[實用新型]老化測試板有效
| 申請號： | 201320717935.2 | 申請日： | 2013-11-14 |
| 公開（公告）號： | CN203606462U | 公開（公告）日： | 2014-05-21 |
| 發明（設計）人： | 邵玲玲;辛軍啟 | 申請（專利權）人： | 中芯國際集成電路制造（北京）有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/26 | 分類號： | G01R31/26;G01R1/04 |
| 代理公司： | 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 屈蘅;李時云 |
| 地址： | 100176 北京市大興區*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 老化 測試 | ||
1.一種老化測試板，用于檢測待測芯片的可靠性，其特征在于，所述老化測試板包括：
芯片放置單元、連線單元以及插槽，其中，所述連線單元包括芯片連線單元、保護電路和機臺連線單元，所述芯片連線單元與所述芯片放置單元電路連接，所述機臺連線單元與所述插槽電路連接，所述保護電路設于所述芯片連線單元和所述機臺連線單元之間，所述芯片連線單元、保護電路和機臺連線單元之間均采用插拔式連線連接。
2.如權利要求1所述的老化測試板，其特征在于，所述保護電路采用三針插拔式接頭。
3.如權利要求2所述的老化測試板，其特征在于，所述保護電路包括電阻和電容，所述電阻和電容并聯。
4.如權利要求1所述的老化測試板，其特征在于，所述芯片連線單元包括接地端、芯片信號端和第一連接端，所述接地端分別與所述芯片信號端、第一連接端緊貼在一起。
5.如權利要求1所述的老化測試板，其特征在于，所述機臺連線單元包括接地端、系統信號端和第二連接端，所述接地端分別與所述系統信號端、第二連接端緊貼在一起。
6.如權利要求1所述的老化測試板，其特征在于，所述連線單元的個數為1～10個。
7.如權利要求6所述的老化測試板，其特征在于，所述插槽的個數為1～10個。
8.如權利要求7所述的老化測試板，其特征在于，所述連線單元與所述插槽一一對應。
9.如權利要求1所述的老化測試板，其特征在于，所述插拔式連線的兩端設有插拔頭。
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