[實用新型]一種晶體硅太陽能電池減反膜有效
| 申請號: | 201320849794.X | 申請日: | 2013-12-20 |
| 公開(公告)號: | CN203812887U | 公開(公告)日: | 2014-09-03 |
| 發明(設計)人: | 張春華;李棟;高文麗;孟祥熙;許濤 | 申請(專利權)人: | 蘇州阿特斯陽光電力科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/0216 | 分類號: | H01L31/0216 |
| 代理公司: | 蘇州創元專利商標事務所有限公司 32103 | 代理人: | 陶海鋒;陸金星 |
| 地址: | 215129 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 晶體 太陽能電池 減反膜 | ||
技術領域
本實用新型涉及一種晶體硅太陽能電池減反膜,屬于太陽能領域。
背景技術
隨著科技發展,合理開發利用可再生清潔能源是解決化石能源短缺、環境污染和溫室效應等問題的有效途徑。太陽能具有儲量的“無限性”,取之不盡,用之不竭,是理想的替代可再生清潔能源之一。在太陽能的有效利用中,太陽能光電利用是近幾年來發展最快,最具活力的研究領域,受到全球、全社會的普遍高度重視。
現有的晶體硅太陽能電池的制造流程為:表面清洗及織構化、擴散、清洗刻蝕去邊、鍍減反射膜、絲網印刷、燒結形成歐姆接觸、測試分選。目前工業上主要應用PECVD(等離子體增強化學氣相沉積)來沉積減反射膜,以硅烷、氨氣為氣源在硅片上制備減反射作用的氮化硅薄膜。這層氮化硅減反射膜不僅具有減反硅片表面的光反射,增加硅片對光吸收,還能對晶體硅電池的硅片起到表面和體內鈍化的作用,提高電池的短路電流,從而提高電池的光電轉化效率。因此,其成膜工藝、鈍化及減反射性能受到人們的重視。
減反射膜的應用是現在光學薄膜技術仍然研究課題,研究的重點是尋找新材料,設計新膜系,改進鍍膜工藝,獲得更好的減反射膜的結構。現有技術中,出現了雙層膜結構的減反射膜,例如:在硅片表面生長一層二氧化硅膜后再生長一層氮化硅雙層。這種膜結構一定程度上有利于提高硅表面的鈍化效果,提高電池片的開路電壓,但其折射率較低。另有一種高﹑低折射率的雙層氮化硅膜結構,就是在硅片表面上生產一層高折射率的氮化硅膜,再之后生長一層低折射率的氮化硅膜。這種減反射膜結構一定程度上降低了反射率,調高了電池片的短路電流;但其鈍化效果較差。
因此,開發一種同時能再降低硅片表面的反射光,增加光吸收,又能提高電池片的開路電壓,提高鈍化效果的減反射膜,是具有積極的現實意義的。
發明內容
本實用新型目的是提供一種晶體硅太陽能電池減反膜。
為達到上述目的,本實用新型采用的技術方案是:一種晶體硅太陽能電池減反膜,依次包括設于硅片襯底上的非晶硅膜層、設于非晶硅膜層上的第一富硅氮化硅膜層、設于第一富硅氮化硅膜層上的第二富硅氮化硅膜層;
所述晶體硅太陽能電池減反膜的總厚度為78~92?nm,其綜合折射率為2.0~2.20。
上文中,所述減反膜為上下三層結構。其非晶硅膜層是設于硅片襯底上的。
本實用新型利用本征非晶硅具有很好的鈍化效果,同時非晶硅/第一富硅氮化硅膜層/第二富硅氮化硅膜層的3層結構具有折射率依次遞減的特性,滿足光學薄膜增透的特點,降低硅片表面反射光,形成一種新的膜系結構。該結構同時能再降低硅片表面的反射光,增加光吸收,又能提高電池片的開路電壓,還能在現有的PECVD基礎上不改動實現減反射膜結構。
上述技術方案中,所述第一富硅氮化硅膜層的富硅量為25%~50%;第二富硅氮化硅膜層的富硅量為5%~15%。
由于上述技術方案運用,本實用新型與現有技術相比具有的優點是:
1、本實用新型設計得到了一種新的減反膜結構,實驗證明,該減反射膜可以明顯降低電池片表面對光的反射,增加硅片光的吸收,同時具有很好的鈍化效果,提高晶體硅太陽能電池的光電轉換效率。
2、本實用新型可以在現有的PECVD機器上實現的,制備方法簡單,不需要額外增加設備,就能制備出高質量的減反射膜;且可與現有標準電池工藝兼容,適合規模化生產。
3、本實用新型結構簡單,便于制備,適于推廣應用。
附圖說明
圖1是本實用新型實施例一和硅片襯底的組合示意圖。
其中:1、非晶硅膜層;2、第一富硅氮化硅膜層;3、第二富硅氮化硅膜層。
具體實施方式
下面結合附圖及實施例對本實用新型作進一步描述:
實施例一
參見圖1所示,一種晶體硅太陽能電池減反膜,其特征在于:依次包括設于硅片襯底上的非晶硅膜層(1)、設于非晶硅膜層上的第一富硅氮化硅膜層(2)、設于第一富硅氮化硅膜層上的第二富硅氮化硅膜層(3);
所述晶體硅太陽能電池減反膜的總厚度為78~92?nm,其綜合折射率為2.0~2.20。所述第一富硅氮化硅膜層的富硅量為30%;第二富硅氮化硅膜層的富硅量為10%。
上述減反膜的具體制備步驟如下:
1﹑按照多晶硅太陽能電池前道工序處理方法,對硅片進行表面清洗及織構化、擴散制備PN結、刻蝕去去除硅片四周的PN結、清洗去除磷硅玻璃;
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于蘇州阿特斯陽光電力科技有限公司,未經蘇州阿特斯陽光電力科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201320849794.X/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:改善選擇發射極輕擴區方阻均勻性結構
- 下一篇:雙極結型晶體管
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





