[實用新型]一種單光束雙工位大量程激光粒度測量裝置

有效

• 申請號: 201320483270.3
• 申請日: 2013-08-08
• 公開（公告）號: CN203365279U
• 公開（公告）日: 2013-12-25
• 發明（設計）人: 任中京;陳棟章
• 申請（專利權）人: 濟南微納顆粒儀器股份有限公司
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02
• 代理公司: 山東眾成仁和律師事務所 37229
• 代理人: 牟迅

1.一種單光束雙工位大量程激光粒度測量裝置，包括一用于發射激光的激光器（1），激光器（1）的后端按照激光光路的前進方向依次設置有擴束鏡（2）、傅里葉透鏡（4）、用于改變激光光路方向的光學組件、光電探測器陣列（10），一樣品窗（6），其特征在于，所述傅里葉透鏡（4）和光學組件之間設有第一工位（12），所述光學組件和光電探測器陣列（10）之間設有第二工位（9），所述樣品窗（6）在所述第一工位（12）和第二工位（9）之間相對移動。

2.根據權利要求1所述的一種單光束雙工位大量程激光粒度測量裝置，其特征在于，所述樣品窗（6）、第一工位（12）和第二工位（9）均與激光光路主軸正交。

3.根據權利要求2所述的一種單光束雙工位大量程激光粒度測量裝置，其特征在于，第一工位(12)和第二工位(9)在同一直線上。

4.根據權利要求3所述的一種單光束雙工位大量程激光粒度測量裝置，其特征在于，設有與激光光路主軸正交的導軌(5)，樣品窗(6)沿導軌(5)移動。

5.根據權利要求1-4任一權利要求所述的一種單光束雙工位大量程激光粒度測量裝置，其特征在于，所述光學組件由反射鏡(7)和反射鏡(8)構成，反射鏡(7)和反射鏡(8)的反光面相對垂直設置；或者，所述光學組件由直角棱鏡(13)和直角棱鏡(14)構成，直角棱鏡(13)和直角棱鏡(14)的反光斜面相對垂直設置。

6.根據權利要求1-4任一權利要求所述的一種單光束雙工位大量程激光粒度測量裝置，其特征在于，在光電探測器陣列(10)之后，沿激光光路前進方向還設置有保證光束兩次測試都處于嚴格對中狀態的對中系統(11)。

7.根據權利要求1-4任一權利要求所述的一種單光束雙工位大量程激光粒度測量裝置，其特征在于，在擴束鏡(2)和傅里葉透鏡(4)之間還設置有空間濾波器(3)。

8.根據權利要求5所述的一種單光束雙工位大量程激光粒度測量裝置，其特征在于，在擴束鏡(2)和傅里葉透鏡(4)之間還設置有空間濾波器(3)。

9.根據權利要求5所述的一種單光束雙工位大量程激光粒度測量裝置，其特征在于，在光電探測器陣列(10)之后，沿激光光路前進方向還設置有保證光束兩次測試都處于嚴格對中狀態的對中系統(11)。

10.根據權利要求5所述的一種單光束雙工位大量程激光粒度測量裝置，其特征在于，所述反射鏡(7)和反射鏡(8)，或者，直角棱鏡(13)和直角棱鏡(14)，可在激光主軸方向上移動。

11.根據權利要求6所述的一種單光束雙工位大量程激光粒度測量裝置，其特征在于，在擴束鏡(2)和傅里葉透鏡(4)之間還設置有空間濾波器(3)。

12.根據權利要求1-4任一權利要求所述的一種單光束雙工位大量程激光粒度測量裝置，其特征在于，所述樣品窗(6)為中空石英流動池。