[實用新型]相移剪切電子散斑干涉儀

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201320669951.9
• 申請日: 2013-10-28
• 公開（公告）號: CN203534518U
• 公開（公告）日: 2014-04-09
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李鷹
• 申請（專利權(quán)）人: 卓力特光電儀器(蘇州)有限公司
• 主分類號: G01B9/02
• 分類號: G01B9/02
• 代理公司: 蘇州創(chuàng)元專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 32103
• 代理人: 范晴

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型涉及一種散斑干涉儀，具體涉及一種相移剪切電子散斑干涉儀，用于對物體變形后表面微位移量的精確測量。

背景技術(shù)

復(fù)合材料的外場原位檢測主要用超聲法、敲擊法、聲阻法、板波法和諧振法等,而復(fù)合材料的聲衰減很大,這些方法只能檢測薄型材料表面及近表面缺陷,而且一次檢測區(qū)域非常小,大多需要耦合劑,檢測速度非常慢,作為常規(guī)手工檢測不現(xiàn)實。

基于干涉原理的激光電子剪切散斑干涉成像技術(shù)是20世紀(jì)80年代興起的用于表面變形測量的新型光學(xué)技術(shù),具有非接觸,無污染,不受工件幾何外形和尺寸限制,全場檢測,視頻顯示,檢測速率高,檢測靈敏度高,缺陷尺寸可測量,不用避光,不需專門隔振,計算機(jī)實時圖像記錄等特點，因此廣泛用于室內(nèi)外快速無損檢測。

剪切電子散斑干涉術(shù)是一種測量離面位移導(dǎo)數(shù)場的激光干涉測量新技術(shù)。它除了電子散斑干涉術(shù)（ESPI,Electronic?Speckle?Pattern?Interferometry）的許多優(yōu)點外，還有光路簡單，對測量環(huán)境要求低等特點。由于剪切電子散斑干涉是測量位移導(dǎo)數(shù)，因此，在自動消除剛體位移的同時對于缺陷受載的應(yīng)變集中十分靈敏，因此被廣泛地應(yīng)用于無損檢測（NDT,nondestructive?testing）領(lǐng)域。

然而，目前采用剪切電子散斑干涉術(shù)的散斑干涉儀都存在結(jié)構(gòu)復(fù)雜、操作繁瑣等缺點。

發(fā)明內(nèi)容

本實用新型目的是：針對上述問題，提供一種結(jié)構(gòu)簡單、操作方便的相移剪切電子散斑干涉儀。

本實用新型的技術(shù)方案是：一種相移剪切電子散斑干涉儀，它包括水平布置的光學(xué)平臺、以及布置在該光學(xué)平臺臺面上的測試架和激光發(fā)射裝置；

所述激光發(fā)射裝置包括箱體和設(shè)于該箱體內(nèi)的激光器，所述箱體的箱體壁上開設(shè)有透光孔，且該透光孔處安裝有位于所述箱體外部、且位于所述激光器的激光出射光路上的擴(kuò)束鏡，所述測試架上固定有位于從所述擴(kuò)束鏡出射的光束的光路上的受檢物，還包括向所述受檢物施加荷載的加載裝置；

所述箱體的上面固定設(shè)置一殼體，該殼體上安裝有位于從受檢物表面反射的光束的光路上的透鏡鏡頭，該殼體內(nèi)安裝有：位于從透鏡鏡頭透射出的光束的光路上且用于得到偏振方向相互垂直的兩束光的剪切器、以及位于從所述剪切器出射的光束的光路上的CCD攝像機(jī)，所述CCD攝像機(jī)與計算機(jī)相連。

所述測試架的底部設(shè)有一磁性底座上，該磁性底座吸附固定在所述光學(xué)平臺的臺面上。

所述激光發(fā)射裝置通過螺絲固定在所述光學(xué)平臺的臺面上。

所述光學(xué)平臺上布置有將所述測試架、激光發(fā)射裝置和CCD攝像機(jī)收容在其內(nèi)的防塵罩。

本實用新型的優(yōu)點是：本實用新型這種相移剪切電子散斑干涉儀是一種基于干涉原理的激光電子剪切散斑干涉成像技術(shù)研發(fā)的用于室內(nèi)外快速無損檢測的高精密光測力學(xué)儀器，它具有非接觸、無污染、不受工件幾何外形和尺寸限制、全場檢測、視頻顯示、測速率高、檢測靈敏度高、缺陷尺寸可測量、無需避光、不需專門隔振、計算機(jī)實時圖像記錄等特點。本儀器是采用錯位散斑機(jī)理，其將主要部件集中設(shè)置在一箱體中，從而使得本儀器具有結(jié)構(gòu)簡單合理、體型輕小、攜帶方便的特點，可廣泛用于現(xiàn)場環(huán)境的測量。

附圖說明

下面結(jié)合附圖及實施例對本實用新型作進(jìn)一步描述：

圖1為本實用新型實施例的結(jié)構(gòu)簡圖；

圖2為本實用新型實施例中激光發(fā)射裝置的結(jié)構(gòu)簡圖；

圖3為實用新型實施例中部分結(jié)構(gòu)示意圖。

其中：a-受檢物，1-光學(xué)平臺，2-測試架，3-殼體，4-透鏡鏡頭，5-激光發(fā)射裝置，6-CCD攝像機(jī)，7-磁性底座，8-箱體，9-激光器，10-透光孔，11-擴(kuò)束鏡，12-剪切器，13-反光鏡。

具體實施方式

實施例：參照圖1所示，本實施例所提供的這種相移剪切電子散斑干涉儀包括水平布置的光學(xué)平臺1，該光學(xué)平臺1的臺面上布置有測試架2和激光發(fā)射裝置5。其中，測試架2上可以固定受檢物a，激光發(fā)射裝置5能夠發(fā)出激光光束。本實施例中，所述測試2的底部設(shè)有一磁性底座7，該磁性底座7吸附固定在所述光學(xué)平臺1的臺面上，這樣可以方便測試架2在光學(xué)平臺1上的位置調(diào)整。所述激光發(fā)射裝置5是通過螺絲固定在光學(xué)平臺1上的。