[實用新型]觀察圖形光譜的天文濾光片有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201320777825.5 | 申請日: | 2013-11-29 |
| 公開(公告)號: | CN203551821U | 公開(公告)日: | 2014-04-16 |
| 發(fā)明(設計)人: | 呂晶;王繼平;胡偉琴 | 申請(專利權)人: | 杭州麥樂克電子科技有限公司 |
| 主分類號: | G02B5/20 | 分類號: | G02B5/20;G01J5/08 |
| 代理公司: | 杭州斯可睿專利事務所有限公司 33241 | 代理人: | 周豪靖 |
| 地址: | 311188 浙江省杭州市*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 觀察 圖形 光譜 天文 濾光 | ||
1.一種觀察圖形光譜的天文濾光片,包括以Si為原材料的基板,以Ge、SiO為第一鍍膜層和以Ge、SiO為第二鍍膜層,且所述基板位于第一鍍膜層和第二鍍膜層之間,其特征是:所述第一鍍膜層由內向外依次排列包含有:102nm厚度的Ge層、142nm厚度的SiO層、171nm厚度的Ge層、263nm厚度的SiO層、124nm厚度的Ge層、374nm厚度的SiO層、128nm厚度的Ge層、312nm厚度的SiO層、137nm厚度的Ge層、410nm厚度的SiO層、107nm厚度的Ge層、345nm厚度的SiO層、124nm厚度的Ge層和772nm厚度的SiO層;所述第二鍍膜層由內向外依次排列包含有:90nm厚度的Ge層、163nm厚度的SiO層、130nm厚度的Ge層、165nm厚度的SiO層、481nm厚度的Ge層和547nm厚度的SiO層。
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