[實用新型]觀察圖形光譜的天文濾光片

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201320777825.5
• 申請日: 2013-11-29
• 公開（公告）號: CN203551821U
• 公開（公告）日: 2014-04-16
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 呂晶;王繼平;胡偉琴
• 申請（專利權(quán)）人: 杭州麥樂克電子科技有限公司
• 主分類號: G02B5/20
• 分類號: G02B5/20;G01J5/08
• 代理公司: 杭州斯可睿專利事務(wù)所有限公司 33241
• 代理人: 周豪靖

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型涉及濾光片領(lǐng)域，尤其是一種觀察圖形光譜的天文濾光片。

背景技術(shù)

紅外濾光片過濾、截止可見光同時允許通過紅外線。紅外線的波長很容易地穿透任何的物體，也就是紅外線在經(jīng)過物體時不會發(fā)生折射。利用紅外線的這個特性，只讓長波長的紅外線通過，濾除短波長的紫外線和可見光。應(yīng)用于很多領(lǐng)域，目前對于物體溫度的感應(yīng)和測量過程中，選擇合適的波長范圍至關(guān)重要。而現(xiàn)有長波通紅外濾光片在使用過程中存在著測溫不穩(wěn)定、精確度不高等特點，特別是透過率和截止區(qū)的信噪比不高，不能滿足高精度的測量要求。

實用新型內(nèi)容

本實用新型的目的是為了解決上述技術(shù)的不足而提供一種信噪比高、穩(wěn)定性好、有效提高物體溫度測量分辨能力和檢測精度使用要求的觀察圖形光譜的天文濾光片。

為了達到上述目的，本實用新型所設(shè)計的觀察圖形光譜的天文濾光片，包括以Si為原材料的基板，以Ge、SiO為第一鍍膜層和以Ge、SiO為第二鍍膜層，且所述基板位于第一鍍膜層和第二鍍膜層之間，所述第一鍍膜層由內(nèi)向外依次排列包含有：102nm厚度的Ge層、142nm厚度的SiO層、171nm厚度的Ge層、263nm厚度的SiO層、124nm厚度的Ge層、374nm厚度的SiO層、128nm厚度的Ge層、312nm厚度的SiO層、137nm厚度的Ge層、410nm厚度的SiO層、107nm厚度的Ge層、345nm厚度的SiO層、124nm厚度的Ge層和772nm厚度的SiO層；所述第二鍍膜層由內(nèi)向外依次排列包含有：90nm厚度的Ge層、163nm厚度的SiO層、130nm厚度的Ge層、165nm厚度的SiO層、481nm厚度的Ge層和547nm厚度的SiO層。

上述各材料對應(yīng)的厚度，其允許在公差范圍內(nèi)變化，其變化的范圍屬于本專利保護的范圍，為等同關(guān)系。通常厚度的公差在10nm左右。

本實用新型所得到的觀察圖形光譜的天文濾光片，通過上述的設(shè)計，實現(xiàn)了穩(wěn)定性好，且能適用于物體的溫度感應(yīng)和測量，該濾光片3200～4500nm、Tavg≥90％，2000～2800nm、Ravg≤90%，大大提高了信噪比，在用于物體溫度的測量和感應(yīng)時，能有效的提高分辨能力和檢測精度，更好的滿足實際中的使用要求。

附圖說明

圖1是實施例整體結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是實施例提供的紅外光譜透過率實測曲線圖。

具體實施方式

下面通過實施例結(jié)合附圖對本實用新型作進一步的描述。

實施例1：

如圖1、圖2所示，本實施例描述的觀察圖形光譜的天文濾光片，包括以Si為原材料的基板2，以Ge、SiO為第一鍍膜層1和以Ge、SiO為第二鍍膜層3，且所述基板2位于第一鍍膜層1和第二鍍膜層3之間，所述第一鍍膜層1由內(nèi)向外依次排列包含有：102nm厚度的Ge層、142nm厚度的SiO層、171nm厚度的Ge層、263nm厚度的SiO層、124nm厚度的Ge層、374nm厚度的SiO層、128nm厚度的Ge層、312nm厚度的SiO層、137nm厚度的Ge層、410nm厚度的SiO層、107nm厚度的Ge層、345nm厚度的SiO層、124nm厚度的Ge層和772nm厚度的SiO層；所述第二鍍膜層3由內(nèi)向外依次排列包含有：90nm厚度的Ge層、163nm厚度的SiO層、130nm厚度的Ge層、165nm厚度的SiO層、481nm厚度的Ge層和547nm厚度的SiO層。