[實用新型]主板測試元件和主板測試系統

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201320879277.7
• 申請日: 2013-12-27
• 公開（公告）號: CN203786260U
• 公開（公告）日: 2014-08-20
• 發(fā)明（設計）人: 黃美紅;李鵬
• 申請（專利權）人: 龍芯中科技術有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 劉芳

1.一種主板測試元件，其特征在于，包括：?

一第一基板、一第一電連接器與一測試芯片，所述第一電連接器與所述測試芯片都設置在所述第一基板上，且所述第一電連接器電性連接所述測試芯片；其中，?

所述測試芯片用于存儲測試主板的應用程序代碼；?

所述第一電連接器用于與主板的第二電連接器相電性連接，以使所述主板的中央處理器CPU得以通過所述第二電連接器調用所述主板測試元件中的所述測試芯片對所述主板進行測試。?

2.根據權利要求1所述的主板測試元件，其特征在于，所述第一電連接器包括兩排針腳，每排針腳包括N個針腳，所述N為大于或等于4的整數；?

所述測試芯片具有串行外設接口SPI接口；所述第一電連接器中的4個針腳分別與所述測試芯片的SPI接口的使能信號線、數據輸出線、數據輸入線、時鐘信號線連接。?

3.根據權利要求2所述的主板測試元件，其特征在于，所述第一電連接器的一個針腳與所述測試芯片的供電電源線連接，以使所述主板對所述測試芯片進行供電，所述連接所述測試芯片的供電電源線的針腳相異于所述連接所述測試芯片的SPI接口的4個針腳。?

4.一種主板測試系統，其特征在于，包括：?

一主板測試元件，具有一第一基板、一第一電連接器與一測試芯片，所述第一電連接器與所述測試芯片都設置在所述第一基板上，且所述第一電連接器電性連接所述測試芯片，所述測試芯片用于存儲測試主板的應用程序代碼；?

一主板，具有一第二電連接器，所述第二電連接器設置在所述主板上，所述第二電連接器電性連接所述主板的中央處理器CPU；?

其中，所述第一電連接器與所述第二電連接器為相電性連接，以使所述主板的CPU得以調用所述主板測試元件中的所述測試芯片對所述主板進行測試。?

5.根據權利要求4所述的主板測試系統，其特征在于，所述第一電連接器直接地結合所述第二電連接器。?

6.根據權利要求4所述的主板測試系統，其特征在于，還包括一連接件，所述連接件的兩側分別電性連接所述第一電連接器及所述第二電連接器。?

7.根據權利要求6所述的主板測試系統，其特征在于，所述第一電連接器包括兩排針腳，所述第二電連接器包括兩排針腳，每排針腳包括N個針腳，所述連接件的兩側分別包括兩排針孔，每排針孔包括N個針孔，所述N為大于或等于4的整數；?

所述測試芯片具有串行外設接口SPI接口；所述第一電連接器中的4個針腳分別與所述測試芯片的SPI接口的使能信號線、數據輸出線、數據輸入線、時鐘信號線連接；?

所述CPU具有SPI接口；所述第二電連接器中的4個針腳分別與所述CPU的SPI接口的使能信號線、數據輸出線、數據輸入線、時鐘信號線連接。?

8.根據權利要求7所述的主板測試系統，其特征在于，所述第一電連接器中連接所述測試芯片的SPI接口的4個針腳的位置，與，所述第二電連接器中連接所述CPU的SPI接口的4個針腳的位置相同。?

9.根據權利要求7或8所述的主板測試系統，其特征在于，所述第一電連接器的一個針腳與所述測試芯片的供電電源線連接，所述第二電連接器中的一個針腳與所述主板的電源電性連接，以使所述主板對所述測試芯片進行供電，所述連接所述測試芯片的供電電源線的針腳相異于所述連接所述測試芯片的SPI接口的4個針腳，所述電性連接所述主板的電源的針腳相異于所述連接所述CPU的SPI接口的4個針腳。?

10.根據權利要求7或8所述的主板測試系統，其特征在于，所述主板的存儲芯片具有SPI接口；所述第二電連接器中的一個針腳與所述主板的存儲芯片的SPI接口的使能信號線連接，所述電性連接所述存儲芯片的SPI接口的使能信號線的針腳相異于所述連接所述CPU的SPI接口連接的4個針腳；?

所述主板的存儲芯片的SPI接口的數據輸出線、數據輸入線、時鐘信號線分別與所述CPU的SPI接口的數據輸出線、數據輸入線、時鐘信號線連接；?

其中，所述連接存儲芯片的SPI接口的使能信號線的針腳與所述連接CPU的SPI接口的使能信號線的針腳得以通過跳冒裝置連接實現所述第二電連接器短接。?