電源輸出的通斷，控制光譜儀的操作并實時讀取光譜儀的檢測數據。

上述OLED模組的老化壽命測試系統，通過構造包括工控機、可編程控制器、程控電源、光譜儀、光學探頭、溫變箱和OLED模組承載裝置的測試系統，利用工控機設置相關軟件控制就可以實現對OLED模組的溫變老化壽命測試的全過程控制，可以在大范圍溫變環境下對OLED模組的老化壽命進行測試，提高了老化壽命的測試結果的準確性，而且實現測試過程的自動化，提高了測試效率。

附圖說明

圖1為一個實施例的OLED模組的老化壽命測試系統的結構示意圖；

圖2為一個優選實施例的OLED模組的老化壽命測試系統的結構示意圖；

圖3為溫變箱內部結構主視圖；

圖4為OLED模組夾具俯視圖。

具體實施方式

下面結合附圖對本發明的OLED模組的老化壽命測試系統的具體實施方式作詳細描述。

參考圖1所述，圖1為一個實施例的OLED模組的老化壽命測試系統的結構示意圖，包括工控機10、可編程控制器20、程控電源30、光譜儀40、光學探頭50、溫變箱60和OLED模組承載裝置70。

所述OLED模組承載裝置70設于溫變箱60內，用于承載待測的OLED模組；所述工控機10分別與程控電源30、可編程控制器20、光譜儀40和溫變箱60連接；所述光學探頭50設于溫變箱60上方并連接光譜儀40。

所述程控電源30用于對待測的OLED模組進行供電；所述工控機10用于實時控制程控電源30并讀取程控電源30的輸出數據，通過可編程控制器20控制所述程控電源30輸出的通斷，控制光譜儀40的操作并實時讀取光譜儀40的檢測數據。

本發明的OLED模組的老化壽命測試系統，在開始運行后，通過對工控機10的軟件設置，由系統軟件控制將自動完成整個老化壽命的測試流程，提高了老化壽命的測試過程的測試效率，同時，減少了人工參與的影響，進一步提高了老化壽命的測試結果的準確性。

參考圖2所示，圖2為一個優選實施例的OLED模組的老化壽命測試系統的結構示意圖。

優選的，OLED模組的老化壽命測試系統還包括顯示器80，所述顯示器80連接工控機10，用于將工控機的各種信息進行顯示。

優選的，所述工控機10可以通過但不限于RS485總線與程控電源30連接，可以通過但不限于RS232總線與可編程控制器20連接。

優選的，所述工控機10通過USB與光譜儀40和溫變箱60連接，所述光學探頭50為光纖探頭，光學探頭50通過光纖與光譜儀40連接。