[實用新型]殼體斜孔斜度測具

有效

• 申請號: 201320457503.2
• 申請日: 2013-07-29
• 公開（公告）號: CN203396343U
• 公開（公告）日: 2014-01-15
• 發明（設計）人: 華文磊
• 申請（專利權）人: 南京金城精密機械有限公司
• 主分類號: G01B5/24
• 分類號: G01B5/24
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及機械加工技術領域，具體是一種測量斜孔斜面的工具。

背景技術

現有的技術對一些斜孔工件斜度測量一般采用輪廓儀。對于圖示產品孔口有深3.65mm的80°±0.25°斜面需測量，孔位的斜度是圖紙要求控制的。由于斜孔淺，產品外形大，輪廓儀在測量時不易找準產品孔的母線，孔的母線不準，測量出來的數據誤差會很大。這樣的測量方法耗時很長，不易測量準確，也不適合大批量的生產需要。

實用新型內容

本實用新型目的在于提供一種改進的殼體斜孔斜度測具，可使復雜的斜孔斜度測量變得簡單易操作。

為達成上述目的，本實用新型所采用的技術方案如下：

一種殼體斜孔斜度測具，包括基體、導向套、測量桿、百分表、百分表支座和具有內斜面的標準樣圈，前述基體具有高出基體1mm的凸臺，該凸臺用于與殼體斜孔的斜面點貼緊，前述標準樣圈可移除地設置在基體下方并且其內斜孔與凸臺貼緊用于將百分表對零，前述百分表在標準樣圈的內斜孔深度為3mm時對零并使得測量桿與殼體斜孔的接觸點的寬度是0.353mm，前述測量桿通過基體上的導向套與殼體斜孔在寬度0.353mm的位置接觸而測量出斜面的深度位置。

進一步，前述標準樣圈內斜面的傾角與殼體斜孔斜度的標準尺寸相同。

進一步，前述標準樣圈內斜面的傾角為80°。

由以上本實用新型的技術方案可知，本實用新型的有益效果在于利用標準樣圈先將百分表對零，百分表在對表樣圈內斜孔深度為3mm時對零，此時測量桿與產品斜孔接觸點的寬度是0.353mm，然后移除標準樣圈再對零件的斜孔斜面進行測量，觀察其讀數差，如果范圍在±0.05（通過對80°±0.25°斜面在寬度0.353時的深度變化計算得出的數據），則為合格品。這樣可使復雜的斜孔斜度測量變得簡單易操作。

附圖說明

圖1a為開利殼體產品的結構示意，圖1b為圖1a中的A部分結構的局部放大示意圖，放大比例是4倍。

圖2為本實施例的斜度測具的結構示意圖。

圖3a和3b為圖2實施例的斜度測具中對零時的局部結構和位置關系示意圖。

圖4為圖2實施例的斜度測具在工作時的檢測示意圖。

具體實施方式

為了更了解本實用新型的技術內容，特舉具體實施例并配合所附圖式說明如下。

如圖2-4所示，根據本實用新型的較優實施例，殼體斜孔斜度測具包括基體1、導向套2、測量桿3、百分表4、百分表支座5和具有內斜面的標準樣圈6，標準樣圈6可移除地設置在基體1的下方，基體1具有高出基體1mm的凸臺7，該凸臺用于與殼體斜孔的斜面點貼緊，標準樣圈4可移除地設置在基體下方并且其內斜孔與凸臺貼緊用于將百分表對零，本實施例中，如圖3a和3b,百分表4在標準樣圈的內斜孔深度為3mm時對零并使得測量桿3與殼體斜孔的接觸點的寬度是0.353mm，在測量殼體斜孔斜度時,移除該標準樣圈，測量桿3通過基體上的導向套與殼體斜孔在寬度0.353mm的位置接觸而測量出斜面的深度位置。

標準樣圈6內斜面的傾角與殼體斜孔斜度的標準尺寸相同。本實施例中，參考圖1，待測殼體斜孔的斜面的標準尺寸為80°，標準樣圈內斜面的傾角為80°。

參考圖3a、3b和圖4所示，在測量時，先在標準樣圈上測量，將百分表4對零，獲得測量桿與斜孔之間接觸點的固定寬度是0.353mm，然后移除標準樣圈6，開始測量殼體P的斜孔斜度，測量桿3通過基體上的導向套與殼體斜孔在寬度0.353mm的位置接觸而測量出斜面的深度位置，此時百分表讀數差在±0.05（通過對80°±0.25°斜面在寬度0.353mm時的深度變化計算得出的數據）內的零件為合格品，否則為不合格品。

綜上所述，本實用新型的殼體斜孔斜度測具利用標準樣圈先將百分表對零，此時將獲得測量桿與斜孔之間接觸點的固定寬度，然后移除對零用的標準樣圈，再根據前面獲得的固定寬度對待測殼體的斜孔斜面進行測量，通過觀察百分表的讀數差從而檢測出殼體斜孔的斜度是否合格，也即百分表讀數差在±0.05（通過對80°±0.25°斜面在寬度0.353時的深度變化計算得出的數據）內的零件為合格品，否則為不合格品。這樣可使復雜的內孔斜度測量變得簡單易操作。

雖然本實用新型已以較佳實施例揭露如上，然其并非用以限定本實用新型。本實用新型所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本實用新型的精神和范圍內，當可作各種的更動與潤飾。因此，本實用新型的保護范圍當視權利要求書所界定者為準。