[實用新型]一種用于測量貼片晶體電參數的治具

有效

• 申請號: 201320655676.5
• 申請日: 2013-10-23
• 公開（公告）號: CN203535072U
• 公開（公告）日: 2014-04-09
• 發明（設計）人: 王金濤;魏福全;黃祥妙
• 申請（專利權）人: 湖北泰晶電子科技股份有限公司
• 主分類號: G01R1/02
• 分類號: G01R1/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及到治具領域，是一種用于測量貼片晶體電參數的治具。

背景技術

在貼片晶體生產領域，生產過程需要對封裝完的產品進行抽查測試電參數，目前市場上沒有一種測試夾具適用于這種微小貼片晶體。

發明內容

本實用新型的目的是要提供一種用于測量貼片晶體電參數的治具。

本實用新型的技術方案是：一種用于測量貼片晶體電參數的治具，其特征是在測試治具底座上裝有限位塊；測試手柄的孔內上有導向軸，導向軸下有測試壓緊彈簧，測試手柄的底座卡裝在導向座上，測試手柄的下端有測試針。

由于采用了上述技術方案，測量貼片晶體電參數方法簡單，節約了人力，提高了生產效率，降低了生產成本。

附圖說明

圖1是本實用新型的結構示意圖。

在圖中：1、測試治具底座；2、限位塊；3、測試手柄；4、導向座；5、測試壓緊彈簧；6、導向軸；7、測試針。?

具體實施方式

下面結合實施例對本實用新型作進一步的說明。

在圖1中，在測試治具底座1上裝有限位塊2；測試手柄3的孔內上有導向軸6，導向軸6下有測試壓緊彈簧5，測試手柄3的底座卡裝在導向座4上，測試手柄3的下端有測試針7。

實施例，先將測試手柄3向上提，順時針旋轉90度放至導向座4的上方，再用鑷子將待測試產品測試電極朝上放入治具凹槽內，通過限位塊2定位，再將測試手柄3逆時針旋轉90度放至導向座4入口，由于測試壓緊彈簧5的作用力，通過導向座4導入，正好將測試針7壓在待測試產品黃色電極上沿，待測量完成將產品取出。