[實用新型]一種測試芯片供電電源可靠性的裝置有效
| 申請號： | 201320642340.5 | 申請日： | 2013-10-17 |
| 公開（公告）號： | CN203519804U | 公開（公告）日： | 2014-04-02 |
| 發明（設計）人： | 洪獻珍 | 申請（專利權）人： | 邁普通信技術股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/40 | 分類號： | G01R31/40;G01R31/26 |
| 代理公司： | 成都宏順專利代理事務所(普通合伙) 51227 | 代理人： | 李順德 |
| 地址： | 610041 四川省*** | 國省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 測試 芯片 供電 電源 可靠性 裝置 | ||
1.一種測試芯片供電電源可靠性的裝置，所述裝置串接在芯片供電回路上，其特征在于，所述裝置包括用于連接芯片供電引腳的第一觸點、用于連接供電電源的第二觸點、用于降低電壓的衰減器，所述衰減器安裝在基板上，其引腳分別與第一觸點和第二觸點電連接。?
2.根據權利要求1所述的一種測試芯片供電電源可靠性的裝置，其特征在于，所述衰減器由電感構成。?
3.根據權利要求2所述的一種測試芯片供電電源可靠性的裝置，其特征在于，所述電感為磁珠電感。?
4.根據權利要求1所述的一種測試芯片供電電源可靠性的裝置，其特征在于，所述衰減器由電阻構成。?
5.根據權利要求1所述的一種測試芯片供電電源可靠性的裝置，其特征在于，所述衰減器由電阻和電感串聯構成。?
6.根據權利要求4或5所述的一種測試芯片供電電源可靠性的裝置，其特征在于，所述電阻為可變電阻。?
7.根據權利要求6所述的一種測試芯片供電電源可靠性的裝置，其特征在于，所述可變電阻為線性可變電阻。?
8.根據權利要求7所述的一種測試芯片供電電源可靠性的裝置，其特征在于，所述線性可變電阻阻值范圍為0～1kΩ。?
9.根據權利要求1所述的一種測試芯片供電電源可靠性的裝置，其特征在于，所述基板為印刷電路板。?
10.根據權利要求1所述的一種測試芯片供電電源可靠性的裝置，其特征在于，所述第一觸點和第二觸點具有彈性結構。?
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