[實(shí)用新型]液晶顯示模組的測試系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201320825737.8
• 申請日: 2013-12-13
• 公開（公告）號: CN203838439U
• 公開（公告）日: 2014-09-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 康后生;吳德偉
• 申請（專利權(quán)）人: TCL顯示科技（惠州）有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 鄧云鵬

1.一種液晶顯示模組的測試系統(tǒng)，包括用于測量液晶顯示模組的顯示參數(shù)的光電測試儀，其特征在于，還包括：?

增量型編碼模塊，包括增量型編碼器，所述增量型編碼器從給定的基礎(chǔ)測試數(shù)據(jù)開始，以設(shè)定的增量產(chǎn)生新的測試數(shù)據(jù)；?

測試模塊，包括主控芯片、與主控芯片連接的存儲單元和與主控芯片連接的液晶驅(qū)動單元；所述主控芯片為ARM芯片；?

所述主控芯片與所述增量型編碼模塊連接，獲取所述增量型編碼模塊輸出的測試數(shù)據(jù)并控制液晶驅(qū)動單元以該測試數(shù)據(jù)驅(qū)動液晶顯示模組；?

所述存儲單元用于根據(jù)主控芯片的保存命令存儲測試數(shù)據(jù)；?

所述增量型編碼模塊還包括保存觸發(fā)器，所述保存觸發(fā)器與主控芯片連接，用于觸發(fā)所述主控芯片生成所述保存命令。?

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示模組的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述增量型編碼器為采用轉(zhuǎn)軸控制的編碼器件。?

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的液晶顯示模組的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述增量型編碼模塊還包括與所述增量型編碼器連接的鑒相器和頻率計(jì)數(shù)器。?

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示模組的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述主控芯片還用于在保存觸發(fā)器觸發(fā)保存命令時，將測試數(shù)據(jù)燒錄到液晶顯示模組中。?

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示模組的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述存儲單元為閃存模塊。?

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示模組的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述液晶驅(qū)動單元包括背光驅(qū)動電路、液晶顯示信號轉(zhuǎn)接電路以及液晶顯示模組的供電電路。?

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示模組的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述保存觸發(fā)器為按鍵電路。?

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的液晶顯示模組的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述按鍵電路輸出高電位觸發(fā)主控芯片的保存命令。?