[實用新型]OLED模組的老化壽命測試系統

有效

• 申請號: 201320891009.7
• 申請日: 2013-12-31
• 公開（公告）號: CN203721160U
• 公開（公告）日: 2014-07-16
• 發明（設計）人: 蘇萌;胡洪江;蘇良河;楊林;劉群興;蔣春旭;徐華偉;黃林軼;王潁凱;王深;劉嘉祁
• 申請（專利權）人: 工業和信息化部電子第五研究所
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G01M11/02
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 王茹;曾旻輝

1.一種OLED模組的老化壽命測試系統，其特征在于，包括：工控機、可編程控制器、程控電源、光譜儀、光學探頭、溫變箱和OLED模組承載裝置；

所述OLED模組承載裝置設于溫變箱內，用于承載待測的OLED模組；

所述工控機分別與程控電源、可編程控制器、光譜儀和溫變箱連接；

所述光學探頭設于溫變箱上方并連接光譜儀；

所述程控電源用于對待測的OLED模組進行供電；

所述工控機用于實時控制程控電源并讀取程控電源的輸出數據，通過可編程控制器控制所述程控電源輸出的通斷，控制光譜儀的操作并實時讀取光譜儀的檢測數據。

2.根據權利要求1所述的OLED模組的老化壽命測試系統，其特征在于，所述OLED模組承載裝置包括：環形托盤和轉動裝置；

所述環形托盤用于放置待測的OLED模組，并與轉動裝置的輸出軸相連；

所述轉動裝置設于環形托盤下方，并與工控機相連；

所述轉動裝置在工控機的控制下帶動環形托盤以定角度旋轉，使得待測的OLED模組移動至光學探頭的正下方，所述光學探頭對正下方的OLED模組進行檢測。

3.根據權利要求2所述的OLED模組的老化壽命測試系統，其特征在于，所述環形托盤包括多個設在環形外側的擋板，以及多個設在環形內側的彈簧，每個彈簧與擋板匹配，所述待測的OLED模組平放和固定在彈簧與擋板之間。

4.根據權利要求3所述的OLED模組的老化壽命測試系統，其特征在于，所述擋板的中心與轉動中心連線與擋板垂直，并與彈簧中心線重合。

5.根據權利要求1所述的OLED模組的老化壽命測試系統，其特征在于，所述工控機用于記錄每一個OLED模組測試測試過程中的OLED模組的電流和電壓，OLED模組的光參數和色參數，以及溫變箱的溫度和濕度；其中，所述電流和電壓從程控電源的輸出數據中獲取，所述光參數和色參數從光譜儀的檢測數據中獲取。

6.根據權利要求1所述的OLED模組的老化壽命測試系統，其特征在于，所述溫變箱的溫變范圍至少包括-40℃-150℃，溫變速率等于1℃/S。

7.根據權利要求1所述的OLED模組的老化壽命測試系統，其特征在于，還包括顯示器，所述顯示器連接工控機。

8.根據權利要求1所述的OLED模組的老化壽命測試系統，其特征在于，所述工控機通過RS485總線與程控電源連接，以及通過RS232總線與可編程控制器連接。

9.根據權利要求1所述的OLED模組的老化壽命測試系統，其特征在于，所述工控機通過USB與光譜儀和溫變箱連接，所述光學探頭為光纖探頭，光學探頭通過光纖與光譜儀連接。