[實用新型]用于發光顯微鏡查找芯片缺陷的信號轉換裝置有效
| 申請號： | 201320712988.5 | 申請日： | 2013-11-12 |
| 公開（公告）號： | CN203551734U | 公開（公告）日： | 2014-04-16 |
| 發明（設計）人： | 單蘭婷;陳燕寧;張海峰;聶琪鶴;李伯海 | 申請（專利權）人： | 國家電網公司;北京南瑞智芯微電子科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/26 | 分類號： | G01R31/26;G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京中譽威圣知識產權代理有限公司 11279 | 代理人： | 王正茂;郭振興 |
| 地址： | 100031 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 發光 顯微鏡 查找 芯片 缺陷 信號 轉換 裝置 | ||
1.一種用于發光顯微鏡查找芯片缺陷的信號轉換裝置，其特征在于，包括：PCB板，所述PCB板中間開有窗口部分，所述窗口部分為用于粘貼芯片的透明材質，所述透明材質為薄玻璃或硬塑料板。
2.根據權利要求1所述的用于發光顯微鏡查找芯片缺陷的信號轉換裝置，其特征在于，所述芯片為兩邊出腳的芯片時，所述PCB板為雙層PCB板。
3.根據權利要求1所述的用于發光顯微鏡查找芯片缺陷的信號轉換裝置，其特征在于，所述芯片為三邊或四邊出腳的芯片時，所述PCB板為四層PCB板。
4.根據權利要求1所述的用于發光顯微鏡查找芯片缺陷的信號轉換裝置，其特征在于，所述PCB板的層數大于或等于所述芯片的出腳邊數，所述PCB板對所述芯片的引腳位置進行轉換。
5.根據權利要求1所述的用于發光顯微鏡查找芯片缺陷的信號轉換裝置，其特征在于，所述PCB板上連線的數量大于或等于所述芯片的引腳數量。
6.根據權利要求1所述的用于發光顯微鏡查找芯片缺陷的信號轉換裝置，其特征在于，所述PCB板上焊接有可以從通孔中穿過的金屬針，所述金屬針的上部對所述芯片進行靜態工作狀態下的測試，所述金屬針的下部對所述芯片進行動態工作狀態下的測試。
7.根據權利要求6所述的用于發光顯微鏡查找芯片缺陷的信號轉換裝置，其特征在于，所述PCB板與原有測試板接口尺寸不一致時，彎曲所述金屬針相應角度完成對接操作。
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