[實(shí)用新型]一種半導(dǎo)體光電特性測(cè)試盒有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201320531409.7 | 申請(qǐng)日: | 2013-08-28 |
| 公開(公告)號(hào): | CN203415813U | 公開(公告)日: | 2014-01-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳凱飛 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 長(zhǎng)貝光電(武漢)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01S5/00 | 分類號(hào): | H01S5/00;G01R31/26;G01M11/02 |
| 代理公司: | 北京輕創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11212 | 代理人: | 楊立 |
| 地址: | 430074 湖北省武漢市東湖*** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 半導(dǎo)體 光電 特性 測(cè)試 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及半導(dǎo)體激光器技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種半導(dǎo)體光電特性測(cè)試盒。
背景技術(shù)
半導(dǎo)體激光器具有體積小、重量輕、電光轉(zhuǎn)換效率高、性能穩(wěn)定、可靠性高和壽命長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn),被廣泛應(yīng)用于通信、計(jì)算機(jī)、影視、制造業(yè)、航天航空、醫(yī)療等領(lǐng)域,已經(jīng)成為光電行業(yè)最有前途的領(lǐng)域。對(duì)半導(dǎo)體激光器的性能參數(shù)進(jìn)行測(cè)試和表征是掌握激光器特性的關(guān)鍵,同時(shí)也是判斷激光器好壞的重要依據(jù)。對(duì)半導(dǎo)體激光器測(cè)試的性能參數(shù)包括LIV(功率-電流-電壓)、波長(zhǎng)、光譜等,其中LIV測(cè)試是半導(dǎo)體激光器的基本測(cè)試項(xiàng)目。
根據(jù)LIV特性測(cè)試原理要求,激光器需保證在黑暗的環(huán)境中,避免或最大的減少外界光源、光線對(duì)測(cè)試結(jié)果的干擾;另外光敏面與積分球探測(cè)器光敏面的同軸對(duì)稱情況及兩者之間的焦距都決定了測(cè)試結(jié)果的可靠性與一致性;所以設(shè)計(jì)與半導(dǎo)體激光器測(cè)試相匹配的測(cè)試盒或測(cè)試裝置尤為必要。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是針對(duì)半導(dǎo)體激光器特性測(cè)試要求,提供了一種半導(dǎo)體光電特性測(cè)試盒。
本實(shí)用新型解決上述技術(shù)問題的技術(shù)方案如下:一種半導(dǎo)體光電特性測(cè)試盒,包括測(cè)試盒主體,與所述測(cè)試盒主體相配合的前板、前蓋板、蓋板、后板、后蓋板,所述前板上帶有前板插座定位通孔用于固定測(cè)試盒插座,所述測(cè)試盒插座上固定有發(fā)射激光器,所述發(fā)射激光器通過導(dǎo)線通孔中的閉環(huán)線路連接,形成一個(gè)封閉的測(cè)試系統(tǒng);所述前板通過前板配合凸出結(jié)構(gòu)與所述測(cè)試盒主體配合連接,所述前板帶有前板插針孔用于前板與測(cè)試盒主體的位置固定,所述前板還帶有前板定位通孔、前蓋板定位螺孔用于前板與前蓋板的位置固定;后板上設(shè)置有積分探測(cè)器,通過壓筒與蓋板配合連接,蓋板與后板配合凹槽結(jié)構(gòu)配合連接,后板配合凸出結(jié)構(gòu)與測(cè)試盒主體配合連接,使積分探測(cè)器處于位置鎖定狀態(tài),后蓋板帶有后蓋定位螺孔用于后蓋板與測(cè)試盒主體的位置固定。
在上述技術(shù)方案的基礎(chǔ)上,本實(shí)用新型還可以做如下改進(jìn)。
進(jìn)一步,所述測(cè)試盒主體具有測(cè)試盒主體后板定位螺孔、測(cè)試盒主體同軸安裝結(jié)構(gòu)、導(dǎo)線通孔、測(cè)試盒主體后蓋定位螺孔、測(cè)試盒主體后板配合凹槽結(jié)構(gòu)、測(cè)試盒主體插針孔、測(cè)試盒主體前板配合凹槽結(jié)構(gòu)。
其中,所述測(cè)試盒主體后板配合凹槽結(jié)構(gòu)用于后板的配合連接,所述測(cè)試盒主體后板定位螺孔用于測(cè)試盒主體與后板位置固定,所述測(cè)試盒主體后蓋定位螺孔用于測(cè)試盒主體與后蓋板的位置固定,所述測(cè)試盒主體上的導(dǎo)線通孔用于發(fā)射激光器、積分探測(cè)器的線路通道;所述測(cè)試盒主體前板配合凹槽結(jié)構(gòu)用于前板的配合連接,所述測(cè)試盒主體插針孔用于測(cè)試盒主體與前板的位置固定;所述測(cè)試盒主體同軸安裝結(jié)構(gòu)與后板同軸安裝結(jié)構(gòu),前板同軸安裝結(jié)構(gòu),形成同軸結(jié)構(gòu)。
進(jìn)一步,所述測(cè)試盒插座包括插座口、導(dǎo)軌、推條、拔桿,所述測(cè)試盒插座口9為多插針孔結(jié)構(gòu),所述圓柱形插座軸心帶有與所述測(cè)試盒主體同軸安裝結(jié)構(gòu)同軸的圓孔,作為插座同軸安裝結(jié)構(gòu),保證光路。
進(jìn)一步,所述前板帶有與測(cè)試盒主體相配合連接的前板配合凸出結(jié)構(gòu),前板配合凸出結(jié)構(gòu)壁上帶有兩個(gè)對(duì)稱的插座定位螺孔,用于固定測(cè)試盒插座與發(fā)射激光器。所述測(cè)試盒前板帶有前板定位通孔、前板插針孔,前板定位通孔用于前板與前蓋板的位置固定,前板插針孔用于前板與測(cè)試盒主體的位置固定,前板同軸安裝結(jié)構(gòu)與測(cè)試盒主體同軸安裝結(jié)構(gòu)形成同軸結(jié)構(gòu),保證光路。
所述前蓋板帶有前蓋板定位螺孔,用于前蓋板與前板的位置固定。
進(jìn)一步,所述后板的一端帶有與蓋板相配合連接的后板配合凹槽結(jié)構(gòu),另外一端帶有與測(cè)試盒主體相配合連接的后板配合凸出結(jié)構(gòu)。所述后板帶有后板定位通孔用于后板與測(cè)試盒主體的位置固定,所述后板還帶有后板定位螺孔用于后板與蓋板的位置固定,其中,后板同軸安裝結(jié)構(gòu)與測(cè)試盒主體同軸安裝結(jié)構(gòu)形成同軸結(jié)構(gòu),保證光路。
進(jìn)一步,所述蓋板中心帶有一圓孔作為蓋板同軸安裝結(jié)構(gòu),中心圓孔周圍對(duì)稱分布四個(gè)圓孔,作為積分探測(cè)器定位螺孔,在圓形測(cè)試盒蓋板邊緣處帶有兩個(gè)與后板定位螺孔相對(duì)應(yīng)的圓孔,作為蓋板定位螺孔。
進(jìn)一步,所述壓筒為圓柱形結(jié)構(gòu),軸心帶有與蓋板同軸安裝結(jié)構(gòu)同軸的圓孔,作為壓筒同軸安裝結(jié)構(gòu),保證光路。
進(jìn)一步,所述后蓋板帶有后蓋定位螺孔,用于后蓋板與測(cè)試盒主體的位置固定,后蓋板還帶有航空插座定位螺孔、后蓋插座孔,用于航空插座的位置固定與儀器的連接。
進(jìn)一步,所述插針為圓柱長(zhǎng)條形狀,用于前板與測(cè)試盒主體的位置固定。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于長(zhǎng)貝光電(武漢)有限公司,未經(jīng)長(zhǎng)貝光電(武漢)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201320531409.7/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 特性評(píng)價(jià)裝置以及特性評(píng)價(jià)方法
- 表面特性檢查裝置、表面特性檢查系統(tǒng)以及表面特性檢查方法
- 特性評(píng)價(jià)裝置、特性評(píng)價(jià)系統(tǒng)、特性評(píng)價(jià)方法和特性評(píng)價(jià)程序
- 噴嘴特性
- 取向特性測(cè)定方法、取向特性測(cè)定程序及取向特性測(cè)定裝置
- 光學(xué)特性測(cè)定方法以及光學(xué)特性測(cè)定系統(tǒng)
- 表面特性評(píng)價(jià)方法、表面特性評(píng)價(jià)裝置以及表面特性評(píng)價(jià)系統(tǒng)
- 特性判定裝置、特性判定方法以及特性判定程序
- 特性評(píng)估系統(tǒng)、特性評(píng)估方法和程序
- 特性測(cè)量裝置和特性測(cè)量方法
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法





