[實用新型]一種基于PXI基板的RFID測試平臺

有效

• 申請號: 201320647284.4
• 申請日: 2013-10-21
• 公開（公告）號: CN203616399U
• 公開（公告）日: 2014-05-28
• 發明（設計）人: 楊良春;劉春來
• 申請（專利權）人: 北京信諾達泰思特科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R1/18
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及一種RFID測試平臺，尤其涉及一種基于PXI基板的RFID測試平臺。

背景技術

目前現有技術中的國際主流射頻器件廠商均采用自己設計的只滿足自家產品線需求的堆疊式系統，至今還沒有一種專門針對射頻器件的通用測試系統問世，這種現狀已經不能滿足人們的要求。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種基于PXI基板的RFID測試平臺，解決現有技術存在的缺憾。

本實用新型采用如下技術方案實現：

一種基于PXI基板的RFID測試平臺，該平臺中包括PC機和一個電磁屏蔽箱，所述電磁屏蔽包括一個金屬罩體，所述金屬罩體安裝在電磁屏蔽箱的基臺上，所述基臺上安裝有射頻讀卡器和低頻一致性測試板，其特征在于，所述射頻讀卡器通過供電線與電磁屏蔽箱外的PC機相連，所述低頻一致性測試板通過串口/USB接口連接線與PC機相連，低頻一致性測試板安裝在一個PXI基板上，所述PXI基板的總線背板上共設置有14個槽位。

進一步的，14個槽位中的第四個槽位設置有星形觸發控制器和／或三角形觸發控制器。

本實用新型具備的有益技術效果是：通過安裝電磁屏蔽箱并采用PXI基板的RFID測試，防止了外界信號對測試信號的干擾，提高了射頻讀卡器的有效通信距離的一致性，提高了射頻測試系統的整體質量。

附圖說明

圖1是本實用新型的整體結構圖。

具體實施方式

通過下面對實施例的描述，將更加有助于公眾理解本實用新型，但不能也不應當將申請人所給出的具體的實施例視為對本實用新型技術方案的限制，任何對部件或技術特征的定義進行改變和／或對整體結構作形式的而非實質的變換都應視為本實用新型的技術方案所限定的保護范圍。

如圖1所示的基于PXI基板的RFID測試平臺，該平臺中包括PC機和一個電磁屏蔽箱，電磁屏蔽包括一個金屬罩體，金屬罩體安裝在電磁屏蔽箱的基臺上，基臺上安裝有射頻讀卡器和低頻一致性測試板，射頻讀卡器通過供電線與電磁屏蔽箱外的PC機相連，低頻一致性測試板通過串口／USB接口連接線與PC機相連，低頻一致性測試板安裝在一個PXI基板上，PXI基板的總線背板上共設置有14個槽位，其中第四個槽位設置有星形觸發控制器和／或三角形觸發控制器。PXI(PCI?Extension?For?Instrumentation，簡稱PXI)，作為第三代ATE的新興代表將計算機PCI總線、Compact?PCI(CPCI)完美地結合到測試儀器中，利益于近幾十年來PC工業的高速發展和大量技術、工藝的積累，為PXI的飛速發展奠定了基礎。目前基于自動測試設備(ATE)測試RF電路的板卡功能強大而昂貴，用PXI作為測試RF電路的板卡能夠可極大降低測試硬件板卡的費用且不損失參數測試的精度。星形觸發信號和／或三角形觸發信號可將信號一對一地送至其它的擴充槽上，PXI基板上的其他各個擴充槽也連接至總線上，可達到同步的功能，保證14個槽位的高速信號準確傳遞，確保射頻電路的測試結果正確。

當然，本實用新型還可以有其他多種實施例，在不背離本實用新型精神及其實質的情況下，熟悉本領域的技術人員可以根據本實用新型做出各種相應的改變和變形，但這些相應的改變和變形都應屬于本實用新型所附的權利要求的保護范圍。