[實(shí)用新型]一種電子設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201320639223.3
• 申請日: 2013-10-16
• 公開（公告）號: CN203519782U
• 公開（公告）日: 2014-04-02
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 黃建忠;舒明
• 申請（專利權(quán)）人: 北大方正集團(tuán)有限公司;重慶方正高密電子有限公司;方正信息產(chǎn)業(yè)控股有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京同達(dá)信恒知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11291
• 代理人: 黃志華

1.一種電子設(shè)備，其特征在于，所述電子設(shè)備包括：

測試探頭，包括至少一個測試探針，所述至少一個測試探針與待測印刷電路板上的至少一個測試孔對應(yīng)，所述待測印刷電路板至少包括三層電路層，所述至少一個測試孔中每個測試孔對應(yīng)于一對準(zhǔn)度值；

測試探頭接口，與所述測試探頭連接；

處理芯片，通過所述測試探頭接口與所述測試探頭相連，用于記錄所述至少一個探針對所述至少一個測試孔的測試結(jié)果，并在所述至少一個探針中第一探針對應(yīng)的測試結(jié)果為導(dǎo)通時，確定所述印刷電路板的對準(zhǔn)度大于所述至少一個測試孔中第一測試孔對應(yīng)的第一對準(zhǔn)度值，在所述第一探針對應(yīng)的測試結(jié)果為斷開時，確定所述印刷電路板的對準(zhǔn)度小于所述第一對準(zhǔn)度值，其中，所述第一探針與所述第一測試孔對應(yīng)。

2.如權(quán)利要求1所述的電子設(shè)備，其特征在于，所述測試探頭還包括一接地探針，所述接地探針與所述印刷電路板上的接地孔相對應(yīng)。

3.如權(quán)利要求1所述的電子設(shè)備，其特征在于，所述測試探頭還包括至少一個定位針，所述定位針與所述待測印刷電路板上的定位孔相對應(yīng)。

4.如權(quán)利要求1-3中任一權(quán)項(xiàng)所述的電子設(shè)備，其特征在于，所述電子設(shè)備還包括一顯示芯片，所述顯示芯片與所述處理芯片相連，所述顯示芯片用于將所述測試結(jié)果顯示在與所述電子設(shè)備相連的顯示裝置上。

5.如權(quán)里要求1-3中任一權(quán)項(xiàng)所述的電子設(shè)備，其特征在于，所述電子設(shè)備還包括一存儲體，所述存儲體與所述處理芯片相連，所述存儲體用于存儲所述測試結(jié)果。