[實用新型]一種半導體光電特性測試盒

有效

• 申請號: 201320531409.7
• 申請日: 2013-08-28
• 公開（公告）號: CN203415813U
• 公開（公告）日: 2014-01-29
• 發明（設計）人: 陳凱飛
• 申請（專利權）人: 長貝光電（武漢）有限公司
• 主分類號: H01S5/00
• 分類號: H01S5/00;G01R31/26;G01M11/02
• 代理公司: 北京輕創知識產權代理有限公司 11212
• 代理人: 楊立

1.一種半導體光電特性測試盒，包括測試盒主體，與所述測試盒主體相配合的前板、前蓋板、蓋板、后板、后蓋板，所述前板上帶有前板插座定位通孔用于固定測試盒插座，所述測試盒插座上固定有發射激光器，所述發射激光器通過導線通孔中的閉環線路連接，形成一個封閉的測試系統；所述前板通過前板配合凸出結構與所述測試盒主體配合連接，所述前板帶有前板插針孔用于前板與測試盒主體的位置固定，所述前板還帶有前板定位通孔、前蓋板定位螺孔用于前板與前蓋板的位置固定；后板上設置有積分探測器，通過壓筒與蓋板配合連接，蓋板與后板配合凹槽結構配合連接，后板配合凸出結構與測試盒主體配合連接，使積分探測器處于位置鎖定狀態，后蓋板帶有后蓋定位螺孔用于后蓋板與測試盒主體的位置固定。

2.根據權利要求1所述一種半導體光電特性測試盒，其特征在于：所述測試盒主體具有測試盒主體后板定位螺孔、測試盒主體同軸安裝結構、導線通孔、測試盒主體后蓋定位螺孔、測試盒主體后板配合凹槽結構、測試盒主體插針孔、測試盒主體前板配合凹槽結構。

3.根據權利要求1所述一種半導體光電特性測試盒，其特征在于：所述測試盒前板帶有前板配合凸出結構，所述前板配合凸出結構壁上帶有兩個對稱定位螺孔，所述測試盒前板還帶有前板定位通孔、前板插針孔、前板同軸安裝結構。

4.根據權利要求1所述一種半導體光電特性測試盒，其特征在于：所述測試盒插座包括插座口、導軌、推條、拔桿，圓柱形插座軸心帶有與所述測試盒主體同軸安裝結構同軸的圓孔。

5.根據權利要求1所述一種半導體光電特性測試盒，其特征在于：所述蓋板中心帶有一圓孔，中心圓孔周圍對稱分布四個圓孔，在圓形測試盒蓋板邊緣處帶有兩個與后板定位螺孔相對應的圓孔。

6.根據權利要求1所述一種半導體光電特性測試盒，其特征在于：所述后板的一端帶有與蓋板相配合連接的后板配合凹槽結構，另外一端帶有與測試盒主體相配合連接的后板配合凸出結構；所述后板還帶有后板定位通孔、后板定位螺孔、后板同軸安裝結構。

7.根據權利要求1所述一種半導體光電特性測試盒，其特征在于：壓筒為圓柱形結構，軸心帶有與蓋板同軸安裝結構同軸的圓孔。

8.根據權利要求1所述一種半導體光電特性測試盒，其特征在于：所述測試盒前蓋板帶有前蓋板定位螺孔，后蓋板帶有后蓋定位螺孔、航空插座定位螺孔、后蓋插座孔。