[實用新型]一種單光束雙工位大量程激光粒度測量裝置

有效

• 申請號: 201320483270.3
• 申請日: 2013-08-08
• 公開（公告）號: CN203365279U
• 公開（公告）日: 2013-12-25
• 發明（設計）人: 任中京;陳棟章
• 申請（專利權）人: 濟南微納顆粒儀器股份有限公司
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02
• 代理公司: 山東眾成仁和律師事務所 37229
• 代理人: 牟迅

技術領域

本實用新型涉及激光粒度測量裝置，尤其涉及一種單光束激光粒度測量裝置。?

背景技術

目前激光粒度測量裝置擴大量程有兩種途經，1、加長光路長度以獲得更小角度的散射光；此技術以馬爾文為代表。此技術路線的缺點是光路長儀器體積龐大運輸使用均不方便，另外光路上增加很多附加探測器，增加了儀器校準的工作量。2、將光束中心附近的高頻頻譜再次放大，使用第二譜面探測器。此技術以德國辛帕泰克為代表。因為有兩個譜面，光路復雜,使用多個探測器也為儀器測試增加了誤差出現的幾率。

本實用新型提供了一種全新的光路結構，使得激光粒度測試裝置測試范圍增大數倍，而光路長度縮短了1/2——1/3。只用一只激光器一只光電探測器即可實現量程的擴展。本實用新型具有結構簡單，量程大，體積小，測量精度更高，使用更加方便實用的突出優點。

發明內容

本實用新型的目的是提供一種新型光路結構，可以方便地將測量范圍從0.1微米擴大到毫米級顆粒粒度。同時不增加光路長度，不提高設備的復雜程度。

為了解決以上問題本實用新型所采用以下技術方案：

一種單光束雙工位大量程激光粒度測量裝置，包括一用于發射激光的激光器1，激光器1的后端按照激光光路的前進方向依次設置有擴束鏡2、傅里葉透鏡4、用于改變激光光路方向的光學組件、光電探測器陣列10，一樣品窗6，所述傅里葉透鏡4和光學組件之間設有第一工位12，所述光學組件和光電探測器陣列10之間設有第二工位9，所述樣品窗6在所述第一工位12和第二工位9之間相對移動。

作為本實用新型的進一步改進，如上所述的激光粒度測量裝置，所述樣品窗6、第一工位12和第二工位9均與激光光路主軸正交。

作為本實用新型的進一步改進，如上所述的激光粒度測量裝置，第一工位12和第二工位9在同一直線上。

作為本實用新型的進一步改進，如上所述的激光粒度測量裝置，設有與激光光路主軸正交的導軌5，樣品窗6沿導軌5移動。

作為本實用新型的進一步改進，如上所述的激光粒度測量裝置，所述光學組件由反射鏡7和反射鏡8構成，反射鏡7和反射鏡8的反光面相對垂直設置；或者，所述光學組件由直角棱鏡13和直角棱鏡14，直角棱鏡13和直角棱鏡14的反光斜面相對垂直設置。

作為本實用新型的進一步改進，如上所述的激光粒度測量裝置，在光電探測器陣列10之后，沿激光光路前進方向還設置有保證光束兩次測試都處于嚴格對中狀態的對中系統11。

作為本實用新型的進一步改進，如上所述的激光粒度測量裝置，在擴束鏡2和傅里葉透鏡4之間還設置有空間濾波器3。

作為本實用新型的進一步改進，如上所述的激光粒度測量裝置，所述反射鏡7和反射鏡8，或者，直角棱鏡13和直角棱鏡14，可在激光主軸方向上移動。

作為本實用新型的進一步改進，如上所述的激光粒度測量裝置，所述樣品窗6為中空石英流動池。

本實用新型具有以下有益效果：1、采用折疊會聚光路，光路長度大大縮短，樣品窗的移動距離很小，減小了儀器體積；2、測試范圍變化很大，擴大了儀器測量范圍，因此測得的散射譜可以輕易覆蓋0.1微米至數千微米的范圍；3、可移動樣品窗，激光器、探測器與樣品窗重復使用，儀器結構實現了最簡化，大大降低了儀器成本，提高了儀器可靠性；4、在整個量程上全面地提高了顆粒粒度的測試精度；5、本實用新型的操作非常簡單方便，測試一次小于十分鐘。

附圖說明

圖1是本實用新型優選實施方式一的結構示意圖。

圖2是本實用新型優選實施方式二的結構示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖，對本實用新型的具體實施做出詳細的說明。