[實用新型]一種基于PXI基板的RFID測試平臺有效

申請號：	201320647284.4	申請日：	2013-10-21
公開（公告）號：	CN203616399U	公開（公告）日：	2014-05-28
發明（設計）人：	楊良春;劉春來	申請（專利權）人：	北京信諾達泰思特科技股份有限公司
主分類號：	G01R31/00	分類號：	G01R31/00;G01R1/18
代理公司：	暫無信息	代理人：	暫無信息
地址：	100010 北京市東城***	國省代碼：	北京;11
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摘要：
搜索關鍵詞：	一種基于 pxi rfid 測試平臺
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【權利要求書】：

1.一種基于PXI基板的RFID測試平臺，該平臺中包括PC機和一個電磁屏蔽箱，所述電磁屏蔽包括一個金屬罩體，所述金屬罩體安裝在電磁屏蔽箱的基臺上，所述基臺上安裝有射頻讀卡器和低頻一致性測試板，其特征在于，所述射頻讀卡器通過供電線與電磁屏蔽箱外的PC機相連，所述低頻一致性測試板通過串口／USB接口連接線與PC機相連，低頻一致性測試板安裝在一個PXI基板上，所述PXI基板的總線背板上共設置有14個槽位。

2.根據權利要求1所述的基于PXI基板的RFID測試平臺，其特征在于，14個槽位中的第四個槽位設置有星形觸發控制器和／或三角形觸發控制器。

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