[實(shí)用新型]一種掃描電鏡用薄片試樣夾具有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201320556474.5 | 申請(qǐng)日： | 2013-09-09 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN203534991U | 公開（公告）日： | 2014-04-09 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 張彥文;王志奮;吳立新;陳士華;周元貴;許竹桃 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 武漢鋼鐵（集團(tuán)）公司 |
| 主分類號(hào)： | G01N23/22 | 分類號(hào)： | G01N23/22;G01N23/203 |
| 代理公司： | 湖北武漢永嘉專利代理有限公司 42102 | 代理人： | 段姣姣 |
| 地址： | 430080 湖北*** | 國(guó)省代碼： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 掃描電鏡 薄片 試樣 夾具 | ||
【權(quán)利要求書】：
1.一種掃描電鏡用薄片試樣夾具，其特征在于：其由底座、在底座長(zhǎng)度方向兩端各連接的封板、連接于封板上的凹槽、由兩個(gè)凹槽形成的槽形滑道、裝在槽形滑道內(nèi)的滑塊、滑塊上通過(guò)螺紋通孔連接的螺栓、底座與滑塊之間的間隙組成。
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- 專利分類
G01 測(cè)量；測(cè)試
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料，例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射，例如，用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu)；利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料，例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射，例如，用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu)；利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
