[實用新型]一種測試芯片供電電源可靠性的裝置

有效

• 申請號: 201320642340.5
• 申請日: 2013-10-17
• 公開（公告）號: CN203519804U
• 公開（公告）日: 2014-04-02
• 發明（設計）人: 洪獻珍
• 申請（專利權）人: 邁普通信技術股份有限公司
• 主分類號: G01R31/40
• 分類號: G01R31/40;G01R31/26
• 代理公司: 成都宏順專利代理事務所(普通合伙) 51227
• 代理人: 李順德

技術領域

本實用新型涉及可靠性檢測技術，特別涉及一種測試芯片供電電源可靠性的裝置。

背景技術

可靠性測試在產品研發過程中占據重要的地位，可靠性測試健全與否很大程度上決定了研發產品的穩定性與可靠性。研發產品系統中，最重要的電源部分是可靠性測試中重點關注的測試項目。在電源部分的可靠性測試中，通常需要重點關注電源容限、芯片供電電源的薄弱點等。為了提高系統可靠性，常常需要對電子產品系統做一些可靠性測試，從而驗證產品在極端的工作條件下是否具備可靠性與穩定性。而芯片供電電源作為系統的核心部分，其電源的穩定性和健壯性直接影響系統的穩定性。因此業界在研發測試階段通常需要對系統進行單板可靠性測試，具體可以為對單板電源進行拉偏，通過拉低芯片供電電壓來驗證系統對電源波動的敏感度、驗證系統在電源方面的可靠性。

目前業界常用的方法是降低整個系統電壓來驗證芯片供電電壓對波動的敏感度和系統的可靠性，通過調低DC-DC（直流-直流）電源、LDO（低壓差穩壓器）電源的電壓幅值來降低整個系統的電壓，從而驗證系統在哪個電壓值會出現問題。但系統上的DCDC電源、LDO電源一般都不會單獨供電給某個芯片，這樣有以下幾個方面的問題：

(1)不能單獨對芯片供電電源進行可靠性測試：由于系統的電源是非單獨供電的，而且芯片可能同時存在多個供電電源，因此無法單獨對芯片進行供電電源的可靠性測試；

(2)不能保證系統對電源的整體可靠性：由于系統電源存在供電給多個芯片的可能，那么，通過調低電壓的方法就存在驗證到最薄弱環節的芯片供電電源，而第二薄弱以及其他較為薄弱的芯片供電電源是無法驗證到的，而單板可靠性測試的原則是找出系統的每一個薄弱的環節。

實用新型內容

本實用新型所要解決的技術問題，就是提供一種測試芯片供電電源可靠性的裝置，可以方便的測試每個芯片供電電源的可靠性，找出芯片供電的薄弱環節。

本實用新型解決所述技術問題，采用的技術方案是，一種測試芯片供電電源可靠性的裝置，所述裝置串接在芯片供電回路上，其特征在于，所述裝置包括用于連接芯片供電引腳的第一觸點、用于連接供電電源的第二觸點、用于降低電壓的衰減器，所述衰減器安裝在基板上，其引腳分別與第一觸點和第二觸點電連接。

所述衰減器由電感構成。

所述電感為磁珠電感。

所述衰減器由電阻構成。

所述衰減器由電阻和電感串聯構成。

所述電阻為可變電阻。

所述可變電阻為線性可變電阻。

所述線性可變電阻阻值范圍為0～1kΩ。

所述述基板為印刷電路板。

所述第一觸點和第二觸點具有彈性結構。

本實用新型的有益效果是，能夠單獨對每個芯片供電電源進行電源可靠性測試，找出芯片供電電源的薄弱點?？梢远康尿炞C系統對電壓波動的敏感性，保證系統的整體的可靠性。

附圖說明

圖1是實施例1的結構示意圖；

圖2是實施例2的結構示意圖。

具體實施方式

本實用新型的裝置在進行測試前，需要對芯片供電電流進行測量，常規的測量方法是，確認芯片供電引腳是否經過串接的元器件，比如電阻、磁珠電感、保護器等與電源連接，如果沒有這些串聯的元器件，就將芯片供電電源線路的銅層割開，切斷。測試芯片供電電源的電流值，可以通過串接導線的方式測試經過導線的電流值，以確認芯片供電電源的電流值。不管芯片供電電源是否經過串接的元器件，芯片電流值都可以通過該導線進行測試。

在進行可靠性測試時，需要將本實用新型的裝置串聯在芯片供電回路中，可以斷開串接的元器件后，將本裝置接入該斷開的元器件位置，或者將本裝置連接在電源供電線路銅層切斷處。根據上述測量的電流值，和本裝置的直流電阻值（可以通過測量得到），便可精確計算供電電壓經過衰減后的壓降，這樣便可以對芯片供電電源進行單獨的電壓調整，拉低該芯片的供電電壓。

實施例1