[實(shí)用新型]液晶顯示模組的測試系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201320825737.8
• 申請日: 2013-12-13
• 公開（公告）號: CN203838439U
• 公開（公告）日: 2014-09-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 康后生;吳德偉
• 申請（專利權(quán)）人: TCL顯示科技（惠州）有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 鄧云鵬

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種液晶顯示模組的測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)

在液晶顯示模組（liquid?crystal?module，LCM）中，液晶顯示模組需要通過驅(qū)動(dòng)芯片的驅(qū)動(dòng)來顯示圖像。對于一款液晶顯示模組，某種顏色需要多大的驅(qū)動(dòng)電壓以達(dá)到最好的顯示效果，通常都是經(jīng)過不斷測試后選擇并固化在驅(qū)動(dòng)芯片中的。但由于液晶顯示模組個(gè)體之間的差異，因此為達(dá)到最佳顯示效果的驅(qū)動(dòng)電壓之間就存在差異，使用同一驅(qū)動(dòng)參數(shù)并不能使所有的液晶顯示模組都達(dá)到最好的顯示效果。為此，為了消除這種差異，高端的液晶顯示模組中允許客戶自行定義液晶顯示模組的驅(qū)動(dòng)電壓參數(shù)，并通過一次性可編程（One?Time?Programmable，OTP）工序固化在驅(qū)動(dòng)芯片中，提升產(chǎn)品效果。

傳統(tǒng)的OTP固化（燒錄）的基本思路是，構(gòu)建以ARM或者FPGA為核心的LCM測試架，由該LCM測試架生成測試數(shù)據(jù)，并寫入LCM的寄存器，驅(qū)動(dòng)液晶顯示模組進(jìn)行顯示。然后通過光電測試儀器測量液晶顯示模組的相關(guān)顯示數(shù)據(jù)，再將該顯示數(shù)據(jù)傳送到計(jì)算機(jī)處理，以判斷該顯示數(shù)據(jù)是否符合達(dá)到最佳顯示效果的要求。上述過程中需要LCM測試架不斷生成測試數(shù)據(jù)，甚至可能需要遍歷所有的設(shè)置值以找到最佳參數(shù)，測試效率較低。

實(shí)用新型內(nèi)容

基于此，有必要提供一種液晶顯示模組的測試系統(tǒng)，其能提供快捷的測試。

一種液晶顯示模組的測試系統(tǒng)，包括用于測量液晶顯示模組的顯示參數(shù)的光電測試儀，還包括：

增量型編碼模塊，包括增量型編碼器，所述增量型編碼器從給定的基礎(chǔ)測試數(shù)據(jù)開始，以設(shè)定的增量產(chǎn)生新的測試數(shù)據(jù)；

測試模塊，包括主控芯片、與主控芯片連接的存儲單元和與主控芯片連接的液晶驅(qū)動(dòng)單元；

所述主控芯片與所述增量型編碼模塊連接，獲取所述增量型編碼模塊輸出的測試數(shù)據(jù)并控制液晶驅(qū)動(dòng)單元以該測試數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)液晶顯示模組；

所述存儲單元用于根據(jù)主控芯片的保存命令存儲測試數(shù)據(jù)；

所述增量型編碼模塊還包括保存觸發(fā)器，所述保存觸發(fā)器與主控芯片連接，用于觸發(fā)所述主控芯片生成所述保存命令。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述增量型編碼器為采用轉(zhuǎn)軸控制的編碼器件。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述增量型編碼模塊還包括與所述增量型編碼器連接的鑒相器和頻率計(jì)數(shù)器。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述主控芯片還用于在保存觸發(fā)器觸發(fā)保存命令時(shí)，將測試數(shù)據(jù)燒錄到液晶顯示模組中。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述主控芯片還用于根據(jù)存儲單元中保存的歷史測試數(shù)據(jù)計(jì)算平均值得到所述增量型編碼器的基礎(chǔ)測試數(shù)據(jù)。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述主控芯片為ARM芯片。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述存儲單元為閃存模塊。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述液晶驅(qū)動(dòng)單元包括背光驅(qū)動(dòng)電路、液晶顯示信號轉(zhuǎn)接電路以及液晶顯示模組的供電電路。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述保存觸發(fā)器為按鍵電路。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述按鍵電路輸出高電位觸發(fā)主控芯片的保存命令。

上述測試系統(tǒng)，通過增量型編碼模塊自動(dòng)提供測試數(shù)據(jù)，并通過保存觸發(fā)器快速保存符合條件的測試數(shù)據(jù)，測試效率較高。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型一實(shí)施例的液晶顯示模組的測試系統(tǒng)；

圖2為圖1中的測試模塊的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為圖1中的增量型編碼模塊的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4為本實(shí)用新型一實(shí)施例的液晶顯示模組的測試流程圖。

具體實(shí)施方式

如圖1所示，為本實(shí)用新型一實(shí)施例的液晶顯示模組的測試系統(tǒng)。該測試系統(tǒng)10通過多組測試數(shù)據(jù)對液晶顯示模組20進(jìn)行測試，以獲取能夠使液晶顯示模組20取得最佳顯示效果的測試數(shù)據(jù)。以下所說的測試數(shù)據(jù)均指驅(qū)動(dòng)液晶顯示模組的驅(qū)動(dòng)電壓數(shù)據(jù)。

該測試系統(tǒng)10包括測試模塊110、增量型編碼模塊120和光電測試儀130。其中測試模塊110根據(jù)增量型編碼模塊120提供的測試數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)液晶顯示模組20進(jìn)行顯示，光電測試儀130則采集液晶顯示模組20的顯示圖像并生成相應(yīng)的顯示參數(shù)。測試人員90通過查看光電測試儀130輸出的顯示參數(shù)即可判斷當(dāng)前的測試參數(shù)是否符合要求。

上述測試系統(tǒng)10可通過增量型編碼模塊120自動(dòng)產(chǎn)生測試數(shù)據(jù)，并通過保存觸發(fā)器快速保存符合條件的測試數(shù)據(jù)，測試效率較高。測試系統(tǒng)10結(jié)構(gòu)簡單、操作簡單，無需連接計(jì)算機(jī)，方便移動(dòng)重組。因此OTP快速高效，能適應(yīng)大批量快速生產(chǎn)需求。