[實(shí)用新型]一種電子設(shè)備

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201320639223.3
• 申請(qǐng)日: 2013-10-16
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN203519782U
• 公開(kāi)（公告）日: 2014-04-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 黃建忠;舒明
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 北大方正集團(tuán)有限公司;重慶方正高密電子有限公司;方正信息產(chǎn)業(yè)控股有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01R31/28
• 分類(lèi)號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 北京同達(dá)信恒知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11291
• 代理人: 黃志華

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及印刷電路板領(lǐng)域，尤其涉及一種電子設(shè)備。?

背景技術(shù)

隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展，電子技術(shù)也得到了飛速的發(fā)展，電子產(chǎn)品的種類(lèi)也越來(lái)越多，人們對(duì)電子產(chǎn)品的要求越來(lái)越高，對(duì)作為電子產(chǎn)品重要組成部分的印刷電路板的要求也越來(lái)越高。?

印刷電路板的對(duì)準(zhǔn)度測(cè)試是一個(gè)非常重要的測(cè)試，其用于測(cè)試印刷電路板的多層電路層間的對(duì)準(zhǔn)度情況，若對(duì)準(zhǔn)度情況較差，則容易引起印刷電路板短路，導(dǎo)致制作出的印刷電路板無(wú)法完成其對(duì)應(yīng)的電氣功能。?

目前，對(duì)印刷電路板的對(duì)準(zhǔn)度測(cè)試主要是通過(guò)將帶有一定位針和多個(gè)探針的測(cè)試探頭，插入待測(cè)印刷電路板上對(duì)應(yīng)的測(cè)試圖形中，待測(cè)印刷電路板的測(cè)試圖形中有與測(cè)試探頭的多個(gè)探針對(duì)應(yīng)的多個(gè)測(cè)試孔，同時(shí)每個(gè)探針與一發(fā)光元件串聯(lián)，若該發(fā)光元件發(fā)光，則表明該測(cè)試孔短路，該待測(cè)印刷電路板的對(duì)準(zhǔn)度大于該測(cè)試孔對(duì)應(yīng)的數(shù)值。測(cè)試人員通過(guò)測(cè)試探頭上發(fā)光元件的亮燈情況，來(lái)判斷待測(cè)印刷電路板的對(duì)準(zhǔn)度，并進(jìn)行記錄。?

隨著人們對(duì)印刷電路板的要求越來(lái)越高，印刷電路板的層數(shù)也越來(lái)越高，以普通多層印刷電路板為例，如在板邊設(shè)計(jì)4組對(duì)準(zhǔn)度測(cè)試模塊，則該待測(cè)印刷電路板4組數(shù)據(jù)需要測(cè)試人員進(jìn)行手工記錄，同時(shí)每個(gè)數(shù)據(jù)需要測(cè)試人員根據(jù)測(cè)試探頭上多個(gè)發(fā)光元件的亮燈情況來(lái)確定，十分容易造成測(cè)試人員判斷出錯(cuò)，另外，由于對(duì)準(zhǔn)度數(shù)據(jù)需要由測(cè)試人員來(lái)手動(dòng)記錄，對(duì)準(zhǔn)度數(shù)據(jù)的記錄效率較低。?

因此，現(xiàn)有技術(shù)中的對(duì)準(zhǔn)度測(cè)試方式存在容易造成測(cè)試人員判斷出錯(cuò)，以?及對(duì)準(zhǔn)度數(shù)據(jù)的記錄效率較低的技術(shù)問(wèn)題。?

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型實(shí)施例通過(guò)提供一種電子設(shè)備，解決了現(xiàn)有技術(shù)中的對(duì)準(zhǔn)度測(cè)試方式存在容易造成測(cè)試人員判斷出錯(cuò)，以及對(duì)準(zhǔn)度數(shù)據(jù)不便于搜集，效率較低的技術(shù)問(wèn)題。?

本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種電子設(shè)備，所述電子設(shè)備包括：測(cè)試探頭，包括至少一個(gè)測(cè)試探針，所述至少一個(gè)測(cè)試探針與待測(cè)印刷電路板上的至少一個(gè)測(cè)試孔對(duì)應(yīng)，所述待測(cè)印刷電路板至少包括三層電路層，所述至少一個(gè)測(cè)試孔中每個(gè)測(cè)試孔對(duì)應(yīng)于一對(duì)準(zhǔn)度值；測(cè)試探頭接口，與所述測(cè)試探頭連接；處理芯片，通過(guò)所述測(cè)試探頭接口與所述測(cè)試探頭相連，用于記錄所述至少一個(gè)探針對(duì)所述至少一個(gè)測(cè)試孔的測(cè)試結(jié)果，并在所述至少一個(gè)探針中第一探針對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果為導(dǎo)通時(shí)，確定所述印刷電路板的對(duì)準(zhǔn)度大于所述至少一個(gè)測(cè)試孔中第一測(cè)試孔對(duì)應(yīng)的第一對(duì)準(zhǔn)度值，在所述第一探針對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果為斷開(kāi)時(shí)，確定所述印刷電路板的對(duì)準(zhǔn)度小于所述第一對(duì)準(zhǔn)度值，其中，所述第一探針與所述第一測(cè)試孔對(duì)應(yīng)。?

可選地，所述測(cè)試探頭還包括一接地探針，所述接地探針與所述印刷電路板上的接地孔相對(duì)應(yīng)。?

可選地，所述測(cè)試探頭還包括一定位針，所述定位針與所述待測(cè)印刷電路板上的定位孔相對(duì)應(yīng)。?

可選地，所述電子設(shè)備還包括一顯示芯片，所述顯示芯片與所述處理芯片相連，所述顯示芯片用于將所述測(cè)試結(jié)果顯示在與所述電子設(shè)備相連的顯示裝置上。?

可選地，所述電子設(shè)備還包括一存儲(chǔ)體，所述存儲(chǔ)體與所述處理芯片相連，所述存儲(chǔ)體用于存儲(chǔ)所述測(cè)試結(jié)果。?

本實(shí)用新型實(shí)施例中提供的一個(gè)或多個(gè)技術(shù)方案，至少具有如下技術(shù)效果?或優(yōu)點(diǎn)：?

由于采用了通過(guò)測(cè)試探頭接口與測(cè)試探頭相連的處理芯片來(lái)記錄測(cè)試探頭上的至少一個(gè)探針對(duì)待測(cè)印刷電路板上至少一個(gè)測(cè)試孔的測(cè)試結(jié)果，并根據(jù)測(cè)試結(jié)果確定待測(cè)印刷電路板的對(duì)準(zhǔn)度的技術(shù)方案，不需要測(cè)試人員根據(jù)測(cè)試探頭上發(fā)光元件的亮燈情況來(lái)確定對(duì)準(zhǔn)度數(shù)據(jù)，同時(shí)對(duì)準(zhǔn)度數(shù)據(jù)也不需要由測(cè)試人員來(lái)手動(dòng)記錄，所以解決了現(xiàn)有技術(shù)中的對(duì)準(zhǔn)度測(cè)試方式存在容易造成測(cè)試人員判斷出錯(cuò)，以及對(duì)準(zhǔn)度數(shù)據(jù)的記錄效率較低的技術(shù)問(wèn)題，實(shí)現(xiàn)了提高待測(cè)印刷電路板的對(duì)準(zhǔn)度測(cè)試的準(zhǔn)確度，以及提高了對(duì)準(zhǔn)度的記錄效率的技術(shù)效果，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)了節(jié)省測(cè)試印刷電路板準(zhǔn)確度的時(shí)間，提高印刷電路板的生產(chǎn)效率的技術(shù)效果。?

附圖說(shuō)明

圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的電子設(shè)備的功能模塊圖；?

圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的測(cè)試探頭的切面示意圖；?

圖3為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的待測(cè)印刷電路板上的測(cè)試圖形的示意圖。?

具體實(shí)施方式

本實(shí)用新型實(shí)施例通過(guò)提供一種電子設(shè)備，解決了現(xiàn)有技術(shù)中的對(duì)準(zhǔn)度測(cè)試方式存在容易造成測(cè)試人員判斷出錯(cuò)，以及對(duì)準(zhǔn)度數(shù)據(jù)的記錄效率較低的技術(shù)問(wèn)題。?

本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案為解決上述技術(shù)問(wèn)題，總體思路如下：?