[實用新型]紫外雪崩二極管測試裝置

有效

• 申請號: 201320642914.9
• 申請日: 2013-10-18
• 公開（公告）號: CN203490338U
• 公開（公告）日: 2014-03-19
• 發明（設計）人: 申志輝;羅木昌;周勛;龍維剛
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第四十四研究所
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 重慶輝騰律師事務所 50215
• 代理人: 侯懋琪;侯春樂

1.一種紫外雪崩二極管測試裝置，其特征在于：所述測試裝置由光源（1）、導軌（2）、光學組件、夾具（6）和殼體（7）組成；光源（1）、光學組件和夾具（6）順次設置于導軌（2）上，且光源（1）、光學組件和夾具（6）均與導軌（2）滑動連接；殼體（7）將光源（1）、導軌（2）、光學組件和夾具（6）包裹在內；待測件設置于夾具（6）上，待測件與一測試源表相連。

2.根據權利要求1所述的紫外雪崩二極管測試裝置，其特征在于：所述待測件為紫外雪崩二極管。

3.根據權利要求2所述的紫外雪崩二極管測試裝置，其特征在于：所述光源（1）采用紫外LED。

4.根據權利要求3所述的紫外雪崩二極管測試裝置，其特征在于：所述紫外LED的中心波長范圍為200nm~400nm.。

5.根據權利要求1所述的紫外雪崩二極管測試裝置，其特征在于：所述導軌（2）上設置有刻度。

6.根據權利要求1所述的紫外雪崩二極管測試裝置，其特征在于：所述光學組件包括透鏡、衰減片和光學狹縫。

7.根據權利要求1所述的紫外雪崩二極管測試裝置，其特征在于：所述殼體（7）上端面設置有翻蓋。